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1、TEM一般是用于哪些样品的分析？可以得到哪些信息？TEM样品类型有：块状：用于普通微结构研究平面：用于薄膜和表面附近微结构研究横截面样品：均匀薄膜和界面的微结构研究小块物体：粉末，纤维，纳米量级的材料体材料：金属等塑性材料，陶瓷、半导体等脆性材料，高分子材料、生物样品等还有其他复合材料等TEM可以实现微区物相分析，高的图像分辨率，获得立体丰富的信息。粉末样品制备主要用于原始状态成粉末状的样品，如炭黑，粘土及溶液中沉淀的维系颗粒，其粒径一般在1μm以下。制样过程中基本不破坏样品，除对样品结构进行观察外，还可对其形状，聚集状态及粒度分布进行研究。薄膜样品可观察膜面，膜面的均匀度，缺陷等，得出生长形态信息，各层结构，界面结构，缺陷等。2、TEM样品的制备有哪些方法？（重点阐述离子减薄、化学减薄）TEM样品制备在电子显微学研究中起着非常重要的作用，要想得到好的TEM结果，首先要制备出好的薄膜样品。TEM样品制备方法有：粉末法、化学减薄法、双喷电解减薄法、离子减薄法、复型法。一、粉末法1.粉碎研磨将研磨后的粉末放在无水乙醇溶液里，用超声波震荡均匀后滴在微栅上【选择高质量的微栅网（直径3mm）】，干燥后进行透射电镜观察。二、化学减薄法利用化学溶液对物质的溶解作用达到减薄样品的目的。通常采用硝酸，盐酸，氢氟酸等强酸作为化学减薄液，因而样品的减薄速度相当快。步骤：10将样品切片，边缘涂以耐酸漆，防止边缘因溶解较快而使薄片面积变小；20薄片洗涤，去除油污，洗涤液可谓酒精，丙酮等；3）将样品悬浮在化学减薄液中减薄；4）检查样品的厚度，旋转样品角度，进行多次减薄直达到理想厚度，清洗。化学减薄的缺点：1）减薄液与样品反应，会发热甚至冒烟；2）减薄速度难以控制；3）不适于溶解度相差较大的混合物样品。三、双喷电解减薄法此法是通过电解液对金属样品的腐蚀，达到减薄目的。步骤：1）用化学减薄机或机械研磨，制成薄片，并冲成3mm直径的圆片，抛光；2）将样品放入减薄仪，接通电源；3）样品穿孔后，光导控制系统会自动切断电源，并发出警报。此时应关闭电源，马上冲洗样品，以减小腐蚀和污染。双喷电解减薄法只适用于金属导体，不适于不导电的样品。四、离子减薄法主要用于非金属块状样品，如陶瓷、半导体、以及多层膜截面等材料试样的制备。离子减薄原理：在电场作用下氩气被电离成带Ar+的氩离子，带着一定能量的氩离子从阳极飞向阴极，通过阴极孔，打在接地的样品表面，使样品表面原子不断溅射剥离，达到减薄目的。步骤：1）将样品手工或机械打磨到30-50μm；2）用环氧树脂将铜网粘在样品上，用镊子将大于铜网四周的样品切掉；3）将样品放减薄器中减薄，减薄时工作电压为5kv，电流为0.1mA，样品倾角为15度；4）样品穿孔后，孔洞周围的厚度课满足电镜对样品的观察需要；5）非金属导电性差，观察前对样品进行喷碳处理，防止电荷积累。影响样品制备的几个因素有：1）与仪器有关的：离子束电压、离子束电流（氩气的流量）、离子束的入射角、真空度2）与样品有关的：样品的种类（性质）、样品的微结构特点、样品的初始表面条件、样品的初始厚度、样品的安装。离子减薄仪器有：宽束离子减薄仪、低角度离子减薄仪、聚焦离子束减薄仪、低能离子减薄仪500V一2.5kV离子减薄法的优点是易于控制，可以提供大面积的薄区。缺点是速度慢，减薄一个样品需十几个小时到几十个小时。五、复型法复型法是对材料表面特征进行复制的一种制样方法，目的在于将物体表面的凹凸起伏转换为复型材料的厚度差异，然后在电镜下观察，设法使这种差异转换为透射电子显微像的衬度高低。表面纤维组织浮雕的复型膜，只能进行形貌观察和研究，不能研究试样的成分分布和内部结构。复型类型有：塑料一级复型、碳一级复型、塑料-碳二级复型、抽取复型。