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NB/T47013.2—2015《承压设备无损检测》宣贯讲座第2部分：射线检测衣粟山东省特种设备检验研究院2015年8月NB/T43013.2的修订过程与特点修订过程2012年1月标准修订启动；2012年7月，形成标准本部分初稿；2013年3月，工作组完成本部分征求意见稿；2013年4-5月，通过锅容标委网站向社会征求意见；2013年6月，完成本部分送审稿；2013年11月，完成标准本部分报批稿。修订特点：适用范围有所扩大（增加了管座角焊缝，管子管板角焊缝等焊接接头型式，适用的材质、厚度范围也有所增加）；进一步与国际接轨（体现在：胶片分类、放射源品种、孔型像质计应用，一些工艺参数等）；更加完整、严密、规范（多处内容、条款、文字的补充完善）目次（标准内容浏览，正文8章）前言1范围2规范性引用文件3术语和定义4一般要求5检测工艺及其选择6承压设备熔化焊焊接接头射线检测结果评定和质量分级7承压设备管子及压力管道熔化焊环向焊接接头射线检测结果评定和质量分级8检测记录和报告目次（附录标题浏览，12个）附录A（资料性附录）管子－管板角焊缝射线照相技术要求附录B（规范性附录）工业射线胶片系统的特性指标附录C（资料性附录）黑度计（光学密度计）定期核查方法附录D（资料性附录）暗室安全照明时间确定附录E（资料性附录）典型透照方式示意图附录F（资料性附录）环向对接焊缝透照次数确定方法附录G（规范性附录）焦点尺寸计算方法附录H（规范性附录）几何不清晰度（Ug）计算方法附录I（资料性附录）滤光板附录J（规范性附录）定位标记的放置原则附录K（资料性附录）底片硫代硫酸盐离子浓度测量方法附录L（规范性附录）对比试块的型式和规格前言（主要技术变化浏览，31处）本部分代替JB/T4730.2—2005《承压设备无损检测第2部分：射线检测》中的内容，与JB/T4730.2—2005相比，主要技术变化如下：——扩大了标准的适用范围，增加插入式管座角接接头对接焊缝、安放式管座角接接头对接焊缝和管子－管板角焊缝的X射线及γ射线检测技术和质量分级要求，并取消了钢的分类；——修改和增加了部分规范性引用文件；——增加了射线检测专用术语和定义的内容；——增加Tm170和Yb169射线源应用的规定；——修改了特殊条件下射线检测技术等级允许放宽原则；前言（主要技术变化浏览-2）——修改了工业射线胶片系统分类，将胶片分为C1、C2、C3、C4、C5和C6六类。胶片类型的选择按照新的分类标准重新进行修订，同时补充了胶片灰雾度测量的要求；——修改了黑度计核查时机的内容；——增加了标准密度片的黑度范围和测量点数目的相关规定；——增加了孔型像质计应用的内容，并修订了不同材料的像质计适用的工件材料范围及像质计使用和放置原则；——修改了检测时机要求，明确检测时机应满足相关法规、规范、标准和设计技术文件的要求，同时还应满足合同双方商定的其他技术要求；前言（主要技术变化浏览-3）——增加了焊接接头检测区宽度范围确定的内容；——增加了内偏心透照（F＜R）时透照次数的计算公式（附录E）——增加了暗室安全照明时间确定的内容；——增加了增感屏质量及使用要求、中屏材料及厚度范围、以及Tm170和Yb169两种γ射线增感屏材料及厚度范围，并明确了增感屏制造标准；——增加了射线检测工艺规程内容的基本要求和验证的相关规定；——增加了双胶片透照技术和底片观察技术应用的内容；——增加了确定管座角焊缝、椭圆形封头和蝶形封头小r区的焊缝，以及其他曲率连续变化的焊缝确定一次透照长度的原则；前言（主要技术变化浏览-4）——增加了有效评定区搭接的技术要求；——修改了结构限制特殊情况下小径管的透照原则；——增加了安放式和插入式管座角焊缝采用源在内透照方式时f的放宽原则；——增加了胶片与被检工件之间距离的放置原则；——增加了γ射线源曝光时间限值和限制使用多源曝光的规定，以及球罐全景曝光像质计摆放要求；——增加了滤光板应用的推荐技术要求（附录H）；——修改了定位标记和识别标记的放置原则；——增加了胶片暗室处理试剂选用原则、胶片处理延迟时间及其底片处理质量检验的内容；——修改了底片质量要求的内容，增加了底片保存的内容；——修改了不同透照厚度应达到的像质计灵敏度，对应的材料厚度范围有所扩大，并增加了孔型像质计的灵敏度要求；——焊接接头射线检测结果评定和质量分级部分增加了适用的焊接结构型式；——增加和修定了射线检测记录和报告的内容；——取消了“专用像质计的型式和规格”的内容；——修改了小径管专用对比试块。前言（主要技术变化浏览-5）重点介绍：重大技术变化内容（8项）1、管座角焊缝射线检测（意义、结构难点、应用难点和标准的具体规定）；2、管子管板角焊缝射线检测（意义、原理、适用范围、工艺、工装和标准的规定）；3、新的胶片分类（各类别的特性指标，标准关于针对不同技术等级和检测对象选择胶片类别的具体规定）；4、新增加的放射源（品种及其特性参数，标准关于新放射源应用的具体规定）；5、孔型像质计（结构、标准关于应用的规定）；6、球罐γ射线全景曝光技术（原理、优缺点、标准中限制球罐γ射线全景曝光技术应用的条款）；7、双胶片技术（原理、特点、标准中关于应用的规定）；8、滤光板技术（原理、特点、标准中关于应用的规定）。重点介绍1：管座角焊缝射线检测意义、结构难点、应用难点和标准的具体规定）；a.管座角焊缝检测技术的应用背景b.管座角接接头对接焊缝型式结构特点c.超声技术用于角焊缝检测的局限性d.射线技术用于角焊缝检测的难点e.新标准关于角焊缝射线照相的规定与解释插入式管座角焊缝优先选择的透照布置管座角焊缝确定一次透照长度的方法标准条文：5.5.4c）管座角焊缝、椭圆形封头、碟形封头小r区的焊缝，以及其他曲率连续变化的焊缝可不采用以K值确定一次透照长度的方法，允许用黑度范围来确定一次透照长度，底片黑度满足5.16.1的长度范围即为允许采用的一次透照长度。解释：难点2曲率连续变化的焊缝的K值计算难度大。解决方法：避开K值计算，通过控制黑度来解决一次透照长度和横向裂纹检出角问题。标准条文5.7.4安放式和插入式管座角焊缝采用源在内单壁中心透照方式时，只要得到的底片质量符合5.16.1和5.16.2的要求f值可以减小，但减小值不应超过规定值的50%。解释：源在内单壁中心透照方式影像质量好，效率高，宜多采用。5.7.5安放式和插入式管座角焊缝采用源在内单壁偏心透照方式时，只要得到的底片质量符合5.16.1和5.16.2的要求f值可以减小，但减小值不应超过规定值的20%。解释：源在内比源在外透照好，单壁比双壁透照好，所以允许f值减小。管座角焊缝胶片与被检工件之间的距离5.8胶片与被检工件之间的距离曝光期间，胶片应紧贴于工件，除非有特殊规定或透照布置能使被检区域得到更好的透照影像。管座角焊缝源在内透照时，胶片应尽可能的靠近被检工件焊缝。5.12.5管座角焊缝推荐采用丝型像质计，根据像质计能够投影到被检测区的位置而放置。如果允许，像质计尽可能置于黑度最小的区域。附录A管子－管板角焊缝射线照相技术要求A1范围本附录规定了管子－管板角焊缝的X射线和γ射线检测技术和质量分级要求。本附录适用管壳式列管热交换器和管壳式反应器的管子与管板角接焊接接头的射线检测。被检测的管子内径应在12.5mm～80mm，厚度1.5mm～5mm范围，用于制作焊接接头的金属材料包括钢、钛及钛合金、镍及镍合金、锆及锆合金，焊接型式为密封焊。本附录规定的射线检测技术分为三级：A级——低灵敏度技术；AB级——中灵敏度技术；B级——高灵敏度技术。管内径更小的管子－管板角焊缝射线检测也可参照本部分，但需要使用更小的源棒尺寸并选择合适的工艺参数；强度焊角焊缝射线检测也可参照本标准，但灵敏度和缺陷评级应另作规定。各类别的特性指标，标准关于针对不同技术等级和检测对象选择胶片类别的具体规定4.2.2射线胶片4.2.2.1胶片系统按照GB/T19348.1分为六类，即C1、C2、C3、C4、C5和C6类。C1为最高类别，C6为最低类别，胶片系统的特性指标见附录B。……4.2.2.2胶片制造商应对所生产的胶片进行系统性能测试并提供类别和参数……。对照老标准JB/T4730-2005：3.2.1胶片系统按照GB/T19348.1分为四类，即T1、T2、T3和T4类。T1为最高类别，T4为最低类别.重点介绍3新的胶片系统分类新标准关于针对不同技术等级和检测对象选择胶片类别的具体规定5.4胶片选择5.4.1A级和AB级射线检测技术应采用C5类或更高类别的胶片，B级射线检测技术应采用C4类或更高类别的胶片。5.4.2采用γ射线和高能X射线进行射线检测时，以及对标准抗拉强度下限值Rｍ≥540MPa高强度材料射线检测时，应采用C4类或更高类别的胶片。5.14.3灰雾度测量胶片灰雾度应不超过0.3。应从购进胶片中按批抽样，采用与实际检测相同的暗室处理条件处理，然后进行灰雾度测量。经过测量的胶片如果6个月还没使用完，应再次测量，以核查胶片是否符合4.2.2规定的储存要求。标准中关于Yb169和Tm170射线源应用的规定：4.2.1射线装置关于新放射源4.2.1.1可以使用两种射线源：a）由X射线机和加速器产生的X射线；b）由Co60、Ir192、Se75、Yb169和Tm170射线源产生的γ射线。5.5.1胶片透照技术本部分允许以下两种胶片透照技术：a）单胶片透照技术使用单张胶片。X射线（≤100kV）和Tm170射线源只允许采用单胶片透照技术。重点介绍5：孔型像质计重点介绍5：孔型像质计5.12像质计的使用5.12.1像质计放置原则……阶梯孔型像质计一般应放置于被检区中心部位的焊接接头热影响区以外，在不可能实现的情况下，至少应放置于熔敷金属区域以外。当一张胶片上同时透照多条焊接接头时，像质计应放置在透照区最边缘的焊缝处。重点介绍5：孔型像质计5.12.6像质计影像识别使用阶梯孔型像质计时，底片上能够识别的最小孔的编号即为像质计灵敏度值，当同一阶梯上含有两个孔时，则两个孔都应在底片上可识别表6孔型像质计灵敏度值——单壁透照、像质计置于源侧表8孔型像质计灵敏度值——双壁双影透照、像质计置于源侧表10孔型像质计灵敏度值——双壁单影或双壁双影透照、像质计置于胶片侧重点介绍6：限制球罐γ射线全景曝光技术应用球罐全景曝光技术应用背景和优缺点1单壁外透法2单壁内透法3单壁内透偏心法新标准中限制球罐全景曝光的条款从两个方面：1、限制曝光时间和限制使用多源曝光的规定；2、球罐全景曝光像质计摆放位置和数量。5.9.3采用Co60γ射线源透照时，曝光时间不应超过12h，采用Ir192γ射线源透照时，曝光时间不应超过8h，且不得采用多个射线源捆绑方式进行透照。5.12.1b）单壁透照中，如果像质计无法放置在源侧，允许放置在胶片侧（球罐全景曝光除外）；一般单壁透照中，如果像质计无法放置在源侧，允许通过对比试验修正灵敏度后放置在胶片侧，而球罐全景曝光不允许。5.12.2b）球罐焊接接头采用源置于球心的全景曝光时，在上极和下极焊缝的每张底片上都应放置像质计，且在每带的纵缝和环缝上等间隔至少放置3个像质计；限制球罐全景曝光技术后怎么办重点介绍7：双胶片技术原理、特点、标准规定什么是双胶片技术？暗盒内装两张胶片和三片增感屏（前中后屏），在观片灯上采用双片叠加的方式进行底片观察的检测技术。双胶片技术特点：1、可排除多种伪缺陷干扰，有利于提高底片评定准确性；2、可增加透照厚度宽容度，检测大厚度差工件。3、可缩短曝光时间，提高效率。4、可减少像质不合格造成的返工。有关规定主要参考了ASME和RCC-M标准。新标准关于双胶片技术应用的规定4.2.6.2表1，增感屏的材料和厚度，注释C：双胶片透照技术应增加使用中屏。5.5.1胶片透照技术b）双胶片