中国科学院广州化学研究所分析测试中心提供X射线光电子能谱仪分析

X射线光电子能谱仪中国科学院广州化学研究所分析测试中心事业部--高工--189--3394--6343产品型号:AXIS-ULTRADLD-600W生产厂家:日本岛津-Kratos公司仪器介绍:AXIS-ULTRADLD光电子能谱仪配备有多个国际标准窗口的样品处理室，功能强大且扩展性强，配有多样品停放台，大幅提高测试效率。样品处理室、分析室均配有冷热台，满足多层次测试需求。样品分析室配备UPS、AES、ISS等信号分析器，多角度获取样品信息。样品分析室配备低能悬浮离子枪、荷电中和系统、双阳极Al/Mg靶等大幅拓展测试样品范围。主要附件：紫外光电子能谱仪UPS、俄歇电子能谱仪AES、离子散射谱ISS、双阳极Al/Mg靶、低能悬浮离子枪、真空断裂台、分析室冷热台等。性能指标:大束斑slot模式下能量分辨率：优于0.48eV/(Ag3d5/2)@400kcps；最小15μm分析区域下能量分辨率：优于0.50eV/(Ag3d5/2)@0.65kcps；110μm分析区域下能量分辨率：优于0.50eV/(Ag3d5/2)@75kcps；荷电中和系统：优于0.68eV/(PET上O-C=O的C1s)@15kcps；空间分辨率：优于3μm；主要特色:高效的同轴单电子源低能电子荷电中和系统，对PET上O-C=O的C1s的分辨率可达0.68eV，满足大部分绝缘样品的全自动高分辨率分析要求。二维的延迟线DLD检测器，可同时获取光电子的位置和强度，从而实现“从图得谱”。“快照采谱（SnapShot）”模式，在十数秒内即可获取完整的光电子能谱图，极大提高分析效率。“从图得谱”模式采谱，无需重复测试，即可从XPS成像中获取光电子能谱。主要应用:主要用于各种有机和无机固体材料的表面元素和其价态的定性、定量分析，表面元素的化学成像及深度剖析。可用于腐蚀、摩擦、浸润、粘接、催化、包覆、氧化等表面和界面过程的研究。