电测试制程简介2

电测试制程简介2电测试飞针测试简单测试机CCD测试机电容法测试电阻法测试电阻法测试电阻法测试SPSMESPSMESP两端式/四端式两端式两端式两端式/四端式复合治具打扁针治具复合治具CCD治具31.飞针电测试机一.电测试机类型42.简单电测试机电测试机类型53.CCD电测试机电测试机类型6二、电测试原理+-线路纸金属布电容正极介质层电容负极1.飞针电测试机--电容法7测试电容值：1=2=3，4=5=6电容测试原理说明电测试原理8测试电容值：12=3，4=5=6电容测试原理说明电测试原理9电容测试原理说明测试电容值：1=2=3，4=5=6电测试原理10电容法导通、绝缘测试原理飞针测试是运用相对电容的原理，线路网络投影到金属布的正对面积越大，测试的电容值越大。测试值和标准值比较，当测试值标准值的上限容差值，机器判定为HIGH，短路FAILA;当测试值标准值的下限容差值，机器判定为LOW，开路FAIL。电测试原理11电测试原理2.简单电测试机--电阻法两端式测试在接触式测试中两端式测试是目前普遍采用的一种方案，测试的精度虽然不高(1Ω),但是用来判断线路的开短路已经能满足绝大部分的线路板的需要。两端式测试等效电路图12两端式测试Vt为施加在测试两端的电压，通常在导通测试时小于15V，绝缘测试最高达250V。I为恒电流，保证测试时流过电路的最大保护电流，通常在导通测试时小于100mA。绝缘测试时为数十微安到不超过10mA。KH为高电流端流入的开关，KL为低电流端流入的开关，开关矩阵可以由高压晶体管或场效应管(MOS-FET)配对组成，配对数则为测试机最大可测试点数；V为测量电路，在图中导通测试时A、B为同一回路中的两个测试点，则RL+RS=VT/I。RS为回路接触电阻，实际测试时，则要减去（通常为经验值）。所以此测量方法并不是很准确，通常只能做到最小10欧姆的最小导通阀值。绝缘测试时，A、B分别为两个网络端点，V在实际测量时，要被放大100K倍左右才能测量出数十微安的漏电。RL=V/VT.A(A为放大倍数)电测试原理13电测试原理3.CCD电测试机--电阻法a.两端式测试(同简单电测试机）b.四端式测试四端式测试等效电路图14四端式测试四线测量是将恒流源电流流入被测电阻Rpcb的两根电流线和电压测量端的两根电压线分离开，使得电压测量端的电压不再是恒流源两端的直接电压。从图中可以看出，四线测量法比通常的测量法多了两根馈线，分开了电压测量端与恒流源两端连线。由于电压测量端与恒流源端断开，恒流源与被测电阻Rpcb、馈线RL1、RL2构成一个回路。送至电压测量端的电压只有Rpcb两端的电压，馈线RL1、RL2电压没有送至电压测量端。因此，馈线电阻RL1和RL2对测量结果没有影响。馈线电阻RL3和RL4对测量有影响，但影响很小，由于测试回路的输入阻抗（MΩ级）远大于馈线电阻（Ω级），所以，四线测量法测量小电阻的准确度很高。这是对导通性能测试的最精确的方法，此方法测量精度可分辨到10mΩ，最适合高频线路测试。相对两端式，四端式测试比较昂贵。电测试原理15＋VR1RxR2Ix数位转换器（ADC）电阻测试原理电测试原理16电阻测试原理说明HVR1R2数位转换器（ADC）IxRxW1W2电测试原理17电阻法导通、绝缘测试流程END显示错误资料低压测试显示错误资料高压测试FAILFAILPASSPASS显示“PASS”画面START电测试原理18项目一般能力可加工板尺寸Max:610mm×510mm板厚0.1-3.2mm最小测试pad尺寸50um最小测试中心距50um测试位置精度±50um三、飞针测试机能力19简单测试机能力专用测试机最大测试点数4096点可加工板尺寸Max:690mm×478mm测试电压10-250volts导通测试阻抗10Ω-20KΩ绝缘测试阻抗1MΩ-50MΩ测试电流≤20mA项目能力20简单测试机能力打扁针治具能力普通治具能力项目能力最小的PAD宽与PAD长度0.15mm*0.15mm最小的PAD直径0.15mm最小的PAD中心距(Pitch)0.25mm项目能力最小的PAD宽与PAD长度0.1mm*0.20mm最小的PAD直径0.10mm最小的PAD中心距(Pitch)0.20mm21最小的PAD直径45um最小的PAD中心距(Pitch)80um最大测试点数不限可加工板尺寸50*50mm–160*260mm可加工板厚0.1-3.2mm夹具布针面积40*40mm-140*140mm项目能力CCD测试机能力测试机能力治具能力最大测试点数4096*2点对位精度综合对位精度+/-25um，重复对位精度+/-5um测试电压10-250volts导通测试阻抗40mΩ-1KΩ测试电流10-150mA项目能力阻抗测试阻抗MAX：200MΩCCD摄相头解析度7.5um