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X射线与其它电磁波一样，具有波粒二象性。差别只是波长较短、能量较大。所以它能使底片感光、气体电离以及透过一般光线透不过的物体光电子能谱分析XPS：1954年，西格班将研究β射线能谱的双聚焦能谱仪用于分析光电子的能量分布，发明了高分辨率光电子能谱仪，并利用各种轰击源系统测量了各种化学元素的电子结合能。原子的内层电子结合能Eb随元素化学环境的变化而变化，这种现象称为化学位移。XPS根据化学位移信息，确定元素的化合状态。氧化(还原)作用中，失(得)电子数越多，内层电子结合能上升(下降)的幅度越大；得失电子数相同，所有内层电子结合能的位移基本相同。X射线能谱分析DES电子显微镜配上能谱仪，可以在观察图像的同时，对图像的某个点、线或面进行元素分布及其含量的分析。Eb电子结合能与元素种类及其化学状态有关X射线光电子能谱分析法(XPS)是一种根据元素的化学位移信息，对固体表面几个纳米厚度的元素及其化合物，进行定性、定量分析的方法。若一个点的方向矢量垂直于同名指数的晶面，大小为1/d，此点便是相应晶面的倒易点。由晶体所有倒易点(不一定都落在倒易球表面)组成的新点阵，称为倒易点阵。若倒易点落在反射球上则会产生衍射。正点阵中的一组晶面，对应倒易点阵中的一个点。入射波长越长倒易点越分散面间距越大，倒易点间距越小1.倒易点阵也反映了晶体的周期性本质2.正倒点阵互相倒易，线、面互应，互为付里叶变换倒易点阵虽是数学抽象，但却是实实在在可观察到的点阵。Laue法可反映晶体的取向和对称性。样品细度对衍射线的影响1.太粗(1mm)，参加衍射的晶粒少，衍射线条不连续；2.太细(10µm)，会使衍射线条变宽，使d值测不准