2.4二轴晶干涉图

三、二轴晶干涉图1.垂直Bxa的切面————椭圆2.垂直一个光轴的切面——圆3.斜交光轴的切面————椭圆4.垂直Bxo的切面————椭圆5.平行光轴面的切面———椭圆A.切面特点：光率体的切面为椭圆切面，主折射率分别为NmNp（+）和NmNg（-），有两个光轴出露点。NgBxoNpBxaNm(-)NgBxaNpBxoNm(+)1.垂直锐角等分线Bxa的切面干涉图B.干涉图的特点1)当光轴面平行上下偏光时，干涉图为一个黑十字与“∞”干涉色色环组成；2)黑十字中较粗者为Nm方向，细者为光轴面的方向，最细的两点为光轴的出露点，中心为Bxa的出露点。B.干涉图的特点3)转动物台，黑十字分成两个弯曲的黑带，45°位置时两弯臂的顶点最远，并为光轴的出露点，连接两光轴出露点即为光轴面的投影迹线AP；干涉色色环随之转动。B.干涉图的特点4)再转动物台45°，双曲线合并为黑十字，粗细位置互换。BxaB.干涉图的特点5)再转动物台45°，黑十字又分成两个弯曲的黑带，位置互换，依此类推。Bxa如果晶体的双折射率较小时，无干涉色色环，只有黑十字，其它位置为灰白干涉色。BxaC干涉图形成的原因消光和干涉原理光率体在视域中的分布规律遵循拜阿特—弗仑涅尔定律（拜—弗定律）：任意一点的光率体轴名方向为：这一点与二个光轴出露点连线的角平分线方向和与之垂直的方向。（拜—弗定律）：任意一点的光率体轴名方向为：这一点与二个光轴出露点连线的角平分线方向和与之垂直的方向。干涉图形成的原因D二轴晶干涉图的应用测定光性的正负判断轴性和切面方向利用二轴晶垂直Bxa的切面的干涉图测定光性的正负对于二轴晶：Bxa=NgBxo=Np正光性Bxa=NpBxo=Ng负光性必须利用45°位置的干涉图测光性光率体在视域中的分布规律：锐角区和钝角区光率体轴名分布方向相反。NmNmNmNgApNmNpBxaNgNmNpBxaNpNgNmApNgNpNmNmNm双折射率较低时选用石膏试板将干涉图转到45°位置插入石膏试板后，锐角区由灰白变蓝，对石膏试板而言，干涉色升高，同名轴平行；Nm方向已知，光轴面迹线方向Ap=Ng,则Bxa=Np,所以为二轴晶负光性。BxaNmNmNm如果利用钝角区测定，注意中心点的出露点为Bxo的方向。插入石膏试板后，钝角区由灰白变黄，对石膏试板而言，干涉色降低，异名轴平行；Nm方向已知，光轴面迹线方向Ap=Np,则Bxo=Ng,那么Bxa=Np,所以为二轴晶负光性。BxaNmNmNm练习：测定光性双折射率较高时，出现干涉色色环，选用云母试板。色环内收，干涉色升高色环外扩，干涉色降低插入云母试板，锐角区色环外扩，干涉色降低，异名轴平行，Nm方向已知，光轴面迹线方向Ap=Ng,则Bxa=Np,所以为二轴晶负光性。NmBxa利用钝角区也可以测定，注意中心点的出露点为Bxo的方向。插入云母试板，钝角区色环内收，干涉色升高，同名轴平行，Nm方向已知，光轴面迹线方向Ap=Np,则Bxo=Ng,那么Bxa=Np,所以为二轴晶负光性。练习：测定光性判断切面的方向和轴性转动物台360°黑十字和双曲线交替出现，即可判断为二轴晶，垂直Bxa的切面干涉图。2.垂直一个光轴的切片干涉图切面特点：光率体切面为圆切面，半径为Nm，不发生双折射，正交偏光下，干涉色最低。NgBxaNpBxoNm(+)干涉图特点：相当于垂直Bxa切面干涉图的一部分，因为此切面即是在垂直Bxa切面的基础上，倾斜至垂直一个光轴。干涉图特点当光轴面的迹线与上下偏光的振动方向平行时，出现一个黑臂和“∞”形干涉色色环的一部分。干涉图特点转动物台，黑臂弯曲，至45°位置时，弯曲程度最大，顶点为光轴的出露点，位于视域的中心。干涉图特点继续转至90°，又变成一直的黑臂，位置互换。干涉图特点干涉图特点干涉图形成的原因同垂直Bxa切面的干涉图。测定光性的正负判断轴性和切面方向二轴晶垂直一个光轴的切面的干涉图的应用利用垂直一个光轴的切面干涉图测定光性的正负方法同垂直Bxa切面干涉图道理一样：利用45°位置的干涉图，找出锐角区，根据垂直Bxa切面干涉图的对称性，找出另一个黑臂及Bxa的出露点的位置，利用试板测定光性。测定光性的正负如图，无色环，选用石膏试板。插入石膏试板后，锐角区（弯臂凸出的方向）变蓝，干涉色升高，同名轴平行，连接AP，Nm与之垂直，则AP=Np,Bxa=Ng,所以为二轴晶正光性。如果利用钝角区，注意中心出露点为Bxo的方向。插入石膏试板后，钝角区（弯臂凹的方向）变黄，干涉色降低，异名轴平行，连接AP，Nm与之垂直，则AP=Ng,Bxo=Np,那么Bxa=Ng,所以为二轴晶正光性。测定光性的正负测定光性的正负如果有色环，则利用云母试板。插入云母试板后，锐角区（弯臂凸出的方向）色环内收，干涉色升高，同名轴平行，连接AP，Nm与之垂直，则AP=Ng,Bxa=Np,所以为二轴晶负光性。测定光性的正负也可以利用钝角区测定，但要注意，钝角区中心点是Bxo的出露点。插入云母试板后，钝角区（弯臂凹的方向）色环外扩，干涉色降低，异名轴平行，连接AP，Nm与之垂直，则AP=Np,Bxo=Ng,那么Bxa=Np,所以为二轴晶负光性。判断切面的方向和轴性转动物台360°交替出现直臂、弯臂（双曲线的一支）或伴随有色环，即可判断为二轴晶垂直一个光轴的切面干涉图。3.二轴晶斜交光轴的切面干涉图切面特点：光率体的切面为椭圆，无数多个。分两种类型：垂直光轴面与光轴斜交的切面与光轴面和光轴均斜交的切面干涉图的特点:不垂直光轴，也不垂直Bxa，与光轴斜交角度大小有差异。垂直光轴面与光轴斜交的干涉图垂直光轴面与光轴斜交的干涉图与光轴面和光轴均斜交的切面干涉图与光轴面和光轴均斜交的切面干涉图干涉图形成的原因同前所述，只是倾斜的角度大小不同。二轴晶斜交光轴切面干涉图的应用测定光性的正负判断轴性和切面方向二轴晶斜交光轴切面干涉图测定光性的正负因为它们是⊥Bxa切面或⊥一个光轴的切面干涉图的一部分，所以测定光性时，利用这两种切面测定光性的方法，即利用45°的位置，找出锐角区或钝角区，选择合适的试板来测定。举例：插入石膏试板后，钝角区由灰白变蓝，对石膏试板而言，干涉色升高，同名轴平行；连接光轴面迹线方向Ap，与Ap垂直的方向为Nm，则Ap=Ng,又Nm方向已知Bxo=Np,那么Bxa=Ng,所以为二轴晶正光性。插入石膏试板后，锐角区（双曲线凸的一侧）由灰白变蓝，对石膏试板而言，干涉色升高，同名轴平行；连接光轴面迹线方向Ap，与Ap垂直的方向为Nm，则Ap=Ng,又Nm方向已知，所以Bxa=Np,该即晶体为二轴晶负光性。插入石膏试板后，钝角区（双曲线凹的一侧）由灰白变黄，对石膏试板而言，干涉色降低，异名轴平行；连接光轴面迹线方向Ap，与Ap垂直的方向为Nm，则Ap=Np,又Nm方向已知,Bxo=Ng,那么Bxa=Np,所以为二轴晶负光性。二轴晶斜交光轴切面干涉图根据转动物台后干涉图的特点（黑臂交替弯曲或呈直臂）即可判断为二轴晶斜交光轴的干涉图；直臂通过视域中心则为垂直光轴面与光轴斜交的切面干涉图，直臂不通过视域中心则为与光轴面和光轴均斜交的切面干涉图；45°位置时，弯臂在视域内，则与光轴斜交的角度较小，45°位置时，弯臂在视域外，则与光轴斜交的角度较大。4.垂直Bxo的切面干涉图切面特点：光率体切面为椭圆，主折射率为NmNg和NmNp。干涉图特点：因与垂直Bxa切面有相似之处，所以干涉图也有相似之处，只不过两光轴出露点相距较远。由于视域小，有时只能看见粗大的黑十字位于视域的中心，转动物台，黑十字迅速沿光轴面迹线逸出视域并分裂为两个弯曲的黑带。5、平行光轴面的切面干涉图切面特点：光率体的切面为椭圆，包含两个最大主折射率Ng,Np,正交偏光镜下，干涉色最高。干涉图特点：与一轴晶平行光轴的切面干涉图相似，当Bxa与Bxo平行上下偏光时，干涉图呈一个粗大的黑十字，几乎占满整个视域，稍微转动物台迅速逸出视域（瞬变干涉图）。作业1、根据锥光镜下干涉图随物台转动的变化规律，判断是何种晶体哪个切面的干涉图？2、下图为何种晶体哪个切面的干涉图？并分析光性的正负。