宇航用半导体器件重离子单粒子试验方案

QJ10005—20081/4宇航用半导体器件重离子单粒子效应试验方案1试验目的本规范详细说明了使用XXX源对XXX器件进行单粒子效应辐照试验（SEU、SEL、SET等）的要求。2适用范围本规范适用于XXX器件单粒子效应试验。3引用标准及文件GB4792－1984放射卫生防护基本标准GJB1649－1993电子产品防静电放电控制大纲GJB2712－1996测量设备的质量保证要求计量确认体系GJB3756－1999测量不确定度的表示及评定4试验要求4.1一般要求辐照试验应符合QJ10005－2008《宇航用半导体器件重离子单粒子效应试验指南》的规定。4.2辐射源辐射源地点加速器名称离子种类能量（MeV）LET（MeV/mg/cm2）Si中射程（μm）4.3试验样品样品类别工程型号样品名称样品型号生产批次样品工艺质量等级生产单位样品数量封装形式样品编号电测情况电参数测试系统4.4试验线路板试验线路板应符合QJ10005－2008《宇航用半导体器件重离子单粒子效应试验指南》的规定。4.5单粒子效应测试系统单粒子效应测试系统应符合QJ10005－2008《宇航用半导体器件重离子单粒子效应试验指南》的规定。QJ10005—20082/45试验流程按QJ10005－2008《宇航用半导体器件重离子单粒子效应试验指南》的规定，制定试验流程。6辐照试验工序单辐照试验工序单格式见图1。辐照试验工序单试验板号：____；离子：____；能量：____MeV；LET值____MeV.mg/cm2；Si中射程：____μm；开始时间结束时间注量温度/电流测试程序单粒子事件数数据记录文件名备注图1辐照试验工序单格式QJ10005—20083/47试验流程图图1SEU试验流程示意图驱动器件进入正常工作状态进行辐照试验，并实时测试功耗电流功耗电流超过判据值?（发生SEL）?试验结束复位选定下一个数据点完成了所需的有效LET数据点？器件所受注量达到指定值？发生SEU？记录错误数到规定值？记录数据，器件发生不可恢复失效？是是是是是否否否否否否是QJ10005—20084/4图1SEL试验流程示意图驱动器件进入正常工作状态进行辐照试验，并实时测试功耗电流功耗电流超过判据值?（发生SEL）?试验结束复位选定下一个数据点完成了所需的有效LET数据点？所受注量达到指定值？记录数据，器件发生不可恢复失效？是是是否否否否是