电测法基本原理.

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资源描述

一、电阻应变片引出线电阻丝(丝栅)基底由试验发现:l应变片FFl+DlllKRRDDKK——电阻应变片的灵敏度系数应变片:将力学量(应变)转换为电量(电阻)的传感器电阻应变片种类:丝式(绕线式)、箔式、半导体式电测法基本原理二、电阻应变仪应变测量原理:利用电桥平衡测量电阻改变,从而进一步得到应变。BADCER1R2R3R4电桥平衡(UBD=0):4231RRRR若R1~R4为四个阻值相同应变片,受力后,BD间电压改变为:)(444332211RRRRRRRREUBDDDDD)(44321KE电测法基本原理两种接法中的应变片型号、阻值尽可能相同或接近,固定电阻与应变片阻值也应接近。1.电桥接法:由于温度对电阻值变化影响很大,利用电桥特性,可以采用适当的方法消除这种影响。三、电桥接法及温度补偿2.温度补偿:全桥接法(四个电阻均为应变片);半桥接法(R1、R2为应变片,R3、R4为固定电阻)电测法基本原理BADCER1R2R3R4工作片温度补偿片固定电阻相同应变片R1、R2,R1贴在构件受力处,R2贴在附近不受力处,环境温度对R1、R2引起的阻值变化相同,为DRT,则)(4211RRRRREUTTBDDDD114)(4KEKETT电测法基本原理FF1.单向应力状态四、几种常见应力状态下的布片方式及应力计算轴向拉压、纯弯曲、横力弯曲上下缘FFR1R211ER1R2温度自补偿,测量电压得到有效放大:)(421TTBDKEU1)1(4KE电测法基本原理2.已知主应力方向的二向应力状态扭转、横力弯曲的中性轴、均匀内压的薄壁圆筒R1R245o45o13111E沿已知主应力方向贴片,采用温度自补偿的半桥接法电测法基本原理)(421TTBDKEU12KE3.不知主应力方向的二向应力状态45o—3应变花:29045245090031)()()1(2)()1(2EE)()()()(2tan45090454509045090o0o45o电测法基本原理120o0o60o60o—3应变花:20120212060260012060031)()()()1(32)()1(3EE)()()()(32tan600120060012000电测法基本原理2.YJ28A—P1OR型静态数字电阻应变仪。一、实验目的1.测定纯弯曲下矩形截面梁横截面上正应力的分布规律,并与理论值比较;2.熟悉电测法基本原理和电阻应变仪的使用。二、实验仪器1.纯弯曲试验装置;矩形截面梁的纯弯曲三、试验原理1.结构示意图及理论值计算hbFF/2F/2aa+FQF/2F/2MFa/2+mmm—m截面:)(0Q常数CMF——纯弯曲zIyM理zy矩形截面梁的纯弯曲2.布片示意图及试验值00111'1'222'2'温度补偿片DFE实3.等量逐级加载法:DDEIyMz实理矩形截面梁的纯弯曲一、试验目的1.用电测法测定平面应力状态下一点主应力的大小及方向;2.测定薄壁圆管在弯扭组合变形作用下,分别由弯矩、剪力和扭矩所引起的应力。二、试验仪器1.弯扭组合试验装置;2.YJ28A—P1OR型静态数字电阻应变仪。薄壁圆筒的弯扭组合变形三、试验原理1.结构示意图alFIII-I截面dD220dDtdDRFFFlMFaTQI-I截面内力:薄壁圆筒的弯扭组合变形2.布片示意图ABCDA、B、C、D四点各贴45o、0o、45o应变花DR12R11R10CR9R8R7BR6R5R4AR3R2R1约定蓝线应变片为45o,白线为0o,绿线为45o薄壁圆筒的弯扭组合变形])()(21)(21[1245020454545231E主应力大小:主应力方向:)()(2tan0454504545是主应力与圆管轴线的夹角3.等量逐级加载法4.指定点(B、D)的主应力大小及方向共用温度补偿片的半桥接法,一个载荷水平下分别测B、D两点6个应变片的应变值1)实验值:薄壁圆筒的弯扭组合变形2)理论值(以B点为例):BttpWTWMBzBtFaTFlMBB内力应力按平面应力状态分析得到:1、2、3、0分别与试验值比较薄壁圆筒的弯扭组合变形5.弯矩、扭矩及剪力各自引起应力的测量1)由于电桥特性均可以自补偿,不需要温度补偿片2)弯矩M对应的正应力测量BADCR5R11oB0oD0取圆筒上下(B、D)两点0o应变片接成半桥线路)(115RRBDUMTMTM2)]()[()(2MBDU测量值:22MMMEE,薄壁圆筒的弯扭组合变形TQttt3)扭矩T对应的切应变测量取圆筒前后(A、C)两点45o、45o四个应变片接成全桥线路)(7913RRRRBDUTTQTQTQTQ4)]()()()[(BADCR3R1oA45oA45R7R9oC45oC45R3R1AR7R9CFQTt3t1TQtttt3t1AC薄壁圆筒的弯扭组合变形)(4TBDU测量值:)1(422TTTTtEG,2)1(21)(11)]([1)(1TTTTTT31TtttEEGEEEE由胡克定律得TttT3tT1t薄壁圆筒的弯扭组合变形4)剪力FQ对应的切应变的测量仍取A、C两点45o、45o四个应变片接成全桥线路,与3)不同在于R9、R7换位)(9713RRRRBDUQTQTQTQTQ4)]()()()[()(4QBDU测量值:)1(422QQQQtEG,BADCR3R1oA45oA45R9R7oC45oC45R3R1AR7R9CFQT薄壁圆筒的弯扭组合变形DDDDDDFFFlMFaTQ1)I-I截面内力增量:DDDDDD)/()(/)(/)(0QmaxQpmaxTmaxMtRFWTWMztt6.相关理论值计算2)I-I截面应力增量:DDDDDDDDDmaxQQmaxTTmaxMM)(22')(22)(22'ttGGE3)应变增量:薄壁圆筒的弯扭组合变形aa6.纯剪切应力状态与1关系的另一推导xDlall211Dalx122D12ax薄壁圆筒的弯扭组合变形

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