无损检测通用工艺规程

安徽帮德电气有限公司无损检测通用工艺规程编制：张辉审核：王德田批准：沈必亮2009年05月13日2第一章:射线检测通用工艺规程1.主题内容与适用范围本规程规定了焊缝射线人员具备的资格、所用器材、检测工艺和验收标准等内容。本规程依据JB/T4730-2005的要求编写。适用于本公司板厚在2～30mm钢制压力容器及壁厚T≥2mm钢管对接焊接接头的X射线AB级检测技术。满足《压力容器安全技术监察规程》GB150、GB151的要求。检测工艺卡内容是本规程的补充,由Ⅱ级人员按本规程等要求编写,其参数规定的更具体。2.引用标准、法规JB/T4730－2005《承压设备无损检测》GB150-1998《钢制压力容器》GB151-1999《管壳式换热器》GB18871－2002《电离辐射防护及辐射源安全基本标准》GB16357-1996《工业X射线探伤放射卫生放护标准》JB/T7902《线型象质计》《特种设备无损检测人员考核与监督管理规则》《压力容器安全技术监察规程》.3.一般要求3.1射线检测人员必须经过技术培训，按《特种设备无损检测人员考核与监督管理规则》考核并取得与其工作相适应的资格证书。3.1.1检测人员应每年检查一次视力，校正视力≮1.0。评片人员还应辨别出400mm距离处高0.5mm、间距0.5mm的一组印刷字母。3.2辐射防护射线防护应符合GB18871、GB16357的有关规定。3.3胶片和增感屏3.3.1胶片：在满足灵敏度要求的情况下，一般X射线选用T3或T2型胶片。3.3.2增感屏：采用前屏为0.03mm、后屏为0.03～0.10mm的铅箔增感屏。.3.3.3胶片和增感屏在透照过程中应始终紧密接触。3.4象质计3.4.1底片影像质量采用Fe线型像质计测定。其型号和规格应符合JB/T7902的规定。象质3计型号一般按下表4选定。但对透照外径≤100mm钢管环缝时采用JB/T4730附录F的专用象质计。3.4.2底片的象质计灵敏度选用按透照厚度及不同的透照方法选择表1至表3中要求达到的象质丝号。3.4.3透照厚度W：射线照射方向上材料的公称厚度。多层透照时,透照厚度为通过的各层材料公称厚度之和。焊缝两侧母材厚度不同时，以薄板计。表1象质计灵敏度值－单壁透照、象质计置于源側(AB级)公称厚度（T）范围、mm应识别丝号丝径（mm）3.5～5150.125＞5～7140.16＞7～10130.20＞10～15120.25＞15～25110.32＞25～32100.40表2象质计灵敏度值－双壁双影透照、象质计置于源側(AB级)透照厚度（W）范围、mm应识别丝号丝径（mm）3.0～4.5150.125＞4.5～7140.16＞7～11130.20＞11～15120.25＞15～22110.32＞22～32100.40表3象质计灵敏度值－双壁单影或双壁双影透照、象质计置于胶片側(AB级)透照厚度（W）范围、mm应识别丝号丝径（mm）3.5～5.5150.125＞5.5～11140.16＞11～17130.20＞17～26120.25＞26～39110.324表4象质计型号10/166/121/7透照厚度W（mm）≤16＞16~80＞80~2503.4.4象质计的使用象质计一般应放在工件源侧表面焊接接头的一端（在被检区长度的1/4左右位置），金属丝应横跨焊缝,细丝置于外侧。当一张胶片上同时透照多条焊接接头时，象质计应放置在透照区最边缘焊缝处。3.4.5透照外径≤100mm小径管焊缝时可选用通用线型象质计或JB/T4730附录F的专用象质计,金属丝应横跨焊缝放置。3.4.6当射线源置于圆心位置对焊缝做周向曝光时，每隔90度放一个。若透照区为抽查或返修复照，则每张底片上应有象质计显示。若同时还透照纵焊缝，则纵缝透照区的远端也应有象质计显示。3.4.7象质计置于胶片侧时，应在象质计上适当位置放置铅字“F”标记。3.5散射线屏蔽背部散射线及无用射线应采用常规方法屏蔽。为验证背部散射线的影响，在每个暗盒背向工件侧贴一个“B”铅字标记（高13mm厚度1.6mm）。若在底片的黑色背影上出现B的较淡影象，就说明背散射防护不良，应予重照。但若较淡背影上出现较黑的影象，则不作为底片质量判废依据。3.6标记透照部位标记由定位标记和识别标记构成。3.6.1定位标记焊缝透照定位标记包括搭接标记和中心标记。局部检测时搭接标记称为有效区段标记。当铅质标记用数字表示时，可不用中心标记。3.6.2识别标记识别标记包括产品编号、焊缝编号、底片编号和透照日期。返修部分还应有返修标记R1，R2…..（其数码表示返修次数）3.6.3标记位置标记一般应放置在距焊缝边缘至少5mm以外，所有标记影像不应重叠,且不应干扰有效评定范围内的影像。3.6.4搭接标记除中心全景曝光外，一般放于射线源侧的工件表面上，但对于曲面工件环缝，5且焦距大于曲率半径时，必须放于胶片侧。3.6.5透照(余高磨平)封头拼缝时应在焊缝两侧放置定位标记,以利于焊缝定位3.7观片灯和评片要求3.7.1观片灯观片灯的亮度至少应能观察最大黑度为4.0的底片，且观片窗口的漫射光亮度可调，并备有遮光板，对不需观察或透光量过强部分屏蔽。3.7.2评片要求评片应在评片室进行。评片室应整洁，安静，温度适宜，光线应暗且柔和。3.7.3评片人员在评片前应经历一定的暗适应时间。底片评定范围为焊缝及两恻5mm宽的区域。3.8黑度计采用TD-210型黑度计和仪器自带的黑度片。黑度计误差应大小不超过0.05mm。3.9表面要求和射线检测时机3.9.1检测前对接焊接接头的表面应经外观检测并合格。表面的不规则状态应不不掩盖或干扰缺陷影象,否则应对表面作适当修整。3.9.2射线检测应在焊后进行。对有延迟裂纹倾向的材料,至少应在焊后24小时方可检测。4.检测技术4.1透照布置,透照方式容器局部检测部位应优先选择焊缝交叉部位以及开孔区将被其他元件覆盖的焊缝，拼接封头，拼接管板，拼接补强圈的对接焊缝。应根据工件特点和技术条件的要求选择适宜的透照方式。在可实施的情况下应选用单壁透照方式，当单壁透照不可实施时方可采用双壁透照方式。4.1.1小径管环向对接焊接接头的透照布置及透照次数按JB/T4730.2-4.1.4和4.1.5条规定。4.1.2周向曝光源置于圆筒形容器环焊缝的中心，一次曝光检测整条环焊缝，焦距F为D/2+2（mm），当胶片长300mm时，L3或Leff选用260mm。4.1.3透照方向定位标记6透照时射线束中心应垂直指向透照区中心，需要时也可选用有利于发现缺陷的方向透照。4.1.4一次透照长度一次透照长度应以透照厚度比K进行控制。AB级检测技术纵向对接焊接接头K≤1.03,环向对接焊接接头K≤1.1。整条环向对接焊接接头所需的透照次数可参照JB/T4730.2附录D的曲线图确定4.1.5射线源至工件表面的最小距离F≥10d×b2/3或按JB/T4730.2-4.3条规定选用。4.2曝光条件4.2.1应根据每台X光机、胶片和增感屏制作曝光曲线表，以此作为曝光范围，曝光量一般应≥15mA.min。4.2.2射线能量的选择X射线机允许使用的最高管电压应符合JB/T4730.2－4.2.1条的要求4.3胶片处理按胶片使用说明书的规定、采用手工冲洗。4.4底片的质量4.4.1底片上,定位和识别标记影像应显示完整、位置正确，且不得掩盖受检焊缝的影像。4.4.2底片评定范围内的黑度D:2.0≤D≤4.0。4.4.3透照小径管或其他截面厚度变化大的工件时,AB级最低黑度允许降至1.5。4.4.4底片上的象质计灵敏度应符合有关规定。4.4.5底片上黑度均匀部位(邻近焊缝的母材金属区)应能清晰看到所要求的金属丝影像,且长度不小于10mm。专用像质计至少应能识别二根金属丝。4.4.6底片有效评定区域内不得有胶片处理不当或其它妨碍底片准确评定的伪缺影像。4.5质量分级4.5.1根据对接焊接接头中存在缺陷的性质、数量和密集程度，其质量分为Ⅰ、Ⅱ、Ⅲ、Ⅳ级。4.5.1.1Ⅰ级对接焊接接头内不允许存在裂纹、未熔合、和未焊透。4.5.1.2Ⅱ级、Ⅲ级对接焊接接头内不允许存在裂纹、未焊透和未熔合。4.5.1.3对接焊接接头中缺陷超Ⅲ级者为Ⅳ级。4.5.2圆形缺陷的质量分级圆形缺陷用圆形缺陷评定区进行质量分级评定，圆形缺陷评定区为一个与焊缝平行的矩形，其尺寸见表5。圆形缺陷评定区应选在缺陷最严重的区域。4.5.3长宽比小于等于3的气孔、夹渣、夹钨等缺陷定义为圆形缺陷，它可以是圆形、椭圆型、7锥型或带尾巴等不规划形状。4.5.4在圆形缺陷评定区内或于圆形缺陷评定区边界线相割的缺陷均应划入评定区内。将评定区内的陷按表6换算成点数，按表7的规定评定对接焊接接头的质量级别。表5缺陷评定区母材公称厚度T≤25＞25～100评定区尺寸10×1010×20表6缺陷点数换算表缺陷长径（mm）≤1＞1～2＞2～3＞3～4＞4～6＞6～8＞8缺陷点数1236101525表7各级别允许的圆形缺陷点数评定区（mm×mm）10×1010×20母材公称厚度T≤10＞10～15＞15～25＞25～50＞50～100Ⅰ级12345Ⅱ级3691215Ⅲ级612182430Ⅳ级缺陷点数大于Ⅲ级者或缺陷长径大于T/2注：当母材公称厚度不同时，取较薄板的厚度。4.5.5当缺陷的尺寸小于表8的规定时,分级评定时不计该缺陷点数。质量等级为Ⅰ级的对接焊接接头和母材公称厚度T≤5mm的Ⅱ级对接焊接接头,不计点数的缺陷在圆形缺陷评定区内不得多于10个,超过时对接焊接接头质量等级应降低一级。表8不计点数的缺陷尺寸母材公称厚度T缺陷长径≤25≤0.5＞25～50≤0.784.5.6条形缺陷的质量分级长宽比大于3的气孔、夹渣、夹钨等缺陷定义为条形缺陷，条形缺陷按表9的规定进行分级评定。表9条形缺陷的分级级别单个条形缺陷最大长度一组条形缺陷累计最大长度Ⅱ≤T/3（最小可为4mm）且≤20在长度为12T的任意选定条形缺陷评定区内，相邻缺陷间距不超过6L的任一组条形缺陷的累计长度应不超过T，但最小可为4Ⅲ≤2T/3（最小可为6mm）且≤30在长度为6T的任意选定条形缺陷评定区内，相邻缺陷间距不超过3L的任一组条形缺陷的累计长度应不超过T，但最小可为6Ⅳ大于Ⅲ级者注1：L为该组条形缺陷中最长缺陷本身的长度；T为母材公称厚度，当母材公称厚度不同时取较薄值。注2：条形缺陷评定区是指与焊缝方向平行的、具有一定宽度的矩形区，T≤25mm，宽度为4mm；25mm＜T≤100mm，宽度为6mm。注3：当两个或两个以上条形缺陷处于同一直线上、且相邻缺陷的间距小于或等于较短缺陷长度时，应作为1个缺陷处理，其间距也应计入缺陷长度之中。4.6综合评级4.6.1在圆形缺陷评定区内同时存在圆形缺陷和条形缺陷时，应进行综合评级。4.6.2综合评级的级别如下确定：对圆形缺陷和条形缺陷分别评定级别，将两者级别之和减一作为综合评级的质量级别。4.6.3承压设备管子及压力管道熔化焊环向对接焊接接头按JB/T4730.2/6.1～6.1.9条射线检测质量分级评定。4.7射线检测记录、报告和资料存档4.7.1射线检测记录射线检测现场原始记录及检测位置图由Ⅰ、Ⅱ级检测人员按规定填写并签字认可。4.7.2底片评定记录由Ⅱ级人员初评、复评并签字认可。94.7.3射线检测报告射线检测报告应准确、完整，并经Ⅱ级以上相应责任人员签字认可。4.7.4射线检测报告资料和底片由档案室存档,至少保存7年。7年后,若用户需要可转交用户保管。10第二章:磁粉检测通用工艺规程1．主题内容与适用范围本规程规定了磁粉检测人员资格、所有设备、器材、检测技术和质量分级等内容。本规程按JB4730的要求编写。适用于本公司铁磁性材料制承压设备的原材料、零部件和焊接接头表面、近表面缺陷的检测。满足《容规》和GB150的要求。本规程适用于非荧光湿磁粉的连续磁化技术。检测工艺卡内容是本规程的补充。由Ⅱ级人员按本规程等要求编制，其参数规定的更具体。2．检测人员2.1检测人员必须经过培训取得国家有关部门颁布的，