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6sigma黑带改善降低高内阻不良率项目部门：项目黑带：开始时间：2008.3.18完成时间：2008.8.30Sixsigma制造三部高内阻改善项目Sixsigma团队成员ChampionLeaderMemberMemberMemberMember朱明星Member方案规划、协调过程相关事宜，进度跟踪和控制，主导数据收集和原因分析,协调改善方案协调公司资源对本项目予以人员、物质等支持和指导负责方案培训、指导，客户和专业信息收集、分析指导负责滚槽B班人员改善项目措施执行和控制负责滚槽A班人员改善项目措施执行和控制负责项目改善方案、措施的跟进，实验验证制造三部高内阻改善项目负责设备的管理和维护,原因分析和改进项目SixsigmadataDefineMeasureAnalyzeImproveControl3.18-4.30完成现状分析和目标定义，完成项目财务收益估算4.30-5.30完成主要X的MSA，并找到主要的X项目5.30-6.30确认主要X6.30-7.30寻找对策控制X，使X得到有效控制7.30-8.30有效改善对策的标准化，进一步控制X项目进度表制造三部高内阻改善项目SixsigmaDefine阶段制造三部高内阻改善项目选题理由VOPCTQMSAY现状能力Y分布规律目标设定财务分析SixsigmaD阶段的思路项目选择的理由明确客户需求确定关键CTQY的分布规律预算财务收益制造三部高内阻改善项目MSAY的现状水平Y的目标制订现状分析VOC/VOB调查高内阻不良品的解剖小组讨论关键CTQ确定＋＝确定关键CTQ的计算公式图表展示Y现状对Y的现状进行统计确定Y和各小y的目标按目标进行收益评估SixsigmaVOC声音：发给客户高内阻电芯数量增多且不稳定0011000210010030000061231231626024681012141618K22K23K24K26K27K28K29K30L01L03L04L05L06L07L10L11L12L14L15L25L26L28L31A01A02A03A04A26A28HighIRCellquantityineachbatchoutshipmenttoSMPPCSBatch制造三部高内阻改善项目选题理由VOPCTQMSAY现状能力Y分布规律目标设定财务分析07年高内阻Y的不良率分布Sixsigma制造三部高内阻改善项目汇总07年10-12月份高内阻电芯占生产电芯不良率为:13800PPM；而占工序检测次品数不良率为:24610PPM；右表为各月份高内阻电芯占批次不良最高比率的两个批次。批次高内阻最高不良批次不良率10月4VM7H258.18%11月4VM7J132.32%4VM7K082.49%12月4VM8K272.05%4VM8K292.01%选题理由VOCCTQMSAY现状能力Y分布规律目标设定财务分析07年10月份至12月份高内阻推移图0.00%1.00%2.00%3.00%4.00%5.00%6.00%7.00%8.00%9.00%4VM7H234VM7H244VM7H254VM7K024VN7J124VN7J134VN7J184VN7J194VN7J204VN7J254VN7J264VN7J274VN7K054VN7K084VN7K104VM7K214VM7K224VM7K234VM7K244VM7K264VM7K274VM7K284VM7K294VM7K304VM7L014VM7L034VM7K234VM7K27Total系列208年高内阻Y的公布:对比07年无明显下降趋势Sixsigma制造三部高内阻改善项目汇总1--4月份高内阻电芯占生产电芯不良率为:10200PPM；而占工序检测次品数不良率为:15830PPM；右表为各月份高内阻电芯占批次不良最高比率的两个批次。1-4月汇总高内阻趋势图0.00%0.50%1.00%1.50%2.00%2.50%3.00%3.50%4VM7K234VM7K284VM7L014VM7L054VM7L114VM7L174VM7L204VM7L254VM7L284VM8A014VM8A044VM8A084VM8A114VM8A184VM8A224VM8A244VM8A284VM8A314VM8B054VM8B124VM8B154VM8B194VM8B296VM8B224VM8B284VM8C044VM8C074VM8C104VM8C134VM8C194VM8C224VM8C254VM8C284VM8D01Total0.00%5.00%10.00%15.00%20.00%25.00%30.00%35.00%40.00%45.00%50.00%内阻不良所占检验数比率内阻不良所占次品数比率批次高内阻不良率1月4VM7L012.04%4VM7L101.69%2月4VM7L272.23%4VM7L282.22%3月4VM8B162.38%4VM8B192.11%4月4VM8C202.96%4VM8C212.58%选题理由VOCCTQMSAY现状能力Y分布规律目标设定财务分析Sixsigma1.提高极耳焊接合格率。2.提高卷绕焊接合格率。1.降低高内阻比率,高内阻不良品不流出厂。2.降低品质失败成本。高内阻出货为零内部顾客VOP制程QC内部顾客VOB公司领导外部顾客VOC客户VOC&VOB&VOP汇总1、提高制程能力,减少高内阻电芯比率2、降低品质失败成本选题理由VOCCTQMSAY现状能力Y分布规律目标设定制造三部高内阻改善项目Sixsigma制造三部高内阻改善项目选题理由VOPCTQMSAY现状能力Y分布规律目标设定财务分析NGOKOKOKOKNG领取高内阻电池放电测量电池内阻值解剖顶盖测量帽盖内阻值判定高内阻原因:帽盖内阻NG测量正极耳与钢壳内阻值检查正极耳状态解剖查看负极点焊情况解剖钢壳测量极组内阻值NG判定高内阻原因:极组内阻NG判定高内阻原因：负极耳虚焊1.判定高内阻原因:正极耳抽出NG2.电芯内部不明断路NG高内阻电池原因分析解剖流程图Sixsigma制造三部高内阻改善项目图二：测帽盖内阻图三：测卷芯内阻图四：负极耳虚焊图五：负极耳弯折未焊接图六：负极耳弯折，半个焊点图一：用管钳解剖选题理由VOPCTQMSAY现状能力Y分布规律目标设定财务分析解剖寻找Y的CTQSixsigma制造三部高内阻改善项目解剖507pcs高内阻电芯，进行原因分析，不良原因结果如下：选题理由VOPCTQMSAY现状能力Y分布规律目标设定财务分析负极耳虚焊负极耳弯折正极耳抽出类别0.8%4.9%94.3%高内阻电池不良项目饼图SixsigmaO高内阻IY:负极耳虚焊选题理由VOCCTQMSAY现状能力Y分布规律目标设定制造三部高内阻改善项目滚槽负极点焊f(X)目前Y的CTQSixsigma选题理由VOCCTQMSAY现状能力Y分布规律目标设定制造三部高内阻改善项目部件间再现性重复量具R&R100500百分比%贡献0.500.250.00样本极差_R=0.2667UCL=0.6865LCL=0姜彩虹张娜娜赵时枚565248样本均值__X=54.01UCL=54.29LCL=53.74姜彩虹张娜娜赵时枚10987654321605550编号赵时枚张娜娜姜彩虹605550测量人员10987654321565248编号平均姜彩虹张娜娜赵时枚测量人员量具名称:内阻测试仪研究日期:2008-5-9报表人:周承亮公差:其他:变异分量R控制图（按测量人员）Xbar控制图（按测量人员）值H编号值H测量人员测量人员乘编号交互作用OCV1内阻测试柜MSA分析量具R&R方差分量来源方差分量贡献率合计量具R&R0.020550.33重复性0.020550.33再现性0.000000.00测量人员0.000000.00部件间6.2644599.67合计变异6.28500100.00研究变异%研究变来源标准差(SD)(6*SD)异(%SV)合计量具R&R0.143350.86015.72重复性0.143350.86015.72再现性0.000000.00000.00测量人员0.000000.00000.00部件间2.5028915.017399.84合计变异2.5069915.0419100.00由无人员误差，测量系统非常好。MSA测量系统：%研究变异≤30%,测量系统合格Sixsigma制造三部高内阻改善项目选题理由VOPCTQMSAY现状能力Y分布规律目标设定财务分析y1:负极耳虚焊94.28%Y的类别所占工序不良率所占产出率PPM9617PPM按08年1月至4月份止产出的高内阻不良品数，不良率合计是10200PPM计算得出数量478254百分比94.34.90.8累积%94.399.2100.0不良项目其他负极耳弯折负极耳虚焊5004003002001000100806040200数量百分比高内阻不良项目y的分布柏拉图按二八法则提取对高内阻影响最大的y，结合y的现状能力，分析得出:高内阻不良是：Y负极耳虚焊，数量占各项目Y的94.28%选题理由VOCCTQMSAY现状能力Y分布规律目标设定财务分析制造三部高内阻改善项目Sixsigma数量3589653百分比70.618.910.5累积%70.689.5100.0机器号1#3#2#5004003002001000100806040200数量百分比负极耳虚焊机器分布柏拉图负极耳虚焊分布机台左图是从解剖电芯的数据，分析负极耳虚焊所产出的设备分布规律柏拉图，从图中可得出：2#滚槽机负极耳虚焊数量占三台机器所产出的70.6%，为三台机器中最高。故：后续改善可着重分析2#滚槽机点焊工序。Sixsigma制造三部高内阻改善项目参照汇总至08年4月份止高内阻电芯现状,按达到0缺陷的方向提高70%的比率计算：总体目标=10200PPM*（1–0.7）=3100PPM故：项目目标是将高内阻不良率降低至3100PPM以下。选题理由VOCCTQMSAY现状能力Y分布规律目标设定10200ppm3100ppm020004000600080001000012000总体现状总体目标改善目标图系列1综合Y的分布规律和历史数据，得出：主要改善方向是对滚槽机负极耳点焊工序进行改善，从而降低高内阻电芯的产出。目标如左图高内阻电芯降档程度比例严重不良C品,91.18%轻微不良B品,8.82%轻微不良B品严重不良C品Sixsigma制造三部高内阻改善项目选题理由VOPCTQMSAY现状能力Y分布规律目标设定财务分析财务分析：高内阻电芯的不良率，由10200PPM减少到3100PPM，统计08年高内阻降档数据分析，1、降为B品的数量为8.82%,成本损失6元人民币；2、降为C品的数量为91.18%，成本损失为10元人民币。注：损失价格从财务部门获得。故按月200万电芯计算得出，每年节约成本约人民币:1,643,882元SixsigmaMeasure阶段制造三部高内阻改善项目影响CTQ的主要原因主要XDOEFMEASixsigma制造三部高内阻改善项目影响CTQ的主要原因主要XFMEADOE员工技能不熟练隔膜堵孔焊接异常未检查确认焊针钢壳镀层脱落焊接不良人设备材料环境方法焊接压力过大或过小焊接时间过小焊接电流过小预压时间过短焊接后延时过小钢壳表面污迹钢壳表面镀层不均匀极耳压痕深浅差异极耳表面污迹焊针表面油污焊针尺寸不合理焊针表面氧化、杂质焊针材质、针头变形焊针偏心隔膜堵孔未定量更换焊针未定时巡检焊针更换频次不合理巡检频次不合理焊针维护不规范工作台面不清洁交叉污染焊接不良原因鱼骨图Sixsigma制造三部高内阻改善项目影响CTQ的主要原因主要XFMEADOESixsigma制造三部高内阻改善项目影响CTQ的主要原因主要XFMEADOE滚槽负极耳点焊因果矩阵图:根据流程图的项目，用因果矩图分析，Y有两个项目：1、焊接强度；2、焊接外观。结果：1、红色区域是对负极耳点焊有重要影响的项目；2、黄色区域是对负极耳点焊次重要影响的项目；3、蓝色区域是对负极耳点焊次要影响的项