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1X射线荧光光谱理论考试题库（填空题）1．根据探测方法的不同，可将X荧光光谱仪分为波长色散光谱仪和能量色散光谱仪两大类。2．布拉格衍射公式为(nλ=2d*sinθ)，式中n为常数，称为衍射级数；λ为谱线波长。3．X射线为波长在0.1-100埃之间的电磁波。4．X射线探测器的主要技术指标探测效率、能量分辨率。5．大部分X荧光光谱仪器仪上装有充气正比探测器，所用气体为P10气，即氩气和甲烷混合气体，其中甲烷用作猝灭性气体。6．原子受激发产生X射线光子的概率叫荧光产额。7．流气式正比计数器主要用于重元素分析，闪烁计数器用于轻元素测定。8．波长色散X射线荧光光谱仪的激发源为X-光管。9．在样品和晶体之间的准直器，其作用是将样品发射出的X射线荧光通过准直器变为平行光束照射到晶体，该准直器又称为入射狭缝。10．WDX光谱仪主要组成部分为光管、色散装置、入射准直器或入射狭缝、晶体、出射准直器或出射狭缝和探测器。11．当以经验系数法校正基体效应时，用一系列的标准样品进行测量，采用回归方法求取各待测元素的工作曲线常数，元素间效应的影响系数和谱线重叠系数。12．土壤样品的处理方法，常取决于试样的性质、数量级、待测元素及其含量范围、所需的分析精度和准确度。13．X射线管产生的X射线光谱，被称作原级X射线谱，它是由连续谱和特征谱组成。14．在矿石分析中，由于同一元素间会以不同的价态、不同的结构、不同的晶体存在。这种微观上的差别无法用机械方法除去，这称为矿物效应。15．用于能量色失散X荧光光谱仪的Si（Li）探测器，须在液氮中冷却工作。16．X射线荧光分析粉末试样时，采用玻璃熔片法可以消除基体效应和矿物效应带来的分析误差。17．X射线波长范围，其短波段与γ射线长波段相重叠，其长波段则与真空紫外的短波段相重叠。18．X射线荧光分析中特征X射线光谱的产生过程可以分两步：第一步：高能量子与原子发生碰撞，从中驱逐出一个内层电子。第二步：由较外层电子补充，同时释放能量，放射出X射线2荧光。19．X射线荧光光谱仪分光方法有平行法和聚焦法，分别用平晶和弯晶分光。20．能量色散X射线荧光光谱仪是利用X射线荧光具有不同能量的特点，将其分开，依靠半导体探测器来检测。21．X射线荧光光谱法基本上是一种相对分析法。要求各个试样之间，试样与标样之间，有尽可能一致的物理性质和近似的化学组成。22．X射线荧光光谱法为了获得准确的定量分析结果，应使用有证的标准样品，标准样品与分析试料的组成、制样方法尽可能一致。23．X射线荧光光谱标准加入法可通过计算法、作图法求得试样的分析结果。24．在X射线荧光光谱法分析中，总是以单位时间内单位面积上的X射线光子数表示强度。通常以cps或Kcps为单位表示。25．X射线荧光光谱分析的基体效应的数学校正一般分为三类，即基本参数法、经验系数法和理论影响系数法。26．基体效应包括吸收和增强两种效应。消除基体效应的方法有稀释法、薄膜样品法、吸收校正法、数学处理方法等。27．X射线管产生的一次X射线束是连续谱和特征光谱，二次X射线束是特征光谱。28．波长色散X射线荧光光谱仪的分光晶体是利用晶体的衍射现象使不同波长的X射线分开，以便从中选择被测元素的特征谱线进行测定。29．X射线波长极短，不能像紫外和可见光那样，用平面光栅和棱镜来分离特征X射线光谱。30．波长色散X射线荧光光谱仪的流气正比计数器经长时间使用，其芯线-阳极丝要被污染，造成阳极丝的污染有由气体中的杂质和淬灭气体甲烷的分解造成的等两种情况。