传输测试大全

时钟单元1+1保护测试矩阵单元1+1保护测试电源单元：工作电压范围电源单元：电源供电保护1光口指标1.1平均发送光功率1.1.1指标含义发送机的发射光功率和所发送的数据信号中“1”占的比例有关，“1”越多，光功率也就越大。当发送伪随机信号时，“1”和“0”大致各占一半，这时测试得到的功率就是平均发送光功率。1.1.2指标定义1)STM-1接口局内、短距：-8dbm~-15dbm；长距：0dbm~-5dbm。2)STM-4接口局内、短距：-8dbm~-15dbm；长距：2dbm~-3dbm。3)STM-16接口局内：-3dBm~-10dBm；短距：0dBm~-5dBm；长距：3dBm~-2dBm。1.1.3测试步骤1)从发送机引出光纤，接到光功率计上；2)在光功率计上设置被测光的波长，待输出功率稳定，读出平均发送光功率。1.2发送机眼图1.2.1指标含义眼图把信号的上升时间、下降时间、脉冲过冲、脉冲下冲以及震荡等特性都包含了，其典型测试结果如下：这个眼图可以这样来理解：时间轴为一个周期的长度，眼图由四个部分组成：常“1”，“1”电平，“0”电平，常“0”电平。“1”电平和“0”电平并不是理想中的方波，而是有一定的上升和下降坡度，因此将这四种波形叠加起来，则就形成上面的眼图。我们测试的要求是不能有点子落在这个眼图模板内，否则，经过一定的光纤衰减，在接受机处很难分辩出该点是“1”还是“0”。a.803C测试装置图：光发送机光纤155M时钟触发线光电转换模块光转换为电的电缆电模块803Cb.754、784测试装置图：光发送机光纤光电转换模块784、754注：a.光功率过大时（特别是2500M光以上），测试时光纤的输入要加一定的衰减，以免烧坏仪器；b.由于784和754的光电转换模块有从光信号中提取时钟的能力，因此不需要155M时钟触发线，但803C没有能力提取时钟，因此需要155M时钟触发线。1.1接收机灵敏度1.1.1指标含义这个参数指接收机在达到规定的比特差错率所能接收到的最低平均光功率，考虑到余度，一般要求出厂的灵敏度比要求的还要小3dB，比如：L-16.2接收机的灵敏度为-28dBm，余度为3dB，因此出厂的接收机的灵敏度的指标应该为-31dBm。1.1.2测试仪表SDH分析仪，光衰减器，光功率计。1.1.3指标定义1)STM-1：局内：-23dBm；短距：-28dBm；长距：-34dBm。2)STM-4：局内：-23dBm；短距、长距：-28dBm；3)STM-16：局内、短距：-18dBm；长距：L-16.1：-27dBm；L-16.2：-28dBm；L-16.3：-27dBm；1.1.4测试装置图：发送机接受机光衰减器光功率计SDH分析仪R1.2接收机过载功率1.2.1指标含义这个参数指接收机在达到规定的比特差错率所能接收到的最高平均光功率。1.2.2测试仪表SDH分析仪，光衰减器，光功率计。1.2.3指标定义1)STM-1：局内、短距：-8dBm；长距：-10dBm；2)STM-4：-8dBm；3)STM-16：局内、短距：1dBm；长距：L-16.1：1dBm；L-16.2：2dBm；L-16.3：1dBm；1.2.4测试装置图：发送机接受机光衰减器光功率计SDH分析仪R。1.3光输入口允许频偏1.3.1指标含义这个指标主要是测试接收机的锁相环能力，对光口输入频偏的允许能力。1.3.2指标定义±20ppm。1.3.3测试装置图：SDH分析仪接受机发送机20ppm测试要求：SDH系统的时钟跟踪仪表的时钟。1.4输出抖动1.4.1指标含义所谓抖动，是指下面的意思：一个信号由于系统的时钟、芯片的门限等的影响，因此引起了输出数据的前后移动，当前后移抖动的频率大于10HZ时，我们就认为，这一种现象是一种抖动，抖动不能很大，否则会对下游站产生很不利的影响。抖动的单位为UI，所谓UI指光传送比特率的倒数：STM-1：UI=1155M=6.43ns；STM-4：UI=1622M=1.61ns；STM-16：UI=12500M=0.40ns；1.4.2测试仪表MP1550、MP1552B、MP3620、ANT-20、ANT-20E、HP-37717、HP-37718。1.4.3指标定义等级最大输出抖动峰峰值UIp-p测量滤波器参数B1B2f1（Hz）f2（kHz）f3（MHz）STM-10.750.15500651.3STM-40.750.151,0002505原来信号向前抖的信号向后抖的信号STM-160.750.155,0001,000201.1.1测试装置图：测试要求：SDH系统的时钟跟踪仪表的时钟。1.2抖动漂移容限1.2.1指标含义简单地说，就是指：SDH分析仪在光的输入口对输入数据加抖动或者漂移，设备所能容忍最大的抖动或者漂移峰峰值应该不小于规范的数值。1.2.2测试仪表MP1550、MP1552B、MP3620、ANT-20、ANT-20E、HP-37717、HP-37718。1.2.3指标定义这个指标是在G.825规定的，其模板为G.825模板。下面是抖动和漂移的参数：STM等级峰峰抖动和漂移幅度（UI）频率（Hz）A0(18爉A1(2s)A2(0.25A3A4f0f12f11f10f9f8f1f2f3f4SDH分析仪接受机发送机测试输出抖动s)s)STM-102800311391.50.15121781.6m15.6m0.1319.35006.5k065k1.3MSTM-4112001,2441561.50.15121781.6m15.6m0.139.651,00025k250k05MSTM-16447904,9776221.50.15121781.6m15.6m0.1312.15,000100K1M20M下面是抖动和漂移的模板：这是93年以前规定的模板，93年以后的模板为G.958模板，这个模板将漂移去掉了，因为漂移在仪表上不能进行测试，仪表只能测试抖动容限，新的模板参数如下：STM-Nlevel(kHz)0(kHz)A1(UIp-p)A2(UIp-p)STM-100650006.50.151.5STM-402501250.151.5STM-1610001000.151.5新的G.958模板为：测试后出现的实际波形，应该在模板的上面，否则，定为不合格。注：以下测试都是测试的G.958模板。1.1.1测试装置图：测试要求：SDH系统的时钟跟踪仪表的时钟。1.1.2测试步骤2)2M电接口比特率：2048kbit/sSDH分析仪接受机发送机加入抖动和漂移比特率容差：±50ppm，即±50×106码型：HDB33)34M电接口比特率：34368kbit/s比特率容差：±20ppm，即±20×106码型：HDB34)45M电接口比特率：44736kbit/s比特率容差：±20ppm，即±20×106码型：B3ZS5)140M电接口比特率：139264kbit/s比特率容差：±15ppm，即±15×106码型：CMI6)155M电接口比特率：155520kbit/s比特率容差：±20ppm，即±20×106码型：CMI7)2MHz同步信号频率：2048Hz频率容差：±50ppm，即±50×1061.1.3测试配置图支路输出口测试线路输出口测试1.1输入口允许频偏1.1.1指标含义指标含义是当输入口接收到具有规定频偏信号时，输入口应能正常工作〔通常用设备不出现误码来判断〕这个指标主要是测试接收机的锁相环能力。指标定义各等级速率电输入口允许频偏要求与相应输出口比特率容差要求相同。1.1.2测试配置图支交叉l路线路电缆或光纤环回TXRXRXTXTXSDH分析仪RX线路TXRXRXTXSDH分析仪支路输入口测试线路输入口测试1.1映射抖动1.1.1指标含义支路映射抖动是为了恢复支路信号，在SDH/PDH边界，需要去掉塞入比特和通道开销，从而留下了空隙，引入抖动和漂移。1.1.2测试仪表HP37717、HP37718、ANT-20E1.1.3指标定义PDH接口比特率容差范围映射抖动滤波器特性F1~F4〔UI〕F3~F4〔UI〕F1高通F3高通F4低通2M±500.40.07520Hz18kHz100kHz34M±200.40.075100Hz10kHz800kHz45M±200.40.1(建议)10Hz30kHz400kHz支交叉l路线路电缆或光纤环回TXRXRXTXTXRXSDH分析仪线路TXRXRXTXSDH分析仪140M±150.40.075200Hz10kHz3500kHz1.1.1测试配置图1.2结合抖动1.2.1指标含义由于指针调整是按单字节为单位或3字节为单位进行调整的，因而这种相位跃变会在SDH/PDH边界处产生可观的抖动和漂移。1.2.2测试仪表HP37717、HP37718、ANT-20E注意测试结合抖动时应注意以下两点：1、测试过程中应设置仪表和SDH设备同步。一般设置仪表使用内置时钟，SDH设备跟踪仪表时钟；2、一般60秒作为一个测试周期，在测试过程中禁止更改仪表设置，包括增加净荷的频偏。1.2.3指标定义PDH接口(kb/s)比特率容差范围(ppm结合抖动测试序列参数支交叉l路线路TXRXTXRXSDH分析仪)f1~f4UI〔p-p〕f3~f4UI〔p-p〕T1(S)T2(ms)T3(ms)abcdabcd2,048±500.40.40.4/0.0750.0750.075/=10750234,368±200.40.40.40.750.0750.0750.0750.075=10340.5139,264±150.40.40.40.750.0750.0750.0750.075=10340.5PDH接口(kb/s)比特率容差范围(ppm)结合抖动（UI）f1f3f4f1-f4f3-f4（待研究）efiefi45M200.71.31.210HZ30KHZ400KHZt4=0.5ms34ms=t510s，注意对于45M板应使用e、f、i（适用于TUGS结构）指针系列测试，不能用g、h系列（适用于AU3结构）测试用指针序列a、b、c、d分别定义如下：a－极性相反的单指针；b－规则指针加一个双指针；T1T2T3T2T1T3T3a指针序列b指针序列c指针序列d指针序列c－漏掉一个指针的规则单指针；d－极性相反的双指针。下面以2M信号为例，解释各个指针序列的定义：a指针序列：比如说目前的指针值为522相隔T1时间后将指针值减一即为521，再相隔T1时间后将指针值在加一即为522，就这样循环往复就形成了指针序列a。b指针序列：比如说目前的指针值为522相隔T2时间后将指针值加一即为523，再相隔T2时间后将指针值加一即为524，如此循环4次后再隔T3的时间将指针值加一。就这样按照四个T2加一个T3为一个循环周期，循环往复就形成了指针序列b。c指针序列：比如说目前的指针值为522相隔T2时间后将指针值加一即为523，再相隔T2时间后将指针值加一即为524，如此循环4次后再隔T2的时间指针值不变。就这样按照五个T2为一个循环周期，循环往复就形成了指针序列c。d指针序列：比如说目前的指针值为522相隔T3时间后将指针值加一即为523，再相隔T1时间后将指针值减一即为522，再相隔一个T3时间后将指针值加一即为523，再相隔一个T1时间后将指针值加一即为524。就这样以两个T1加T3为周期，循环往复就形成了指针序列d。