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一，选择题：1.X射线衍射的简写：XRD2.X射线的分析方法，最广泛：德拜—谢乐法3.X射线谱分析，峰位的确定：峰顶法4.JCPDS：字顺索引5.电子探针显微的缩写：EPMA6.电子透镜受衍射效应和球差7.透射电镜用透射电子来成像8.式样小于200nm对于透射电镜是透明的9.扫描电镜用不同的信号成像，分辨率最高的是二次电子10.差热分析的缩写是DTA二，名词解释1.连续X射线：高速电子被突然阻止时，将有电磁辐射产生，大部分能量以热的形式放出，只有小部分以一个或几个光量子的形式存在，因它们的能量大小不同，使X射线波长呈连续分布，故称连续X射线。2.特征X射线：高速运动的电子激发靶材中原子的核外电子，使其变成光电子，原子处于激发态，则高能级电子跃迁到低能级，多余能量以X射线形式释放出来，形成特征X射线，其波长一定。3.磁透镜：采用磁场使电子束聚焦的电子透镜。4.差热分析：在程序控制温度下测量物质和参比物之间的温度差与相应温度关系的一种分析技术。5.吸收光谱：物质吸收电磁辐射后，以吸收波长或波长的其他函数所描绘出来的曲线。6.透射电子：当式样厚度小于高能原子所能穿透的厚度时，入射电子从样品的另一面穿透过样品的那一部分电子。7.质厚衬度：由于相邻部位原子对入射电子散射能力不同，而通过物镜光阑参与成像的电子数也不同所形成的像衬度。三，简答题：1,扫描电镜特点？答：（1）样品尺寸适应性大。（2）样品种类适应性大。（3）样品制备适应性大。（4）景深大，放大倍数连续可调，必要时可不破坏原试样进行大面积的连续观察。（5）扫描电镜不仅能做表面形貌分析，配上能谱或波谱还可以做表面成分分析。（6）配上背散射电子衍射还可以做表层晶体学位向分析。2，电子探针X射线显微分析原理，常用X射线谱是哪两种？答：（1）原理：根据莫塞莱定律：**只要测出特征X射线的波长，就可确定相应材料的原子序数，又因为某种元素的特征X射线强度与该元素在样品中的浓度成比例，所以只要测出这种特征X射线的强度，就可计算出该元素的相对含量。（2）常用的：能谱仪，波谱仪。3，差热分析对参比物的要求？一般用……参比物？答：（1）要求：在试验温区具有热稳定的性质，为了获得尽可能与零线接近的基线，需要选择与试样导热系数尽可能相近的参比物。（2）常用参比物：焙烧过的Al2O3，MgO,NaCl4，比较EDS,WDS的特点？答：（1）EDS结构简单，紧凑，可以做各种分析仪器的附件，而WDS体积庞大，结构复杂。（2）EDS分析速度快，而WDS分析慢，需要几十分钟。（3）EDS工作时，不需要像WDS那样聚焦。（4）EDS可利用计算机软件进行无标量定量分析，而WDS需要标样。（5）WDS能量分辨率高，而EDS较低。（6）WDS检测灵敏度高，峰背比大，EDS要差一个数量级。5，答：布拉格方程，47页6，透射电镜分析电子成像衬度有哪几种？分别用于哪几种试样和成像方法？答：（1）非晶体的质厚衬度。试样：厚样品；原理：样品原子对入射电子的散射和磁透镜的小孔径成像。(2)晶体的衍射衬度。试样：薄膜样品；原理：电子衍射效应。（3）结构像的位相衬度。试样：薄样品；原理：散射后的电子产生位相差。7，热重分析原理？答：热重法是在程序控制温度下借助热天平以获得物质的质量与温度关系的一种技术。利用加热或冷却过程中物质质量变化的特点，可以区别和鉴定不同的物质。热重法是连续跟踪质量变化，因而必须对质量变化反应快，并能防止电，机械振动等因素产生的干扰。热天平中的平衡复位器中的线圈电流与试样质量变化成正比，因此记录电流的变化即能得到加热过程中加热过程中试样质量连续变化的信息；而试样温度同时由测温热电偶测定并记录。因此可以得到试样质量与温度关系的曲线。四，应用题：某氧化物有两种晶型，经高温处理后成白色粉体，分析物象和粒度大小，问用什么方法分析？