ICT测试原理及程式简介

ICT測試原理及程式簡介EPDVIIIICTRandy.xiang一.ICT的功能•ICT也叫在線測試儀，是一台靜態元件測試儀，它能准確，高速地測量PCB上已裝元件的不良問題，包括元件的漏件，錯件，裝反，空焊，來料不良，PCB上金道之間的開短路等。可測元件包括：電阻，電容，二極管，三極管，電感，變壓器，IC等絕大多數電子元件。二.ICT的硬件結構•ICT包括ICT系統主機，電腦系統，壓床，測試治具。其中ICT系統主機包括：電源部分，量測控制板，I/O卡，DC量測板，AC量測板，開關板，HP-JET量測板，高壓量測板(選配件)。公司:TRI(TestResearchInc.)德律科技產地:台灣工作條件治具類型:真空治具.真空壓力:最小56cmHg.外部真空管2根.氣壓:4kg/cm2～6kg/cm2.氣壓管1根.操作溫度:0。C～30。C.環境濕度:25%RH-75%RH.最小工作空間:深：1.5公尺。寬：2.0公尺。高：2.0公尺。TRI8001測試畫面公司:TRI(TestResearchInc.)德律科技產地:台灣工作條件電源:3ØAC220V-245V,50/60Hz±5%氣壓:4－6KGF／CM2TRI518測試操作畫面相匹配的治具簡介相匹配的治具必需為真空治具,即治具下壓的動力為真空.真空治具根據繞線長度分為:長線治具,短線治具和無線治具.我們現在使用的治具為長線治具.治具內部結構如下:SENSOR壓棒探針彈簧密封墊氣管油壓撐竿雙絞線繞線BUFFERBOARDInterfaceIntroductionofAgilent3070Agilent3070Family307X,upto5200nodes327X,upto1300nodes317X,upto2600nodesAnatomyoftheAgilentMedalist3070Agilent3070HardwareAgilent3070ElectronicsCabinetDUTpowersuppliesExternalInstrumentsTestheadFlatScreenMonitoronmoveablearm.Keyboardonmoveablearm.EndCabinetcontainsComputer,PowerDistributionUnit,Testheadrotationswitch.TestheadTestFixtureEmergencyPowerOffSwitchTestFixtureMotherBoard(oneperbank)ModulepowerSuppliesAgilent3070測試畫面AnatomyoftheAgilentMedalisti3070FixtureProbetoPinWiringTestProbeSupportPlateProbePlatePersonalityPinAlignmentPlatePrintedCircuitBoardFixtureFrameVacuumGasketR1StimulusResponseAnatomyoftheAgilentMedalist3070Agilent3070TestHeadBank2Bank1Module2Module0Module3Module1Slot1Slot1Slot1Slot1Slot1:ASRUSlot6:ModuleControlCardAllothers:PinCardsPin78-1Pin1-78FixtureNumberingBRC:BankRowColumnBank2Bank1Module2Module3Module0Module1Slot1:ASRUSlot6:ControlSlot1:ASRUSlot6:ControlSlot1:ASRUSlot6:ControlSlot1:ASRUSlot6:ControlMOTHERBOARDMOTHERBOARDRow1Row11Row13Row23Row1Row11Row13Row23Column7817811Aat:22061CLOCK_ENABLEat:21848DoubleDensitynodeat:220161Bank1Node:11848•AnatomyoftheAgilentMedalist3070•TheModuleControlCards•TheAnalogStimulus-ResponseUnit(ASRU)Agilent3070ModuleMothercardASRUcardControlcardPincardSlot1Slot2Slot3PincardSlot4Slot8Slot6Slot7Slot5Slot9Slot10Slot11PincardPincardPincardPincardPincardPincardPincardModulecardconfigurationASRUCard•提供模拟激励信号•使用测量运算放大器进行反馈信号的测量•提供上电测试的电源通道•配在每个模块第1号插槽ModuleControlCard•控制实际的测试过程•2个rcvc,测试频率•带有8个通用开关(GPRelay)•配在每个模块的第6号插槽MUXSIABLGMOADetectorAuxSourceHybridDoubleDensityChannelAChannelB............ChannelHPinCardX1.…...X8XGXLAnalogSubsystemDigitalSubsystem9:2R1ASRUHybrid32CardChannel0Channel8......6:2PinCardX1.…...X8XGXLDigitalSubsystem3:2MUXSIABLGMOADetectorAuxSourceAnalogSubsystemASRUICTTEST程式与夾具命名規則1.ICT程式命名規則設備型號T(TR8001,TR518),A(Agilent3070)T,A+P/N+EC+夾具套數2.ICT夾具命名規則設備型號T,A+P/N+夾具套數MHS机种为例：•P/N：69Y4784EC:N31078R•ICT程式命名:•A90Y4784N31078R_01•ICT程式命名:A90Y4784_01三.ICT的基本測試原理•1.隔離量測原理ICT其實是一台高級的萬用表，但它具有隔離(GUARDING)功能，這是它不同于萬用表的最大特點。GUARDING的作用是使一個被測元件在測試時不受旁路元件的影響，而萬用表做不到這一點。在ICT內部電路中利用一顆OP放大器當做一個隔離點（最多可有五個隔離點），如果是:source:•PinsTestPins测试概述•ICT测试的原理要求夹具的探针和电路板的测试点(testpad)要有良好的电气接触.•Pins测试就是在测试正式开始前验证探针和测试点有无接触的工序.•Pins测试只定性验证有无接触，pinspass是最低要求，并不能保证接触良好.(绕线出现错误；pins接触不好，阻抗大，但依然有currentflow;隔离点无法测)PinsTest“A”“B”“C”“D”“E”“F”“G”“Node_Names”+2.5V10KDVMSNodeEhasnocurrentflow.ItiscapacitivelyisolatedandcannotbetestedinPinsTest.PinsTest-SyntaxnodesAnodesBnodesCnodesD!nodesE”!nodecapacitivelyisolatednodes”Fnodes”GPinsTestCalledfromtestplanPinstest的预定义subSet_Custom_Option……globalOff,Pretest,Failure！设置全局常量globalChek_Point_Mode……Chek_Point_Mode=Pretest!choose{Off,Pretest,Failure}！选择pins测试模式，off＝不进行pins测试！pretest＝在其它测试前进行pins测试！failure＝其它测试fail后，进行pins测试endsubPins测试的调试①Pins测试中的节点排列顺序不影响测试结果②Pins测试中没有其他测试选项所以pins测试只有node的取舍哪些节点pins不可测?电容阻隔的点（capacitivelyisolated）－IPG自动注释只连到IC的NC脚的－IPG自动注释所连器件在板上都没有放(nopop)的－手动确认Part4•ShortsTest&OpensTestL201L201-1L201-2100ohmsDVM0.1VShortsTestoverviewShortsTest!IPG:revB.03.60datethreshold12settlingdelay50.00usettlingdelay525.0ushort“L201-1”to“L201-2”settlingdelay50.00ushort“J201-1”to“J201-2”...threshold1000...nodes“Data7”nodes“R201-2”nodes“R201-1”...threshold8...nodes“R202-2”nodes“R202-1”nodes“GND”DVML201SeriesResistance=6ohmsR202at33ohmsDVMR201at20kL201-1L201-2R201-1R201-2R202-1R202-2ExpectedShortsL201L201-1L201-2100ohmsDVM0.1V如图，对L201进行shorts测试，预期为短路。a).设置阀值为12欧姆，如果R测量12(threshold)，则测试pass，反之，fail。b).设置从加信号到开始测量的延时，以致等待信号稳定。c).测量两个节点之间的阻值，并判断！语法如下：!@Inthe“shorts”file@!!@Syntax@!!@short“Node_1”to“Node_2”@!threshold12Settlingdelay50uSettlingdelay525uShorts“L201-1”to“L201-2ShortsTest(GoodBoard)TestingForShorts100mV100W“A”“B”“C”“D”“E”“F”“G”“Node_Names”ShortsTest(BadBoard)TestingForShorts100mV100W“A”“B”“C”“D”“E”“F”“G”?WhichnodeisshortedtonodeC?AshorthasbeendetectedfromnodeCtooneoftheremainingnodesD,E,ForGShortsTest(BadBoard)TestingForShorts100mV100W“A”“B”“C”“D”“E”“F”“G”?WhichnodeisshortedtonodeC?AshorthasbeendetectedfromnodeCtooneoftheremainingnodesD,E,ForGNodeCisnotshortedtonodesDandENodeCisshortedtoeithernodesForGNodeCmaybeshortedtonodeGThisisnotassumed!NodeCisshortedtonodeG假象