质谱检测器的调谐和校正

质谱检测器的调谐和校正质谱检测器的调谐和校正质谱检测器的调谐和校正质谱检测器的调谐和校正本章概要本章概要调谐
调谐的准备工作
优化调谐参数校正
校正的准备工作
执行校正
复查校正数据
重新校正调谐调谐要调谐的原因：
通过优化质谱峰的强度增加灵敏度
得到接近高斯分布的峰型(得到准确的质量分配)
优化谱峰的分辨率调谐前的准备调谐前的准备导入样品，寻找最佳采集参数：
通过注射泵输送样品◗用样品充满注射器◗选择流速3-10uL/min
‘T’型接口动态加样技术◗用样品充满注射器◗寻找适宜的LC流速和流动相的比例，获得最佳的数据采集条件◗动态条件下导入样品，观察“好”的信号调谐过程中应注意的参数调谐过程中应注意的参数探头位置调整去溶剂气的流量离子源的温度去溶剂气的温度(electrosprayonly)APCI探头温度(APCIonly)喷雾毛细管电压(electrosprayonly)电晕放电针电压(APCIonly)取样锥孔电压萃取锥孔电压射频六极杆透镜电压离子能量低质量端和高质量端的分辨率这些参数影响灵敏度和信号稳定性调谐窗口调谐窗口调谐窗口调谐窗口(离子源参数离子源参数离子源参数离子源参数)调整去溶剂气体的流量这些参数影响峰形和分辨率调谐窗口调谐窗口调谐窗口调谐窗口(质量分析器参数质量分析器参数质量分析器参数质量分析器参数)调谐窗口调谐窗口调谐过程中,可实时检测四段质量范围,得到全程满意的参数APIAPI的雾化气体的雾化气体ESI和APCI均采用与电离源同轴的氮气气流ESI：产生汽溶胶的溶液小液滴APCI：LC流动相经APCI加热器快速加热而形成蒸汽雾化气：固定流速无需调整流速参数通过调节90-100psi的管路,氮气得到已经优化的流速去溶剂气去溶剂气与喷嘴加热器同轴的氮气气流可以通过仪器面板前的旋钮调整大小根据流动相的比例和流速大小优化ESI，去溶剂气可以加热以提高溶剂的蒸发APCI,无需加热保护离子源，无论是ESI还是APCI，如果流速小于100L/H，软件会自动关闭所有加热器离子源和去溶剂气的温度离子源和去溶剂气的温度加热用于帮助溶剂蒸发根据流动相的比例和流速大小优化参数，高含水比例的流动相需要更高的温度温度太低时易形成溶剂簇离子APCI电离方式不使用去溶剂气加热器LC流速,uL/min源温度,°C去溶剂气温度,°C10080-100100-350100-250100-130350-400250-1000130-150400-450APcIAPcI探头温度探头温度高温加热溶剂和样品(300-600℃)如果温度设置太高，对于热不稳定样品可能引起热裂解根据被分析物的挥发性、流动相比例以及流速大小等因素优化温度，高含水比例的流动相需要更高的温度ESIESI毛细管喷口电离电压毛细管喷口电离电压内径约75-μm的不锈钢毛细管导入流动相和样品质谱的离子源提供电离途径正离子电离：2-4kV负离子电离：2-3kV影响信号的稳定性APcIAPcI电晕放电针电压电晕放电针电压化学电离技术正离子电离：3-5kV负离子电离：2-4kV取样锥孔电压取样锥孔电压提取离子进入第一级真空区常用范围25-70V低分子量的化合物使用较低的电压高分子量的化合物使用较高的电压(1000Da)提高电压会产生碎片(源内CID)萃取锥孔电压萃取锥孔电压将离子聚焦到RF六极杆透镜通常范围3-10V提高电压可以产生碎片一般建议用提高取样锥孔电压的方式来得到碎片RFRF六极杆透镜电压六极杆透镜电压将离子聚焦到四极杆的中心通常使用优化好的0.5v直流偏置电压RF电压采用与四极杆同步的扫描离子能量离子能量加在四极杆预过滤器处的直流偏置电压通常范围-1~+3V提高离子能量会降低分辨率在不降低信号强度的条件下，此值越低越好如果此值设置低于-1V，而没有影响信号强度，此时应该清洗离子源质量低端和质量高端的分辨率质量低端和质量高端的分辨率对峰形均产生影响通常设置15(任意单位),对两端得到单位质量分辨率优化其他参数时一般先降低分辨率设置，比如11，调好后，再提高此值至你所期望的分辨率校正校正为什么
校正质量标尺
在安装期间的质量校正，可以对硬件提供更精细的校正准备校正准备校正导入标准参照物溶液
用注射泵将标准参照物溶液（如聚乙二醇，NaCsI等）导入MS◗注射器抽满参照物溶液◗通过毛细管连接ESI电离探头◗3-10uL/min
为避免离子源污染，不要长时间导入参照物溶液准备校正准备校正调谐
开始校正前，用参照物溶液调整离子源参数◗设置倍增器电压650V◗调整离子源参数，得到最优化的离子强度和峰形◗设置合适的分辨率和离子能量达到单位质量分辨率
在整个校正范围内得到一个好的质量峰分布◗检查标样中m/z大于500amu峰强度◗同样也要检查m/z89和133信号强度(对于PEG碎片-强度随锥孔电压的升高而变强)准备校正准备校正准备校正准备校正删除现存的校正表
从校正窗口:File|LoadCalibration
选择Uncal.CAL校正文件
选择Process|Deleteallcalibration
选择File|SaveCalibration准备校正准备校正选择参数
参照物质量表
校正参数(一般用缺省值)
校正结果自动监测参数(一般用缺省值)
质量测量参数
采集参数(缺省参数自动链接到所选择的参照物文件表)校正校正从AcquisitionControlPanel窗口选择:Instrument|Calibrate选择参照物质量表选择校正参照选择校正参照选择校正参照选择校正参照物质量表物质量表物质量表物质量表Fold隐含或隐含或隐含或隐含或显示校正状态显示校正状态显示校正状态显示校正状态校正参数校正参数从校正窗口选择:Edit|CalibrationParameters选择允许丢失峰的最大值曲线拟合参数控制曲线的类型，用来产生一个质量标尺校正曲线校正后的自动检查校正后的自动检查从质量校正窗口:Edit|AutoCalCheckParameters在仪器成功完成校正之前，必须完全符合校正参数限制才能进行质量测量参数质量测量参数从质量校正窗口:Edit|MassMeasureParameters这个参数决定如何计算峰的质量分布，以及如何转换continuum和MCA数据成centroided数据(需要校正)选择选择选择选择SavitzkyGolay和和和和Centroidtop(80%)峰中心化参数峰中心化参数峰中心化参数峰中心化参数自动校正自动校正选择校正窗口:clickontheStartbutton校正采集参数校正采集参数从自动校正窗口选择:AcquisitionParameters缺省参数自动链接到所选择参照物质量表实施校正实施校正选择自动校正窗口:OK(开始校正)复查校正数据复查校正数据从质量校正窗口选择:Process|Calibrationfromfile…选择复查的校正类型，然后选择OK复查校正数据复查校正数据校正结果报告校正错误的故障排除校正错误的故障排除问题没有信号丢失太多的峰可能的原因进样量太少没有流动相进入离子源倍增器电压太小参照物样品用完了(低信号强度，没有发现峰)倍增器电压太低选择不正确的电离模式(ES+,ES-,APCI+,orAPCI-)强度阈值设置太高(校正参数窗口内)初始化错误或峰窗口参数(校正窗口内)太小超过了最大标准偏差(自动校正检查窗口)选择了错误的参照物质量表质量校正的确认质量校正的确认可以确认现存的校正表
如果扫描采集方式完成后，则校正也会检查◗开启仪器并进入质量校正窗口，即可完成全部质量校正◗设置所有峰匹配参数到目前使用的校正表的数值◗打开自动校正窗口，选择Start...进入进入进入进入◗选择ScanningCalibration然后取消StaticCalibration和和和和ScanSpeedCompensation.◗取消Acquire&Calibrate然后选择Acquire&Verify和和和和PrintReport.再校正再校正何时需要进行再校正...
当质量范围或扫描速率超过了现存的校正表
完成仪器保养/更换硬件后(例如，更换线路板后)
发现有质量漂移时数据文件的再校正
采集后的数据还可以被重新校正
从校正窗口选择:Process|Recalibratedatafile
数据文件则可通过现存的校正文件重新校正QuestionsQuestions