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AccoTestSTS8107测试系统基础培训(6)——测试程序开发Rev1.0NewValuedMulti-siteAnalog/MixedSignalTester测试程序开发•测试方案设计•标配LOADBOARD的接口定义•手工DUT板注意事项•测试程序结构及函数•程序调试(debug模式)测试方案设计•研究testspec&datasheet–浏览参数的测试条件和判据，看是否超出了测试机源/表的工作范围–结合器件的datasheet，了解器件的特性和工作原理，了解每个测试参数含义–对有疑问的参数需要及时确认，包括与客户进行必要的沟通测试方案设计•设计测试方案的注意事项–合理分配测试机资源，尽量保证硬件配置的可扩充性–权衡测试方案的复杂度，确定选用手工DUT板或PCB板–测试条件相同或相似的参数，编程时可以考虑放在一起测试，减少源的切换，以节省测试时间标配LOADBOARD接口定义各类资源各类资源LOADBOARD与DUT板连接将LOADBOARD上所用到的各类资源通过64PIN的牛角插座引出64PIN排线手工DUT板（PCB）•手工DUT板注意事项1.功率器件的地线一定要粗壮；模数混合器件要保证一点接地2.合理安排外围元件的布局，尽量减少手工焊线交叉；手工焊线尽可能短3.要保证焊点质量，防止虚焊4.最好采用不同颜色的导线，用于区分不同功能，方便检查线路5.输入、输出引脚外接电容要尽量靠近管脚开发测试程序1.新建测试程序点击Edit按钮，进入PGSEditor编辑器的主界面进入PGSEditor编辑器的主界面之后，点击NEW创建一个新的PGS按照测试规范要求，输入测试函数（Function）以及对应测试函数（Param）FunctionParam按照测试规范要求，输入测试函数名（Function）按照测试规范要求，输入测试参数（Param）点击工具栏中的Code按钮生成测试程序•测试程序文件组成注：1）红色圈的文件为程序必须文件2）蓝色圈的文件为程序编译生成的dll文件3）绿色圈的文件为具有用户分bin信息的prg文件4）其他文件为程序调试时产生的文件5）当由于VC版本问题导致编译FAIL时，可以尝试将其他文件删除，进行编译打开7805.dsw双击test.cpp进入程序代码编写界面2.测试代码编写•test.cpp结构介绍包含了程序编译所需的专用头文件#define为宏定义，使程序更具可读性和易修改性定义需要用到的资源DVI400dvi0(0);相当于变量类型，属于关键字不能修改，如int相当于变量名，可以根据自己需要修改，如根据管脚命名源的逻辑通道代码，格式不能随意修改声明程序中用到的全局变量该程序段对2块DVI400，2块PVI10A，2块OVI40，1块QTMUPLUS四种资源做了2个工位的设置如测试为多工位，则需先对每个工位配置资源源工位物理通道0代表OVI40的前4个通道1代表后4个通道系统初始化函数，在每次测试前会调用此函数系统初始化函数，在每次测试后会调用此函数参数声明子函数体源操作源测量取结果，赋值源关断确保test.cpp为当前显示程序Build菜单Build7805.dll以编译程序，生成dll文件•编译生成dll文件编译结果提示为0error，0warning，说明编译成功，并生成dll文件测试程序调试（debug）确保test.cpp为当前显示程序Build菜单StartDebug点击Go，或者按快捷键F5，进入Debug模式。首次进入调试模式首次进入调试模式时，系统会提示选择所需要调试的应用程序，点击Browse，选择8200文件下的testui.exe点击Load选择所要Debug的程序，并点击Test，进行Debug测试程序调试（debug）方法1.一般调试的方法有改变加源的顺序、延时、箝位值，源断开的顺序等条件来达到稳定正确的测量值，同时通过调试研究敏感管脚对测试的影响，有时需要改变硬件电路。2.要求调试的时候要用示波器观看输入输出波形，目的是看波形是否干净，防止所测参数是器件工作在自激的状态下得到的。3.输入输出不能有大的过冲、下陷。4.对于FAIL的参数，可进入debug模式，看器件是否工作在归定的条件下，看加压、加流是否符合SPEC要求，有时可能由于器件特性，造成恒不了压或恒不了流。5.有时在调试小电流(nA)时，由于在加源端口挂上示波器会使测到的值FAIL，这时可以取下示波器，用万用表测量加源端口的值是否为器件工作时所需要的电压值或电流值。注意：Debug模式下器件管脚往往都带电，此时严禁插拔电缆等改变硬件电路的动作1.对每个参数单独调试。为了得到正确的测试结果:a.正确加载测试条件b.选择合适的电压、电流量程档位c.修改延时时间,使输入稳定d.调整加源顺序e.用示波器观察器件工作状态是否正常2.整体调试fail的原因主要是参数之间相互影响：a.器件管脚上的电容在测试完成后没有充分放电，导致对后续测试产生b.器件过热会导致测试结果偏离实际值c.对于调用完毕的DC源，要及时关断，避免对后续参数产生影响调试步骤