LED热学参数测试研究

LED热学参数测试研究浙江大学光电系鲍超引言LED器件的热学性能会直接影响到器件发光效率、强度、光谱特性、工作稳定性和使用寿命。因此对LED器件的热学参数进行分析研究，采用标准化的方法进行测量，满足检测中心和企业需要;同时为满足仲裁测试、数据报告等组建公共测试平台,开发商业化的测量设备，这些都是半导体照明工程中的一项关键性工作。热阻基本概念LED热学设计的目的在于预言LED芯片的结温，所谓结温是指LED芯片PN结的温度。热阻定义为热流通道上的温度差与通道上耗散功率之比ThermalResisitance&ThermalImpedance瞬态和稳态热阻半导体结与壳体或环境温度之间的稳态条件需数秒或数分钟才能达到。为提高效率,可以采用测量瞬态热阻抗的方法。定义在某一给定时刻的热阻为瞬态热阻抗，瞬态热阻抗反映了传热体的热惯性在热量传递的瞬变过程中对热阻的改变。结－管壳热阻HPinitialPfinalHJJCPTTPTHPHPinitialPfinalHJJCPTTPTHPPinitialT芯片耗散功率热平衡初始管壳温度热平衡最终管壳温度PfinalT♣LED结到管壳之间形成的热阻。♣要求一个无穷大热沉和管壳顶面相接触。♣可以用内部嵌有热电偶的大块无氧铜替代。♣记录热沉的温度变化，达到稳态时测试。HPinitialPfinalHJJCPTTPT结－环境热阻JAHAinitialAfinalHJJAPTTPTAinitialTHAinitialAfinalHJJAPTTPTJAAinitialTAfinalT分别表示容器内一个限定位置的热平衡初始和最终温度。♣LED结到周围环境形成的热阻。♣测试时，器件放入1立方英尺容器。♣仅对自然对流冷却环境估算结温有用。NC-100NaturalConvectionChamber自然对流(静止空气)热参数测量腔自然对流(静止空气)热测量腔♣在标准化静止空气(对流)环境测量芯片/管壳(JA)组合和管壳/热沉(JHS)组合的热阻օ♣腔内尺寸为1ft3,它与外部环境热隔离。通过前面门可进入腔内部，提起插销后可打开门,插销放置在腔外面。当完全闩栓住的时候，装在门上密封材料被些微地压紧确保外部气流不进入腔内。为测定腔内环境温度,把一个热电偶安装在后腔壁上的塑料管内。它通常装备一个T型热电偶和超小型联接器。流动空气环境热阻JMA♣固定在标准的热试验板上的芯片/管壳组合在流动空气环境形成的热阻。♣管壳顶上加热沉。♣可应用于测量计算在空气速度已知的强迫对流环境的结温。WT-100WindTunnel♣测量流动空气(强迫对流)环境芯片/管壳组合(JMA)和管壳/热沉组合的热阻。♣空气从底部抽进从顶部排出。♣测速仪数字显示0.5m/s—5m/s空气速度。♣试验区截面:20.3x20.3cm2。♣T型热电偶固定在试验区中心边墙上。LED热学模型LEDPN结内产生的热量从芯片开始沿着下述热学通道传输：PN结—反射腔—印刷板—空气（环境）LED热学模型总热阻可以表示为从结－环境这一热路（thermalpath）中各个单个热阻之和。JSBASBJSJA为芯片和芯片粘结剂到反射腔之间形成的热阻。为反射腔，环氧树脂到印刷板间的热阻。为印刷板和接触环境空气的热沉之间组合的热阻结温计算:JAdAJPTTJSSBBA多元LED热阻BJBJBJRNLEDRLEDRArrayTotal_)(1_)1(1__1NREmitterLEDRArrayTotalBJBJ____BJBJBJRNLEDRLEDRArrayTotal_)(1_)1(1__1多元LED产品的热阻可以采用并联热阻的模型来确定.NREmitterLEDRArrayTotalBJBJ____BJBJBJRNLEDRLEDRArrayTotal_)(1_)1(1__1BSSJBJRRRLED结温测量的电试验法在低正向电流时，PN结温升和正向电压增量成线性相关。相关系数K即温度--电压敏感系数,单位:♣开关置1,加电流IM,测得正向电压VFi。♣开关置2,快速加上加热电流IH,测量正向电压VH♣开关置1,快速加电流IM,测量正向电压VFf。♣ΔVF=│VFi--VFf│ΔTi=K·ΔVFTJ=TJi+ΔTi这里TJi是测量开始前LED结温的初始温度。mvC/mvC/mvC/mvC/mvC/LED结温测量的电流电压波形选择至关重要。除取典型值0.1,1.0,5.0,10.0毫安外，可取伏安特性的击穿点。MI热阻测试波形校准测量数据的冷却曲线HHFJXVIVKKbaKKbaKHHFJXVIVKKbaK被测器件撤除加热电流的瞬间，结温立即下降，但是电压测量和读数需要一定时间,因此所获得的测量数据有误差。通常要作出被测器件的冷却曲线从而对测量数据进行修正。测量校准方法♣先使温度控制环境的初始温度稳定在接近室温的低温(Tlow)状态，测量正向电压Vlow。♣使温度增加到高温(Thigh),稳定后测量Vhigh的数值。highlowlowhighVVTTKTCS-100TemperatureCalibrationSystemTCS-100TemperatureCalibrationSystem♣TheTCS-100isdesignedtosimplifythegatheringofdataforKFactorcalibrationofdiodes.♣ThesystemcontainsaprecisioncurrentsourceforsupplyingIM,avoltmeterformeasuringVM,andaType-Tthermocouplemeasurementformonitoringtheenvironmenttemperature.♣A36-pinrear-panelmountedconnectorprovidesfullKelvinconnectionforupto16devices.Eachdeviceundertestisselectedbyfront-panelpushbutton.热阻测量♣按照所施加的耗散功率和选择合适的加热时间，就可以按下述公式计算被测器件的热阻。HHFHJVIVKPTJXθ♣测量LED热阻时，分为稳态热阻和瞬态热阻，稳态热阻确定了整个器件的热性能。测量瞬态热阻时采用加热脉冲宽度大于芯片而小于基板的热时间常数。加热脉冲宽度通常在1－几百ms。由于不同封装LED的热时间常数不同，因此选择合适加热脉冲宽度十分重要。Agilent热测试系统加热曲线JCJCJMA热流:结芯片封装底面壳环境产生的热=散去的热平衡加热曲线:器件在不同环境条件,施加确定的加热功率PH时,热阻和加热时间的关系曲线.JCJMAJA加热曲线用途曲线的光滑度显示数据联贯性和可信度。清楚显示热稳态状况,获得最短稳态时间。曲线显示管壳封装的热性能,采用最优化数据PH,tH检验封装工艺。显示不同环境条件的加热曲线有助于估计器件在其它环境下的热性能。组合曲线可用于精确估计在不同环境条件到达热稳定的时间。LED热学参数应用问题A.设置结温极限设置合适的结温极限是热学设计的重点。(1)结温愈低,LED产品的发光效率愈好,可根据应用所需要的光输出确定最大结温。(2)LED产品的颜色会随结温升高而向长波方向漂移,可根据应用所允许的颜色漂移范围来设置最大结温。(3)为保证LED产品工作可靠性,设置最大结温。参数最大结温(ºC)参数最大结温(ºC)LED结温120铝芯PCBLED105无光学LED-40--105有光学LED-40--75LED热学参数应用问题B.评价环境温度数据使用产品标准或代表性测试数据来确定最差环境温度TAC.确定允许的耗散功率例:已知LED热阻=120ºC/W,TA=70ºC.计算最大耗散功率.解:PD=(125ºC-70ºC)/120ºC/W=0.71W.热沉问题(结构)热沉问题(面积)•Thetermexposedsurfaceareaisthesumtotalofallsurfacesoftheheatsinkexposedtoconvection.Thefootprintarea“quantifiestheprojectedareaoftheheatsinkasshowninfollowingdiagram.•Afinnedheatsinkcanfitmoreexposedsurfaceareainagivenfootprintthanaflatheatsink.热沉问题(特性)FlatHeatSink0.09(2.3mm)Thick结温评价实例功率LEDLAE67B,IF=50mA,Tj125C,焊点温度=环境温度=TS=70C;UF=2.1V,器件数据表给出热阻=130C/W.求结温=?解:Tj=130C/W·50mA·2.1V+70C=83.7CTjmaxTj125C5xMagnificationofanInfraredImageofabiasedAH101atacasetemperaturenear85°C热像分析LED寿命:LED(发光)强度(功率)衰退到一半初始(发光)强度(功率)的时间.P=P0exp(-βt)…….(1)β=β0IFexp(-Ea/kTj).(2)Tj=θthIFVF+Ta..……(3)利用公式(1)可以通过试验得到寿命试验数据,从而得到相同条件的器件的期望寿命.例如,用DC50mA试验得到300小时数据,进而可推算300小时后的期望寿命.由公式(1)(2)(3)可得到相同LED在不同条件的寿命数据.LED结温和寿命MTTF和结温平均无故障时间:MTTF=A*e(Ea/kT)A=3.71x10-12(hrs)(Pre-exponentialFactor)Ea=1.5(eV)(ActivationEnergyforWJGaAsdevices)(激活能)k=8.617x10-5(eV/ºC)(Boltzmann’sConstant)MTTF和结温结束语以上主要讨论了稳态热阻测试的标准方法及有关问题。三种不同概念的热阻对产品生产和检验都有用。讨论了结温和LED寿命,平均无故障时间关系。对于各种LED器件而言,精确测量瞬态热阻抗值和如何估算半导体结的最大温升,需要做许多研究,才能制定瞬态热阻抗测试标准。水平有限,错误和不当之处,请批评指正.