THGQC-1 80C51实验指导书

目录第一章初级软件实验部分…………………………………………………………………………1实验一二进制转换成十进制实验…………………………………………………………1实验二无符号数十进制加法实验…………………………………………………………3实验三数据传送实验………………………………………………………………………4实验四数据排序实验………………………………………………………………………5第二章硬件接口实验部分…………………………………………………………………………8实验五I/O口输入、输出实验………………………………………………………………7实验六定时器实验…………………………………………………………………………8实验七计数器实验…………………………………………………………………………9实验八音频控制实验………………………………………………………………………10实验九7279键盘显示实验…………………………………………………………………12实验十独立式键盘实验……………………………………………………………………13实验十一8155交通灯控制实验……………………………………………………………14实验十二LED双色点阵显示实验…………………………………………………………15实验十三液晶显示实验……………………………………………………………………16实验十四RS232通信实验…………………………………………………………………18实验十五SRAM外部数据存储器扩展实验…………………………………………………19实验十六FlashROM外部数据存储器扩展实验…………………………………………20实验十七SMbus串行EEPROM数据读写实验………………………………………………22实验十八外部中断实验……………………………………………………………………24实验十九AD转换实验………………………………………………………………………25实验二十DA转换实验………………………………………………………………………27第三章应用实验部分………………………………………………………………………………29实验二十一DS18B20温度测量与控制实验………………………………………………29实验二十二直流电动机驱动实验…………………………………………………………32实验二十三步进电机驱动实验……………………………………………………………33实验二十四语音芯片控制实验……………………………………………………………35实验二十五电子时钟实验…………………………………………………………………40实验二十六USB从模式和PC机通信实验（选做）………………………………………41实验二十七单片机与CPLD实验……………………………………………………………44附录一系统原理图…………………………………………………………………………………46附录二THKL-C51仿真器联机及软件的使用说明………………………………………………70附录三使用THGQC-1实现KeilC的在线调试………………………………………………85附录四系统各跳线器的初始设置状态表…………………………………………………………911第一章初级软件实验部分实验一二进制转换成十进制实验一、实验设备1.THGQC-1型嵌入式单片机实验开发系统－套。2.PC机一台。注：其它实验与此相同，此项以后不再重述。二、实验目的掌握汇编语言设计和实验步骤，熟悉在KEIL环境下观察内部RAM的方法。三、实验内容单片机中的数值有各种表达方式，这是单片机的基础。掌握各种数制之间的转换是一种基本功。本实验内容是将一个给定的一字节二进制数，通过编程将其转换成十进制码。四、实验步骤1）启动PC机，打开KEIL软件，软件设置为模拟调试状态。在所建的Project文件中添加TOBCD.ASM文件，打开TOBCD.ASM文件，阅读、分析、理解程序，编译程序进行调试。（如何建立工程请看附录说明）2）打开RAM观察窗口，根据示例程序注释设置断点，运行程序。程序具体功能是将累加器A的值拆为三个BCD码，并存入RESULT开始的三个单元，例程A赋值#0ffh。打开MEMORYWINDOW数据窗口，（在MEMORY#1中输入D:30H）观察RAM地址30H、31H、32H的数据变化，30H更新为02，31H更新为05，32H更新为05。3）修改源程序中给累加器A的赋值，重复实验，观察实验效果。4）打开CPU寄存器窗口，选择单步或跟踪执行方式运行程序，观察各寄存器的变化，可以看到程序执行的过程，加深对实验的了解。五、实验程序参考框图2六、实验参考程序RESULTEQU30HORG0000HJMPSTARTORG0100HSTART：MOVSP，#40HMOVA，#0FFHCALLBINTOBCDNOP；此处设置断点，察看RAM30H，31H，32HLJMP$BINTOBCD：MOVB，#100DIVABMOVRESULT，A；除以100得百位数MOVA，BMOVB，#10DIVABMOVRESULT+1，A；余数除以10得十位数MOVRESULT+2，B；余数为个位数RETEND3实验二无符号数十进制加法实验一、实验目的掌握无符号数、十进制加法,熟悉在KEIL环境下观察内部RAM的方法。二、实验内容编写并调试一个双字节无符号十进制数加法程序，其功能为将被加数写入30H、31H单元，加数写入40H、41H单元，运行程序结果写入52H、51H、50H单元中，则加法程序功能为(31H)(30H)+(41H)(40H)=(52H)(51H)(50H)（都是高位在前、低位在后）。三、实验步骤1）启动PC机，打开KEIL软件，软件设置为模拟调试状态。在所建的Project文件中添加ADD.ASM文件，打开ADD.ASM文件，阅读、分析、理解程序，编译程序进行调试。2）打开RAM观察窗口，根据示例程序注释设置断点，运行程序，打开MEMORYWINDOW数据窗口，分别观察30H（在MEMORY#1中输入D:30H）观察RAM地址30H、31H、40H、41H、50H、51H、52H的数据变化。示例程序执行:3412H+7856H，结果为0AC68H。四、实验参考程序DATA0EQU12HDATA1EQU34HDATA2EQU56HDATA3EQU78HORG0000HAJMPSTARTORG0100HSTART:MOV30H，#DATA0MOV31H，#DATA1；被加数送31H，30HMOV40H，#DATA2MOV41H，#DATA3；加数送41H，40HMOVA，30HADDA，40H；(30H)+(40H)→AMOV50H，A；保存低位结果MOVA，31HADDCA，41H；(40H)+(50H)+CY→AMOV51H，A；保存高位结果MOV52H，#0MOVA，#0ADDCA，52HMOV52H，A；进位→52HSJMP$；此处设置断点，察看RAM30H,31H,40H,41H,50H,51H,52HEND4实验三数据传送实验一、实验目的1.掌握对8051内部RAM及外部RAM的数据操作。2.掌握对8051片内外扩RAM的操作方法。二、实验内容本例程将内部RAM70H～7FH的16个数据送到外部RAM7000H～700FH。三、实验步骤1）启动PC机，打开KEIL软件，软件设置为模拟调试状态。在所建的Project文件中添加Tran.ASM文件，打开Tran.ASM文件，阅读、分析、理解程序，编译程序进行调试。2）打开VIEW菜单中打开MEMORYWINDOW数据窗口，分别观察70H（在MEMORY#1中输入D:70H并在其中输入任意的值）、7000H(MEMORY#2窗口输入X:7000H)。运行程序，观察内外70H和7000H的相对应的数据区的数据是否一致。3）可单步执行程序，观察数据传送过程。四、实验参考程序ORG0000HJMPMAINORG0100HMAIN:MOVR7,#16MOVR1,#70H；内部RAM地址70H送R1MOVDPTR,#7000H；DPTR指向XRAM地址7000HLOOP:MOVA,@R1；内部RAM内容送累加器AMOVX@DPTR,A；将累加器A的值送到XRAMINCDPTRINCR1DJNZR7,LOOP；判断数据是否送完NOP;次处设置断点观查7000H的值是否和70H的值一样END5实验四数据排序实验一、实验目的掌握排序程序的设计方法。二、实验内容本例程采用交换排序法将内部RAM中的50～59H单元中的10个单字节无符号二进制数按从小到大的次序排列，并将这一列排序后的数据从小到大依次存贮到外部RAM1000H开始处。三、实验步骤1）启动PC机，打开KEIL软件，软件设置为模拟调试状态。在所建的Project文件中添加Order.ASM文件，打开Order.ASM文件，阅读、分析、理解程序，编译程序进行调试。2）在VIEW菜单中打开MEMORYWINDOW数据窗口，分别观察50H（在MEMORY#1中输入D:50H）、1000H(MEMORY#2窗口输入X:1000H)3）可在程序指令NOP处设置断点，在第一个断点处可观察50～59H单元内容是否为10个任意排列原始数据。4）在第二个断点处可观察每次排序的结果。5）可单步执行程序观察排序过程。四、实验参考程序ORG0000HJMPMAINORG0100HMAIN：MOVR0，#50HMOV@R0，#5FHINCR0MOV@R0，#56HINCR0MOV@R0，#5AHINCR0MOV@R0，#5EHINCR0MOV@R0，#51HINCR0MOV@R0，#5BHINCR0MOV@R0，#53HINCR0MOV@R0，#58HINCR0MOV@R0，#57HINCR0MOV@R0，#55H；将10个随机数送入内部RAM的50～59H单元NOP；可在此处设置断点ACALLQUE；调用排序子程序OUT：MOVR0，#50H6MOVDPTR，#1000HMOVR7，#10OUT1：MOVA，@R0MOVX@DPTR，AINCR0INCDPTRDJNZR7，OUT1HERE：AJMPHERENOP；可在此处设置断点，观察每次排序结果QUE：CLR00H；清交换标志MOVR1，#50HMOVR6，#09HI3：MOVA，R6MOVR7，AMOVA，R1MOVR0，AMOVA，@R0I2：INCR0MOVR2，ASUBBA，@R0MOVA，R2JCI1SETB00HXCHA，@R0I1：DJNZR7，I2JNB00H，STOPMOV@R1，AINCR1DJNZR6，I3RETEND7第二章硬件接口实验部分实验五I/O口输入、输出实验一、实验目的掌握单片机I/O口输入、输出数据的方法；二、实验内容以P1口为输入口，接八位逻辑电平输出，以P0口为输出口，接八位逻辑电平显示，编写一个程序，读入P1口状态并在P0口输出显示。三、实验电路实验电路参见指导书中的附录一系统原理图。系统原理图的第一部分为MCU模块，详细地描述了MCU的管脚连接。系统原理图的其它部分为各模块原理图。本实验所需电路请参见系统原理图的第一部分和图9-1、图10-1。四、实验步骤1）系统各跳线器处在初始设置状态（参见附录四），J1的8只短路帽打在1,2处,3,4五只短路帽打在右边,用8位数据线连接八位逻辑电平输出模块的JD50到MCU的JD12(P1口),MCU的JD13连接到八位逻辑电平显示模块的JD30。2）启动PC机，打开KEIL软件，软件设置为硬件调试状态。在所建的Project文件中添加“LED.ASM”文件，打开“LED.ASM”文件，阅读、分析、理解程序，编译程序进行调试。3）观察发光二极管的亮灭与拨动开关的状态是否一致。设拨动开关拨下输出为低电平，发光二极管点亮。改变拨动开关的状态，发光二极管的亮灭随之变化。五、源程序：ORG0000HLJMPSTARTORG0100HMAIN：MOVA，#0XFFMOVA，P