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FC简介2WhatisFlipchip?Whatis‘Flipchip’?Flipchip起源于60年代,由IBM率先研发。倒装芯片之所以被称为‘倒装’,是相对于传统的金属线键合连接方式(WireBonding)而言的。传统WB工艺,通过金属线键合与基板连接的芯片,电气面朝上(图1),而倒装芯片的电气面朝下(图2),芯片送入贴片时,先将芯片翻转以进行贴装,也由于这一翻转过程,而被称为“倒装芯片”。图1:WB产品图2:Flipchip产品LGA:10~100wires3WhatisFlipchip?倒装优点:与常规的引线键合相比,Flipchip封装最主要的优点为:A.拥有最高密度的I/O数;B.由于采用了凸点(Bump)结构,互连长度大大缩短,互连线电阻、电感更小,封装的电性能得到极大地改善;C.芯片中产生的热量可通过焊锡凸点(Bump)直接传输到封装衬底,通常在芯片衬底都装有散热器,故芯片温度会更低;D.减少封装尺寸与重量;BGA:100~1000wiresFCBGA:100~10000I/OI/O多?I/O多!I/O多?WaferBumping(晶元表面凸点)1.Waferbumping:通过电镀或者植球等工艺方式,在芯片表面I/Opad上形成Bump(凸点);2.Bump种类:A.GoldbumpB.CopperpillarbumpC.Solderbump-Platingbump-Stencilprintingbump-SolderballattachGoldbump3.Bumping工艺流程:(Solderbump&Copperpillarbump)CSP:SolderbumpCopperpillarbumpWaferBumping(晶元表面凸点)UFFCASMT下板QA上板&S/MPre-bakeFCAReflowDefluxUFPre-bakePlasmaUFUFCureSAT清洗烘烤3/O上Carrier基板预烘烤芯片倒装回流炉去Flux清洗离子清洗UF预烘烤UF点胶SAT抽检抽检基板清洗抽检基板除湿UF胶固化3rd检验QA3rd检验PassFail下CarrierPre-bakePrintingChipmount锡膏印刷表面贴装基板预烘烤倒装芯片封测流程7SurfaceMountTechnology(表面元件贴装):通过锡膏印刷的方式进行元件贴装,将电容、电阻、电感等元器件贴焊于基板上.锡膏印刷元件贴装印刷机:SP-18P-L贴片机:CM602-L倒装芯片封测流程8FlipchipAttach(芯片倒装):将芯片自Wafer抓取&翻转贴装于基板焊盘,并进行Reflow(回流炉),使芯片Bump与基板焊盘实现焊接。芯片翻转后/贴装前,需蘸助焊剂(Flux),其作用为Reflow过程中去除芯片Bump表面及焊盘表面氧化层,以利于Bump与Pad实现焊接,即实现助焊功能;DieattachReflowFliptoolBondtoolHeatDatacon8800FC回流炉:BTU倒装芯片封测流程ESEC2100FCFlipchipAttach(芯片倒装):芯片倒装过程模拟FliptoolBondingtoolPickup&FlipDipfluxDieattachProcesssimulation倒装芯片封测流程FlipchipAttach(芯片倒装):芯片倒装Process产品贴装之后通过X-ray确认芯片贴装效果,含芯片偏移/虚焊/桥接/Bump空洞等确认项.倒装前倒装后X-ray检查倒装芯片封测流程切片视图基板芯片Bump线路11Deflux(皂化剂清洗):Deflux(去助焊剂)清洗,将助焊剂残留物清洁,以避免后制程UF/MUF产生Void(填充不全).清洗液以一定角度自Nozzle散射,并交叉形成水帘,以保障清洗有效区能覆盖整条产品.NozzlewatercurtainFluxcleansolventflowDeflux机台倒装芯片封测流程12Plasma(等离子清洗):使用电解氩离子和高活性原子,将表面污染形成挥发性气体,再有真空系统带走,达到基板表面及芯片底部清洗作用,同时降低基板/芯片底部区域表面,促进Umderfill胶流动性;Plasma机台:TeplaPlasma清洗原理倒装芯片封测流程13Underfill(底部填充):在芯片侧边点胶,通过毛细作用使UF胶填满芯片底部,固化烘烤后对芯片形成包封保护.固化烘烤辅以Pressureoven(压力烘箱),能有效解决UFVoid问题;UnderfillProcess简称CUF(CapillarityUnderfill),属可选Process;UnderfillNozzlePCBEpoxy点胶机:ProtecNormal&Pressure烘箱点胶前点胶后SAT扫描倒装芯片封测流程14Underfill(底部填充-CUF):A.毛细作用及原理视图:指液体在细管状物体内侧,由于内聚力与附着力的差异、克服地心引力而上升的现象;Underfill点胶视图C.Underfill点胶模拟(Glassdie):B.压力烘箱原理视图:倒装芯片封测流程Thanks!

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