GenRad边界扫描测试解决方案介绍

GenRad边界扫描测试解决方案介绍GenRad边界扫描解决方案包括两个基本组成部分，即BasicSCAN和ScanPathfinder。BasicSCANBasicSCAN为一需要单独注册的软件产品，该软件用以解决ASICs和复杂的商用边界扫描器件的测试程序生成问题。BasicSCAN降低了边界扫描器件开发测试矢量的难度，并同时带来以下优势：简化了测试程序的准备及调试过程提高了开路管脚的故障覆盖率缩短了测试程序开发时间降低了测试的复杂程度并减少了所需测试矢量的数目。一旦BasicSCAN检测到器件具有边界扫描功能，便能够为该器件为该器件在测试程序生成时提供数字测试源模型（DigitalTestSource(.DTS)model）。所有BasicSCAN生成的数字模型均使用相同的测试架构。其中包括隔离（disable）和预置（inhibit）选择，用以描述如何防止其它器件对被测器件的干扰，并且能够对不同的绕线设置进行处理。如果做相应的设定，BasicSCAN还可以生成内建自检测试（built--inselftest）。BasicSCAN测试能够检查：器件的指令寄存器（instructionregister）捕获的数据。该数据的错误可以用来判断器件失效或器件贴装错误指令寄存器及边界扫描寄存器（BoundaryScanRegister）的长度是否正确IDCODE及USERCODE是否符合期望值测试系统驱动/相应探针与器件输入/输出管脚间的开路。这种类型的故障能够标识出贴装错误或贴装质量不良的器件器件管脚能够被预置或响应逻辑“0”或逻辑“1”，这样便能够检测出器件输入/输出缓冲区中的任何粘滞型（stuck--at）故障ScanPathfinderScanPathfinder为一需要单独注册使用的软件选项，该软件能够为符合IEEE1149.1--1990标准的边界扫描链路生成测试程序并已集成至GRNavigate软件中ScanPathfinder软件：不仅能够测试全部具有测试点的单个IC的开路故障，而且能够对测试点不全，且同时使用非边界扫描器件的被测单板上复杂的相互作用（interaction）及互连（interconnect）中的开路故障进行检测校验边界扫描描述语言(BSDL)模型的语法及结构。并能够对IDCODE、USERCODE及RUNBIST指令进行校验将边界扫描测试生成器与数字测试生成器(DTG)相集成，并提供单独的边界扫描故障诊断系统与运行中系统软件（RuntimeSystemsoftware）通讯生成边界扫描测试报告，提供UUT边界扫描配置、测试程序生成、故障覆盖率及无须探针的网络节点的详细记录提供边界扫描测试调试模式以帮助确定测试问题提供包含BSDL模型的边界扫描库，内有众多已被广泛采用的边界扫描器件ScanPathfinder生成的边界扫描测试程序能够检测下列UUT互连故障：测试访问口(TAP)粘滞型故障由被测对象的指令寄存器、旁路寄存器（Bypass）或边界扫描寄存器（BoundaryScanRegisters）构成的扫描链路故障边界扫描器件中错误的IDCODE或USERCODE值设置探针的边界扫描器件管脚的开路自检（built-inself-test）失败的边界扫描器件传统的设置测试探针的节点与未设置探针的边界扫描节点间的短路故障未设置测试探针的边界扫描节点间的开/短路故障