内存ATE测试介绍.

技术交流内存ATE测试2007年3月服务客户，精益求精概览ATE测试和ATE测试设备ATE测试设备特点HP83K/T5592简介ATE测试简介ATE测试什么是ATE测试？ATE是AutomatedTestEquipment的简称，即自动测试设备，它是对内存条或SDRAM芯片的品质进行检测的测试设备。ATE测试即使用自动测试设备对内存条或SDRAM芯片的品质进行测试。ATE测试ATE的工作原理：被测器件（DUT）测试系统（ATE）TestProgramResultsInputOutputATE测试设备高档的ATE测试设备有：Verigy公司的93K系统Advantest公司的T5581/T5585/T5592系统KINGTIGER公司的KT－2APRO系统特点：精度高速度快完整的电性能、功能和时序测试及分析价格昂贵专业的厂商使用T5592系统T5592系统：T5592系统T5592系统T5592系统T5592系统T5592系统KT-2APRO系统ATE测试设备ATE测试设备的特点高精度的定时性能大向量内存可编程的电流负载PerPin的时序与电平/电压高价格T5592简介T5592测试系统简介T5592参数简介能够测试各种存储器（专用）最高测试频率可以达到1.066GHz定时精度达到150ps(OTA)最大可测试芯片64颗，DDR内存条16条（2Station)Driver与双向口分开，节约成本（存储器特点专门设计）T5592简介硬件部分T5592简介ATE测试简介ATE测试简介T5592测试项目连接性测试漏电流测试电源电流测试功能测试重要DCAC参数测试SPD的读写测试T5592简介连接性测试原理ATE测试简介ATE测试简介漏电流测试原理ATE测试简介IDD（动态电源电流）测试原理功能测试原理时间条件电压条件波形条件逻辑值驱动器（ATE）比较器被测试器件（DUT）图形文件RESULT:P/F芯片电源ATE测试简介功能测试Pattern—Check-boardATE测试简介功能测试Pattern—March-6NATE测试简介DC参数测试DC参数测试电压参数测试电流参数测试测试方法：1。加电压测电流、加电流测电压2。改变DC参数，进行功能测试，找到P/F转变点3。运行pattern程序，直接对参数测量ATE测试简介DC测试ATE测试简介目的：检测芯片的各项电气性能VSIMISVMDCtestunitDC参数测试电压参数测试主要电压参数电源电压VDD、VDDQ、VREF输入电压VIL、VIH输出电压VOL、VOH测试目的：评估DUT能正常工作的电压范围评估输入管脚区分输入逻辑状态的能力评估输出管脚的输出相应逻辑电压的能力电流参数测试主要电流参数电源电流IDD输入漏电流IIL、IIH输出漏电流IOL、IOH、IOZ测试目的：评估DUT的漏电流大小评估供给DUT工作时所需的电源电流大小DC参数测试工程测试AC参数测试AC参数测试基本原理：改变需要测试的参数，重复执行功能测试，直到测试结果由PASS转为FAIL为止。记录PASS/FAIL转换点，进行必要的数学运算，得出需要测试的参数实际数值。实质是以时间条件为基础来执行功能测试。AC参数测试AC参数测试目的：保证器件的时序参数满足器件SPEC的要求保证器件在不同的时序条件限制下可正常工作分析器件时序参数解决故障问题Debug/优化测试程序的工具工程测试典型AC参数的时序图（CL/tRCD/tRP）AC参数测试Shmoo图例---MarginTest(潜力测试）用于评价芯片实际能力，通常使用SHMOOPLOT工具进行分析AC参数测试Shmoo图例二维Shmoo同时改变两个相互关联的参数，执行功能测试红色FAIL区域绿色PASS区域AC参数测试ATE测试生产测试（massproduction）工程/评估测试（engineering/evaluation）ATE测试简介生产测试流程基本电性能测试重要AC参数测试功能测试连接性测试、漏电流测试、IDD测试时序宽松、时序严格、基本功能、重要的POPULARPATTERN选用engineering的测试方法对重要参数进行测试ATE测试简介工程测试工程测试（engineering)DC参数测试AC参数测试功能测试工程测试谢谢!