漆膜测厚仪校验规程

XXXXXXX有限公司文件编号QC/LY-3-82-20-09版次A品保部工作文件修改状态0漆膜测厚仪校验规程页数第1页共1页1校验条件1.1温度20±5℃，相对湿度50%-80%。1.2标准箔片47.8μm±1%、98.6μm±1%、257.2μm±1%、489μm±1%、1002μm±1%厚。2校验过程2.1取以上各种厚度的校准箔片在未涂层的基体上，各测量5次，计算出测量平均值。2.2显示值与标准箔片厚度值不符，用“Δ”和“▽”键改变显示值直到显示值与标准箔片厚度一致。2.3按CAL键，校正结束。4判定示值误差，在±1%范围内为合格。5对校验过程进行记录并将记录填写在《监视和测量设备校验记录》上。6对校验合格的漆膜测量仪贴合格证标签，不合格的则进行修理、调试，完后重新校验。7校验周期为一年。涉及表单：监视和测量设备校准记录。