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DVF及VFD說明大綱1.DVF功能說明2.VFD功能說明3.LED材料SCR特性4.測試材料之實驗5.結論DVF功能說明•測試功能–可測試材料在加熱前後的VF變異•量測方法–可設定3道電流量測材料–第1道電流量測初始VF–第2道電流加熱LED–第3道電流量測加熱後VF值–計算初始和加熱後VF差異(VF)DVF設定方式設定参數•IFM1:–設定第一道流經材料的電流值•IFP:–設定加熱材料時的電流•IFM2:–設定第二道流經材料的電流值•測量順序為:–IFM1IFPIFM2DVF讀值定義VFM1:IFM1所量測到的VF值(未加熱)VFM2:IFM2所量測到的VF值(加熱後)DVF:VFM2-VFM1的讀值(VF)VFD功能說明•測試功能–為量測VF凸峰的變異值•測試方式可區分為兩種–多次測試取平均•依設定模式可以測試5~8次–單週期測試•開啓單週期測試功能只做1次VFD測試VF變異VFD多次測試設定方式設定参數IFD参數的定義:0:不做此項目測試1:以100uA電流測試(連續測8次取平均)2:以25mA電流測試(連續測5次取平均)3:AUTO測試(先作100uA後再作25mA測試取兩者之間最大的讀值)VFD單次測試設定方式設定参數IFD参數的定義:0:不做此項目測試1:以100uA電流測試(僅作單次量測)2:以25mA電流測試(僅作單次量測)3:AUTO測試(先作100uA後再作25mA測試取兩者之間最大的讀值)VFD次測試讀值定義VF:指測量最後的VF值(VFF)VFD:指測量最高VF值減掉最後VF值(VFD=VFP-VFF)VFPVFFVFD單週期功能設定若要開啟此功能需在測試機工程模式下進行設定(如下圖,PAGE5):IFD1PULSEWIDTH(Ms,0=NORMAL)---(指設定VFD100uA所輸出的電流時間)IFD2PULSEWIDTH(Ms,0=NORMAL)---(指設定VFD25mA所輸出的電流時間)＃電流設定及量測讀值顯示同於VFD多次測試時間IFDPulsewidthLED材料SCR特性SCR特性主要分為:1.Thyristor(閘流體效應)2.Snapback(熱內縮效應)Thyristor(閘流體效應)Thyristor:LED的主要材料是pn接面，而閘流體(Thyristor)是電子電力常用的控制元件，當它的厚度不均勻的時候就會有pn層面交錯的情形產生，此時的電壓差就會有很大的差異，這就是「閘流體效應」，而若電壓差太大的話就顯示此產品的品質不太好，所以這也可以用來衡量LED的品質。(如右圖)Snapback(熱內縮效應)Snapback:與Thyristor之特性很像,主要差異在於Thyristor不會因為熱或其他因素而造成特性上的變化,而Snapback則會因為熱等因素而使特性產生變化甚至會使原本特性不見(如右圖)紅線為:瞬間VF的曲線棕線為:點亮後一小段時間的曲線藍色為:穩定後的曲線測試材料之實驗實驗方式:根據材料特性以DVF及VFD的方式來驗証量測的差異性實驗步驟為:1.取1顆有Thyristor材料及1顆有Snapback2.用DVF,VFD多次平均及單週期三種方式量測3.實驗結果實驗結果Thyristor(閘流體效應)材料測試#此材料特性為短暫的突波效應1.DVF量測:將材料加熱並無法量測到突波的VF,無法檢測出VF的差異2.VFD-多次量測:可以取得突波VF值有效呈現出VF的差異3.VFD-單週期:只做一次測試但仍可以取得突波VF值呈現出VF的差異DVFVFD-多次測試VFD-單週期實驗結果Snapback(熱內縮效應)材料#此材料特性為材料受熱後產生VF下降的現象1.DVF量測:將材料加熱後再比對可檢測出VF的差異2.VFD-多次量測:無法達到加熱效果,VF的差異無法呈現3.VFD-單週期:只做單一次測試且可設定量測時間可達到加熱材料的效果,VF的變異仍可呈現DVFVFD-多次測試VFD-單週期結論•依據材料特性的不同必須選用適當的量測方式來符合VF異常的篩選需求•量測的結果呈現出VF的差異變化,可根據材料的特性變更測試條件來增加VF變異性以利篩選出異常的材料謝謝聆聽