CPK 制程能力分析

CpkTrainingdatumVersion:A2020/1/21SilitekElectronics(GZ)VQMDepartment1Cpk制程能力分析CpkTrainingdatumVersion:A2020/1/21SilitekElectronics(GZ)VQMDepartment2常态分配...718.2)(.21)(222edxxxfekk通常写为X~N(µ:σ2)其中µ:常态分配的中心值(Mean)σ2：常态分配的变异（Variance）σ:常态分配的标准差(StandardDeviation)常态分配特性(1)曲线与橫轴所围的面积为1;(2)以µ为中心呈对称性分布;(3)变异σ2代表分配函数的离散程度如图1所示,具有相同µ的二个常态分配(a)与(b),(a)的离散程度比(b)小,即σ2aσ2b,所以常态分配(a)大多数的点倾向於集中µ的附近.μ图1(a)σ2a(b)σ2bCpkTrainingdatumVersion:A2020/1/21SilitekElectronics(GZ)VQMDepartment3-3σ-2σ-1σ-4σ1σ2σ3σ4σμPERCENTAGESOFTHENORMALDISTRIBUTIONPercentagesOfTheNormalDistributionCpkTrainingdatumVersion:A2020/1/21SilitekElectronics(GZ)VQMDepartment4管制图与常态分配μμ+kσ图2X值在µ+kσ与µ-kσ之間之或然率(Probability)或称机率如右图.以图中斜线部分表示,其公式为:群体平均值=µ标准差=σx图1μ-kσσCpkTrainingdatumVersion:A2020/1/21SilitekElectronics(GZ)VQMDepartment5群体(制程)与样本间之关系x)(xEnX分配之期望值分配之标准差x设为样本平均,µ为群体平均S=S为样本标准差为群体标准差在统计学上x101Nn101NnnNnNX.11NnN注:如可视为无限群体用上式为有限群体之修正系数设系有限数群体而則分配之标准差xniinsXXnn1211)(1*nXXinis12)(2143CpkTrainingdatumVersion:A2020/1/21SilitekElectronics(GZ)VQMDepartment6群体(制程)与样本间之关系样本平均值之分配x群体平均值之分配µnXCpkTrainingdatumVersion:A2020/1/21SilitekElectronics(GZ)VQMDepartment7CpkVsDefectiveYield我們常用产品品质特性的常态分配与規格相比较,以決定产品的不良率.如右图所示产品品质特性的常态分配.规格上限:USL(UpperSpecificationLimit)规格下限:LSL(LowerSpecificationLimit)落在规格上,下限外的斜线面积即为产品的不良率.μLSLUSLμ-3σ-2σ-1σ+3σ+2σ+1σ68.27%95.45%99.73%0.135%0.135%StandardDeviationfrommeanCpkValueDefectiveYieldDistribution12700ppm99.73%+/-3Sigma1.3363ppm99.9937%+/-4Sigma1.670.57ppm99.999943%+/-5Sigma2.000.002ppm99.9999998%+/-6SigmaCpkTrainingdatumVersion:A2020/1/21SilitekElectronics(GZ)VQMDepartment8目前在品管里常注重制程的分散宽度,故有定义制程能力为下式者:群体标准差每不易直接求得一般以样本资料推定之,其推定方法有下列三式:(1)直接由样本特性值計算时(2)由次数分配表計算时(2)管制图計算时一般均采用公式(3)制程能力的数量表示法1..分散宽度以表示之.VdR6,6,ˆ62制程能力=(或)ˆ6'6RX1)(ˆ22nnXXi1)(ˆ22fffufu2ˆdRd2Cpk計算時用此公式(1)CpkTrainingdatumVersion:A2020/1/21SilitekElectronics(GZ)VQMDepartment10YESNOYESNOACCURACY(準確度)PRECISION(精密度)TheAccuracyofaninstrumentcanbeimprovedbyrecalibratingtoreduceitserror,butrecalibratinggenerallydoesnotimprovetheinstrument’sPrecision.(Repeatabilityalsosometimesknownas“Precision”)Accuracy&PrecisionCpkTrainingdatumVersion:A2020/1/21SilitekElectronics(GZ)VQMDepartment11T/2Ca(制程准确度)TuxCa:(Capabilityofaccuracy)从生产过程中所获得的资料其实际平均值()与规格中心值(µ)之间偏差的程度X%規格容許差規格中心實績中心Ca%2/)(TX=12.50%25%50%100%A級B級C級D級X(實績)规格中心值规格上限或下限X(實績)X(實績)等級A≦12.5%B12.5%≦25%C25%≦50%D50%Ca值CaCaCaCaCpkTrainingdatumVersion:A2020/1/21SilitekElectronics(GZ)VQMDepartment12Ca之处置原則A级:维持原则B级:改进为A級C级:立即检讨改善D级:采取紧急措施,全面检讨,必要时停止生产.CpkTrainingdatumVersion:A2020/1/21SilitekElectronics(GZ)VQMDepartment13Cp(制程精密度)TCp:(Capabilityofprecison)以规格公差(T)与生产中所获得的6个估计实际标准差(σ)其间相差的程度63規格公差規格容許差Cp…雙邊X-SL3σ只有規格下限:Cp=3σSu-X只有規格上限:Cp=…單邊6σ6σB級6σA級Cp=1.331.006σC級0.836σD級规格下限SL规格中心µ规格上限SU等級A1.33≦CpBCDCp值1.00≦Cp1.330.83≦Cp1.00Cp0.83CpkTrainingdatumVersion:A2020/1/21SilitekElectronics(GZ)VQMDepartment14工程能力指数(Cp)之处理μT3σμT3σ3σ5σ5σCp=1.67Cp=1.331.33≦Cp1.67显示有足夠之工程力.对规格而言,为正常状态,应继续保持.2Cp处理1.67≦Cp,显示非常有工程能力虽然有若干制品之标准差很大,但不会出現不良品.13σ4σ4σCpkTrainingdatumVersion:A2020/1/21SilitekElectronics(GZ)VQMDepartment15工程能力指数(Cp)之处理Cp=1.00Cp1.00μTμT3σ1.00≦Cp1.33,显示工程能力并不充足,但尚且可以.要注意有发生不良品之顾虑,必要时应提升工程之能力.3Cp1.00显示工程能力不足.在这种狀況下会出现不良品.必需藉著作业方法之改善,规格之再检讨,机械设备之改善,來提升工程能力.43σ3σ3σCpkTrainingdatumVersion:A2020/1/21SilitekElectronics(GZ)VQMDepartment16Ca,Cp的综合评价1.计算方法:Z1=3Cp(1+Ca)……由Z1查常态分配表得p1%Z2=3Cp(1-Ca)……由Z2查常态分配表得p2%p%=p1%+p2%……..即为推定群体超出规格上下之不良率.XSZU1XSZL22.依不良率P%分级做评定标准:等級总评P%AP≦0.44%B0.44%P≦1.22%C1.22%P≦6.68%D6.68%P投影片30或CpkTrainingdatumVersion:A2020/1/21SilitekElectronics(GZ)VQMDepartment17e.g:(例题)今库存有某圆轴6000支,其品质特性为圆轴之长度,已知其长度母平均μ=15.7cm,母标准差σ=0.3cm,试问此6000支,中长度超过16.1cm的約有几支?KeyCpkTrainingdatumVersion:A2020/1/21SilitekElectronics(GZ)VQMDepartment19Ca,Cp不良时的一般处理方法1.Ca不良时的一般处理方法制造单位为主,技术单位为副,品管单位为辅.2.Cp不良时的一般处理方法技术单位为主,制造单位为副,品管单位我辅.CpkTrainingdatumVersion:A2020/1/21SilitekElectronics(GZ)VQMDepartment20制程能力指数CpK综合Ca与Cp两值之指数(1)CpK值之计算式有两种CpCaCpK)1(B.单边规格时:(2)等級判定CpK值愈大,品质愈佳.依CpK值大小分为五級ˆ3)(,ˆ3)(LUSXXSMinCpK等级A1.33≦CpK1.67BCDCpK值1.00≦CpK1.330.67≦CpK1.00CpK0.67A+1.67≦CpKA.双边规格时:CpkTrainingdatumVersion:A2020/1/21SilitekElectronics(GZ)VQMDepartment21CpK之处置原则A+:考虑管理的简单化或成本的降低方法A:维持原狀B:改进为A級C:需全数选別并管理,改善制程D:进行品质改善,探求原因,需要采取紧急对策,并且重新检讨规格.CpkTrainingdatumVersion:A2020/1/21SilitekElectronics(GZ)VQMDepartment22制程能力与规格之关系6σ'ABCDESuSL或6σ’代表制程在正常状态下变化之范围,称为自然公差(Naturaltolerance)规格上下限之差為Su-SL,则或6σ’与Su-SL有下列三种关系(情況)如图示:ˆ6ˆ61.6σ’Su-SLCpkTrainingdatumVersion:A2020/1/21SilitekElectronics(GZ)VQMDepartment236σ'ABCSuSL2.6σ’≒Su-SLCpkTrainingdatumVersion:A2020/1/21SilitekElectronics(GZ)VQMDepartment246σ'ABCSuSL3.6σ’Su-SLCpkTrainingdatumVersion:A2020/1/21SilitekElectronics(GZ)VQMDepartment25EvaluationformCpkTrainingdatumVersion:A2020/1/21SilitekElectronics(GZ)VQMDepartment26CpkTrainingdatumVersion:A2020/1/21SilitekElectronics(GZ)VQMDepartment27Cpk为什么要大于或等与1.33?1.Cp=0.67时,稳态控制下不合格品率为4.6%;2.Cp=1.00时,稳态控制下不合格品率为0.27%;3.Cp=1.33时,稳态控制下不合格品率为0.0063%=63PPM在图例上表示为中心沒