ICT测试原理

FoxconnTechnologyGroupSMTTechnologyDevelopmentCommitteeSMTTechnologyCenterSMT技術中心目錄Open/ShortResistorCapacitorInductorDiodeTransistorFETTestJetReglatorTTLTreeChainBoundaryScanOpen/Short測試利用恆定的電流源量測兩測試針點之間的電壓,以系統內設公式計算出兩點之間的阻抗值.開路測試時,測試程式根据短路群資料以檢查每一個短路群中的任意兩測試點在待測板上是否短路在一起,亦兩點之阻抗小于10歐姆,否則即是開路測試不良.短路測試時,系統逐一檢查每一短路群中任意一點與不同短路群中任意一點的阻抗是否大于5歐姆,否則即是短路測試不良.電阻測試定電流源量測電壓定電壓源量測電流電阻測試利用恆定的電流源或電壓源作為信號源﹐量測電壓值或電流值﹐以系統內設公式計算出被測元件的阻值﹐再与程式中設定的上下限進行比較﹒在實際測試中若元件間相互干扰影響測試結果必須考慮選擇隔离點﹒參考範圖一﹐在相接元件一的另一腳加上等高電位能﹐以防止電流流入相接之旁路元件.被測元件I元件一元件二Hi-PinLo-PinGuardingPoint等高Rx:1:SETSCANAT(CHA=1:CHB=6:CHC=10)2:MEASRHI=28LO=22V=200MI=128MRx電阻測試交流電壓源快速充電法增加Delay恆定電流源R=R1*R2/(R1+R2)低電流源Un-TestedInto2StepA-CandC-B交流電壓源F=10K/100K電容測試利用恆定的交流源作為信號源﹐量測電流值﹐以系統內設公式計算出被測元件的容值﹐再与程式中設定的上下限進行比較﹒在實際測試中若元件間相互干扰影響測試結果必須考慮選擇隔离點.Cx:1:SETSCANAT(CHA=2:CHB=9)2:MEASCSHI=10.90ULO=9.0UV=1F=100BIAS=0MAX=10.0U電感測試利用恆定的交流源作為信號源﹐量測電流值﹐以系統內設公式計算出被測元件的感抗值﹐再与程式中設定的上下限進行比較﹒一般情況會把電感當作電阻或跳線來測試,標準值設定為0歐姆到5歐姆之間,以其兩端的阻抗判斷被測元件在線路板上裝貼效果是否無空焊現象.Lx:1:SETSCANAT(CHA=256:CHB=328:CHC=0:GND=0)2:MEASRHI=5LO=0V=200MI=128MMAX=0DLY=0二極體測試Hi-PLo-P利用可程式電流源量測導通電壓,但一定要調整正確之高點與低點位置.測試發光二极體時必須使其發亮,測試齊鈉二极體時必須量測到其崩潰電壓值IC保護二極體測試也可利用可程式電流源量測信號點對Gnd之間的導通電壓,標準值一般為0.7V左右,但由于IC厂商不同或生產周期不同而有差异.1:SETSCANAT(CHA=102:CHB=354)2:SETDCIDCSI1=20MV=2.5DLY=0/*Forward*/3:MEASDCVDCMINTOV1HI=800MLO=600MDLY=04:SETDCIDCSI2=5MV=2.5DLY=05:MEASDCVDCMINTOV2DLY=06:TESTARITHRdHI=37.5LO=12.37:SETSCANAT(CHA=354:CHB=102)8:MEASDCVDCMINTOV3LO=1.8/*Reverse*/Rd=(V1-V2)/(I1-I2)Default:V=650mV,Rd=20CRx二極體測試電流源DelayRed:1.7-2.0Green:2.1-2.5Yellow:2.2-2.5Blue:3.8-4.5電壓源B--ADCSDCMUn-TestedUn-Tested電流源A-BAB電晶體測試放大系數BETA=((IE1-IE2)-(IB1-IB2))/(IB1-IB2)DCIDCSDCIDCMB1:SETSCANAT(CHA=5:CHB=8:CHC=2)2:SETDCIDCSIE1=-12MV=5DLY=03:MEASDCVDCMHI=900MLO=300M4:MEASDCIDCMINTOIB1DLY=05:SETDCIDCSIE2=-10MV=5DLY=06:MEASDCIDCMINTOIB2DLY=07:TESTBETAHI=200LO=20飽和電壓DCVDCSDCVDCM1:SETSCANAT(CHA=5:CHB=8:CHC=2)2:SETDCVDCSVBE=-4.5I=10MDLY=03:MEASDCVDCMHI=0.2/*Vce*/FET測試DCVDCSRds1:SETSCANAT(CHA=4:CHB=9:CHC=7)2:SETDCVDCSVgs=0I=20MDLY=03:MEASRHI=500/*ON*/4:SETDCVDCSVgs=-5I=20MDLY=05:MEASRdsLO=50K/*OFF*/MaxMinOFF-5.0050KON0.00500OFF+5.0050KON0.00500OFF0.0050KON+5.00500OFF0.0050KON-5.00500OFF-5.0050KON0.00500OFF+5.0050KON0.00500TypeStateVgsRdeDefaultNMOSdepletionPMOSdepletionNJFETPJFETNMOSenhancementPMOSenhancementTestJet測試IC內部的LeadFrame與SensorPlate之間存在微小電容量,從測試探針送一個300mV10KHz之信號到待測物的待測腳位上,此時SensorPlate上的Amplifier可以感應到一個電壓值.若待測腳空焊時LeadFrame上沒有信號,SensorPlate上的Amplifier無法感應到足夠大的電壓.Reglator測試123PowerOnFrequenceReglator測試5_VAUX3_3VAUXReglator測試12_0V_BP12_0V5_0V_BP5_0VTTL測試ABY000010100111ABYABY74081LLHH2LHLH3LLLH4LLHH5LHLH6LLLH13LLHH12LHLH11LLLH10LLHH9LHLH8LLLHTTL測試FromToVIHVILVOHVOL652561.30.61.00.42573521.80.61.50.43533843.30.83.00.63854803.30.83.00.64815443.30.83.00.65456723.30.82.80.867322003.30.83.00.6VoltageLevelTreeChain測試ABY001011101110Y=AB與非邏輯NANDTreeChain測試ABY000011101110Y=AB+AB異或邏輯XORTreeChain測試TreeChain測試ConnectONforallpinsofthischainSetallinputpinstoarrayPINSetallinputpinstoHiForallinputpins{SetPIN[I]toLoSenseoutputpin,saveresulttoV1SetPIN[I]toHiSenseoutputpin,saveresulttoV2If|V1-V2|1.0PIN[I]fail}ConnectOFFforallpinsofthischainBoundaryScan測試BoundaryScan測試Bscan內建測試線路是在每一個數位的輸入及輸出腳位連接至少一個Cell所組成第一個Cell連接輸入腳位TDI每個Cell的輸出點連接到下一個Cell的輸入點,最后一個Cell的輸出點連接到TDOCell可分為輸入及輸出型態測試時將TDO得到的輸出資料與偵測每一個輸出型態Cell的資料作為測試結果以判斷腳位是否開路.LearningwithoutthoughtislaborlostThanks