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发表单位:工艺科前言电测是检测产品电气特性之唯一方法,也是保证产品最终品质最有效的手段.故对电测原理的探討与实施,有助于更多的人了解电测,了解保障产品品质的重要途径.目錄空板电测(BareBoardTester)成品电测(CableTester)ICT电测(InCircuitTester)空板&成品电测BareBoardTesterandCableTester空板电测机成品电测机测试规格绝缘性20MΩ测试导通性20Ω测试是客戶的要求更是大勢所趨测试机以定电压测试先测导通性再测绝缘性导通性测试：测试电压10V、电流20mA测试条件：10Ω～100KΩ绝缘性测试：测试电压50V～250V、电流20mA测试条件：100KΩ～20MΩ測试机測试規格测试规格与测试品质之关系0ΩPASS20Ω∞ΩFAIL导通性测试規格越接近0Ω，测试品质越严格绝缘性测试規格越接近∞Ω，测试品质越严格PASSFAIL导通性测试绝缘性测试20ΜΩ线路为什么有低阻值???电阻R＝截面积A长度L•线路有低阻值，不等于线路有缺口•线宽3mil线路，导通性不良时，阻值会超过10Ω•线路愈细愈长，产生阻值愈高•压合层次愈高，产生阻值愈高•孔径（盲埋孔）愈小，产生阻值愈高电测原理测试机与测试治具有误测也会有漏测，只是误测的产品可以自己找，漏测的产品客戶帮你找(测试治具，测试机，产品，其中一项有缺陷就会有误测与漏测现象发生)。测试机开关（IO）基本组成A治具探針电表IOIOINOUT治具探針ONOFFPASS导通性测试流程图（continuity）AONON1234OPEN导通性测试流程图（continuity）AONON1234PASSIO点损坏就会发生误测AONOFF1234OPENIO损坏(常关)IO点损坏更會发生漏测AONON1234PASSIO损坏(常开)ON绝缘性测试流程图（insulation）AONON1234PASSONON绝缘性测试流程图（insulation）AONON1234SHORTONONIO点损坏就会发生误测AONON1234SHORTONONOFFIO损坏(常关)误测IO点损坏更會发生漏测AOFFON1234PASSONONIO损坏(常关)严重漏测测试治具的误测与漏测一.误测：把良品误测为不良品。（一般有，测试针点偏位，盖膜贴偏，收缩大等等都有误测的可能性。二.漏测：测试点未装测试针或未测试的产品传入良品区。电测治具测试针在产品上的分针位置超智慧软体,支援多片排片测试及导电胶测试(ACRT)排片测试又称为排版测试,其主要的用途是让作业人员在测试完毕后能以最快的速度判定多片版中某片为不良品.空板电测机优点(一)监测系统,提高测试可靠度.所谓监测系统就是防呆裝置:当防呆为ON时,测试完毕为良品者,必須从设定的方向安放否则机台不再继续测试的动作.此项设计是为了防止长时间的工作所造成的疲劳,而导致误动作的发生.将良品与不良品混在一起.空板电测机优点(二)ICT电测(InCircuitTester)ICT概论:ICT即在线测试仪(INCIRCUITTEST)是一大堆高级电表的组合.电表能测到,ICT就能测到,电表測不到,ICT也可能测不到.如:R//Jumper,R无法用电表测,ICT也无法测.测试原理的探讨一般而言,基本上测试方法有两大方向,一则利用电流源当信号源,量测电压值,以应用在电阻量测最普遍;二则以电压源当信号源,量测电流值,以应用在电容、电感量测最普遍隔离效果原理的探讨ICT与电表的差异就是:ICT可对旁路元件进行隔离(Guarding),而电表不可以.在TR-518FR的內部电路中,是利用一棵OP当做一个隔离点(最多可有五个隔离点),若是:以电流源当信号源输入时,则在相接元件一之另一脚加上一等高电位能(GuardingPoint),以防止电流流放与被测元件相接之旁路元件,确保量测的精确性.开路&短路量测原理探讨(一)在开路&短路自我学习(open&shortlearning)时,系统会自动将量测点之间阻抗小于25Ω的点聚集成不同的短路群(shortgroups)开路&短路量測原理探讨(二)于开路测试(opentest)时,在任一短路群(shortgroups)中任何两点之阻抗不得大于55Ω,反之即是开路测试不良(openfail)短路測試(shorttest)时分成三种情况,若有其中以下的情况发生,则判定短路测试不良(shorttest)在短路群(shortgroups)中任何一点与非短路群中任一点之阻抗一点阻抗小于5Ω.不同短路群中任两点之阻抗小于5Ω.非短路群中任两点之阻抗小于5Ω.开路&短路量测原理探讨(三)实例说明Shortgroup1:1234111213Shortgroup2:78910181920以上为078料号短路群资料,在某次生产中,2与7两个不同短路群点其外部(conn、排线)阻抗超出系统默认值(5Ω),导致30%短路产品误判为良品.電容之Debugging(一)在编辑电容测试资料时其高低点通常选定一较少元件相接的脚为低点,以减少干扰程度.300pF以下之电容,一般使用较高的信号做量测.大于3.3UF之电容一般采用Mode0(电流源测试)方式量测.当测量测值与标准值偏差太大时,可适当选用不同模式测试(保证产品OK)直到稳定为止.