薄膜分析薄膜检测材料分析

薄膜分析薄膜检测材料分析由薄膜上、下表面反射（或折射）光束相遇而产生的干涉．薄膜通常由厚度很小的透明介质形成．如肥皂泡膜、水面上的油膜、两片玻璃间所夹的空气膜、照相机镜头上所镀的介质膜等．比较简单的簿膜干涉有两种，一种称做等厚干涉，这是由平行光入射到厚度变化均匀、折射率均匀的薄膜上、下表面而形成的干涉条纹．薄膜厚度相同的地方形成同条干涉条纹，故称等厚干涉．牛顿环和楔形平板干涉都属等厚干涉．另一种称做等倾干涉．当不同倾角的光入射到折射率均匀，上、下表面平行的薄膜上时，同一倾角的光经上、下表面反射（或折射）后相遇形成同一条干涉条纹，不同的干涉明纹或暗纹对应不同的倾角，这种干涉称做等倾干涉．等倾干涉一般采用扩展光源，并通过透镜观察．薄膜沉积技术将金属薄层沉积到衬底或之前获得的薄层的技术称为表面沉积。这里的“薄”是一个相对的概念，但大多数的沉积技术都可以将薄层厚度控制在几个到几十纳米尺度的范围内，分子束外延技术可以得到单一原子层的结构。沉积技术在光学仪器（消反射膜，减反射膜，自清洁表面等）、电子技术（薄膜电阻，半导体，集成电路）、包装和现代艺术都有应用。在对薄膜厚度要求不高时，类似于沉积的技术常常被使用。例如：用电解法提纯铜，硅沉积，铀的提纯中都用到了类似于化学气象沉积的过程。沉积技术根据其使用的主要原理可分为两大类：物理沉积和化学沉积。选购技巧市场上的薄膜品种很多，但最常用的印刷膜有BOPP，NY，PET，PE。就印刷而言，最重要的当然是薄膜的表面处理效果，NY膜是否受潮。印刷时应该制定对膜的表面张力一个膜卷一测的工艺要求。电晕效果具有时效性，放置过长时间，电晕效果可能下降幅度太多达不到印刷的要求；也可以避免由于不小心弄反膜面印刷的故障隐患。PE膜是我们重点要关注的对象：吹膜时可能有膜卷漏掉电晕处理的；膜厚度过大或不均匀引起电晕效果不够；吹膜是加入太多的爽滑剂或高爽滑粒料比例过大引起电晕效果大幅度下降。12~15umPET膜出现两面的电晕效果相差不大时，科标检测专业检测薄膜。印刷膜的电晕要求：BOPP，PE≥38达因，PET≥50达因，NY≥52达因。NY膜吸水后并不会对电晕效果产生较大影响，判断NY膜是否吸水看膜有无收缩起趋现象，剪一张膜放进烘箱几个小时，手感是否发硬，如果有起趋，发硬等现象，则该NY膜吸水过多。在采购薄膜一定要向供应商说明该膜的用途和要求，薄膜品种细化，光说PET，NY，BOPP名字，供应商就可能有好几个品种，但不一定都适合。检测项目1、阻隔性能：有机气体透过率、包装膜高低温气体透过率、氧气透过率、二氧化碳气体透过率、氮气透过率、空气透过率等；2、机械性能：拉伸强度与伸长率、剥离强度、热合强度、冲击强度、撕裂强度、摩擦系数、耐蒸煮测试、包装密封性能；3、卫生性能：溶剂残留、邻苯类增塑剂、重金属含量、相容性、高锰酸钾消耗量等；4、缓冲材料的缓冲性能：静压力、动态冲击、振动传递率、永久变形部分标准GB/T8753.4-2005铝及铝合金阳极氧化氧化膜封孔质量的评定方法第4部分：酸处理后的染色斑点法GB/T8809-2015塑料薄膜抗摆锤冲击试验方法GB/T9639.1-2008塑料薄膜和薄片抗冲击性能试验方法自由落镖法第1部分：梯级法GB/T9791-2003锌、镉、铝-锌合金和锌-铝合金的铬酸盐转化膜试验方法GB/T9792-2003金属材料上的转化膜-单位面积膜质量的测定-重量法GY/T10-1983塑料薄膜立体声唱片GY/T103-1991塑料薄膜唱片HG2346-1992广播录音磁带用聚酯薄膜HG/T2348-1992磁带用聚酯薄膜表面粗糙度的测量触针法HG/T2538-1993磁带用聚酯薄膜拉伸性能测定方法HG3319-1979聚氯乙烯薄膜胶粘剂HG/T3319-1983聚氯乙烯薄膜胶粘剂HG/T4139-2010压敏胶粘制品用防粘材料HG/T4150-2010偏光片用三醋酸纤维素酯（TAC）薄膜HG/T4185-2011偏光片用聚乙烯醇（PVA）薄膜HG/T4288-2012偏光眼镜用三醋酸纤维素酯（TAC）薄膜HG/T4299-2012搪玻璃薄膜蒸发器结构形式和基本参数HG/T4302-2012耐候阻隔绝缘性功能薄膜HG/T4303-2012表面硬化聚酯薄膜耐磨性测定方法HG/T4357-2012薄膜晶体管液晶显示器（TFT-LCD）用偏光片HG/T4607-2014光学级聚酯薄膜预涂底层聚对苯二甲酸乙二醇酯(PET)薄膜HG/T4608-2014光学功能薄膜颜色的测量方法GB/T31727-2015透明薄膜磨花程度试验方法GB/T31729-2015塑料薄膜单位面积质量试验方法GB/T31958-2015薄膜晶体管液晶显示器用基板玻璃GB/T32021-2015双向拉伸聚丙烯消光薄膜GB/T3830-2008软聚氯乙烯压延薄膜和片材GB4455-2006农业用聚乙烯吹塑棚膜GB/T4456-2008包装用聚乙烯吹塑薄膜GB/T5019.6-2007以云母为基的绝缘材料第6部分:聚酯薄膜补强B阶环氧树脂粘合云母带GB/T5019.7-2009以云母为基的绝缘材料第7部分：真空压力浸渍（VPI）用玻璃布及薄膜补强环氧树脂粘合云母带GB/T5019.9-2009以云母为基的绝缘材料第9部分：单根导线包绕用环氧树脂粘合聚酯薄膜云母带GB51136-2015薄膜晶体管液晶显示器工厂设计规范GB/T5304-2001石油沥青薄膜烘箱试验法GB/T6616-2009半导体硅片电阻率及硅薄膜薄层电阻测试方法非接触涡流法GB/T6672-2001塑料薄膜和薄片厚度测定机械测量法GB/T6673-2001塑料薄膜和薄片长度和宽度的测定GB/T6749-1997漆膜颜色表示方法GB/T7672.6-2008玻璃丝包绕组线第6部分：玻璃丝包薄膜绕包铜扁线GB/T8014.1-2005铝及铝合金阳极氧化氧化膜厚度的测量方法第1部分：测量原则GB/T8014.2-2005铝及铝合金阳极氧化氧化膜厚度的测量方法第2部分：质量损失法GB/T8014.3-2005铝及铝合金阳极氧化氧化膜厚度的测量方法第3部分：分光束显微镜法GB/T8050-2007聚丙烯单丝或薄膜绳索特性GB/T8752-2006铝及铝合金阳极氧化薄阳极氧化膜连续性检验方法硫酸铜法