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测量系统分析(MeasurementSystemAnalysis)计量型数据测量系统的分析计数型数据测量系统的分析学习目标●理解测量误差●理解计量型数据测量系统的分析方法●理解计数型数据测量系统的分析方法ProprietarytoSamsungElectronicsCompanyRev7.0测量系统分析-2什么是测量系统分析？测量系统分析的定义-MSA(MeasurementSystemAnalysis)-为了确保数据的可信度而评价或检测测量系统的水准-为了把握改善对象流程的现在能力要采集数据并确认采集数据的可信度用语的定义测量为了描述研究对象的某特定性质而对该性质赋予数值。-Eisenhart,C.(1963)测量系统包括所有为了获得测量设备或测量方法及其他设备、软件、测量环境、测量程序、测量者等的集合。ProprietarytoSamsungElectronicsCompanyRev7.0测量系统分析-3测量系统概要测量系统分析的必要性这石头的重量是多少？在通过数据进行改善时，如果数据的可信度无法保证的话，那么这种分析和改善将没有实质性意义。测量数据是用作决策的基础资料。为了正确地理解作为决策基本的数据的测量系统，测量系统的评价是改善活动中最根本的也是最重要的。8Kg7Kg10Kg正确的测量是正确决策的基础资料。ProprietarytoSamsungElectronicsCompanyRev7.0测量系统分析-4计量型数据测量系统分析计量型数据变动的类型观测到的流程变动观测到的流程变动实际流程的变动实际流程的变动反复性(Repeatability)反复性(Repeatability)偏移(Bias)偏移(Bias)稳定性(Stability)稳定性(Stability)再现性(Reproducibility)再现性(Reproducibility)测量系统的变动测量系统的变动长期流程变动长期流程变动短期流程变动短期流程变动测量系统之间的变动测量系统之间的变动测量系统内部的变动测量系统内部的变动线性度(Linearity)线性度(Linearity)准确度(Accuracy)精确度(Precision)测量系统应具备的基本识别能力ProprietarytoSamsungElectronicsCompanyRev7.0测量系统分析-5测量系统误差的种类测量误差=准确度(中心)的误差+精确度(分散)的误差准确度(Accuracy)-观测值体现接近真值的近似程度（平均的观点）-校正(Calibration)分析的必要性→校正周期，方法及程序精确度(Precision)-是指观测值之间的差异程度（分散的观点）-GageR&R分析必要→测量仪器的改善,测量方法标准化的改善MSproducttotalµµµ+=偏移真值测量值测量偏移MSproducttotal222σσσ+=分散真值测量值ProprietarytoSamsungElectronicsCompanyRev7.0测量系统分析-6准确度与精确度精确度-准确度高-精确度高-准确度高-精确度低-准确度低-精确度低-准确度低-精确度高准确度ProprietarytoSamsungElectronicsCompanyRev7.0测量系统分析-7准确度变动的原因偏移(Bias)偏移指基准值和测值的平均间的差异，偏移越少越准确。基准值Referencevalue观测平均ObservedAverage偏移(bias)0.750.80µtotal=µproduct+µMS原因-基准值的误差-测量设备的老化-刻度不佳的测量设备-错误特性值的测量-没有良好的校正-测量者不能正确使用测量设备ProprietarytoSamsungElectronicsCompanyRev7.0测量系统分析-8稳定性(Stability)稳定性指对于相同基准样品或者相同样品的特性，长时间测量时得出的测量值的总变动。µtotal=µproduct+µMS原因-与测量设备物理特性相关例)温度造成的影响稳定性Time2Time1ProprietarytoSamsungElectronicsCompanyRev7.0测量系统分析-9线性度(Linearity)线性度是指在测量设备的不同量程区域内测量值与真值间的差异程度。如果在测量设备测量范围内的整个区域里偏移值呈一定值出现，可以说线度性良好。线性差无偏移线性好真值观测值偏移原因-测量设备不能对范围内的低端和高端准确的校正-最少或最大基准数据的误差-测量工具的老化-测量工具的内部设计特性ProprietarytoSamsungElectronicsCompanyRev7.0测量系统分析-10精确度变动的原因反复性(Repeatability)反复性指对相同样本的相同特性用相同的测量设备由一名测量者进行多次测量而求出的测量值的变动。基准值平均平均基准值良好的反复性不好的反复性原因使用了落后的计测仪实际错误造成的计测仪内在工具或内部发生散布随工具位置变化的散布环境因素(照明,噪音)身体因素(视力)ProprietarytoSamsungElectronicsCompanyRev7.0测量系统分析-11再现性(Reproducibility)再现性是指对相同样本的相同特性用不同的测量系统进行测量而求出的变动。-对相同样本的相同特性用相同的测量设备由不同测量者进行测量-对相同样本的相同特性由同一测量者利用不相同的测量设备进行测量再现性测量者A测量者B测量者C原因-测量者测量方法，技术的差异-测量者测量设备的使用法和读取方法的不正确-测量顺序和方法不明确-为了帮助测量者保持一贯性，需要JIG测量设备C测量设备B测量设备AProprietarytoSamsungElectronicsCompanyRev7.0测量系统分析-12识别能力-所谓的识别能力指测量系统可探知所测量特性微细变化的能力，也称为分辨率-测量系统的识别能力不足的话，就不能将它作为确定流程变动的分析依据-测量系统的最小测量单位应该能够精确到测量出流程分散的范围及规格幅度的1/10个单位以上识别能力差识别能力好ProprietarytoSamsungElectronicsCompanyRev7.0测量系统分析-13计量型数据测量系统的分析程序阶段1阶段1阶段2阶段2阶段3阶段3阶段4阶段4阶段5阶段5测量数据的基本事项检讨测量数据的基本事项检讨识别能力检讨识别能力检讨准确度检讨准确度检讨精确度(GageR&R)检讨精确度(GageR&R)检讨稳定性检讨稳定性检讨-分析对象(X,Y)确认-运营定义确认-数据类型，规格确认等阶段1阶段1阶段2阶段2阶段3阶段3阶段4阶段4阶段5阶段5GageR&R计划GageR&R计划随机取样测量随机取样测量Minitab分析:GageR&RStudyMinitab分析:GageR&RStudyMinitab分析:GageRunChartMinitab分析:GageRunChart后续措施实施后续措施实施一般情况下，在整个测量系统中为了确保识别能力、准确度及稳定性都进行了检测校正，检讨只有在必须的情况下才实施。一般情况下，在整个测量系统中为了确保识别能力、准确度及稳定性都进行了检测校正，检讨只有在必须的情况下才实施。ProprietarytoSamsungElectronicsCompanyRev7.0测量系统分析-14计量型数据GageR&R注意事项-随机顺序测量-盲测：测试者需在事先不知道测量具体的样品条件下进行，防止霍索恩效应(Hawthorne)-读取测量设备数值应为最接近的数值,可能的话以最小刻度的一半为准例如最小刻度为0.1的话,读取推测值为0.05-各测量者为了求得测量值需使用相同的步骤(包含所有阶段)霍索恩效应：(Hawthorneeffect)1924-1926年进行照明实验总结出，(指工人、学生等因受到研究人员的关注而增加产量或提高成绩)，受人关注带来的提高(或进步)。ProprietarytoSamsungElectronicsCompanyRev7.0测量系统分析-15例题某电子元件生产商为了改善生产线由于产品外径的变动产生的不良制定了项目。他们首先要对测量产品的测量设备的可信赖性做评估以求数据的正确。以能够代表流程的10个产品,及测量者3人为对象,实施2次反复测量。(Tolerance1.5）[参考]前期已经确认识别能力、准确度及稳定性方面没有问题。ProprietarytoSamsungElectronicsCompanyRev7.0测量系统分析-16阶段1GageR&R计划-选出10个能够代表整个流程范围最少80%的样品。-反复:2次-测量:3人[参考]标本的选定样品采样从流程开始并且应能够代表整个过程的变化范围样品范围流程分散样品范围=流程分散样品范围流程分散测量系统的评价指标要测量系统的评价指标比实际要好比实际要差“Bad”Good!!“Bad”ProprietarytoSamsungElectronicsCompanyRev7.0测量系统分析-17阶段2样品测量-尽可能地对测量者或产品进行随机测量-事先让测量者不知道要参与实验，进行盲测-整个测量反复2次ProprietarytoSamsungElectronicsCompanyRev7.0测量系统分析-18阶段3Minitab分析–GageR&RStudy数据输入(文件名:GageR&R_Slide23.MTW)部品测量者测定值以Stack形式输入数据ProprietarytoSamsungElectronicsCompanyRev7.0测量系统分析-19Minitab分析StatQualityToolsGageStudyGageR&RStudy(Crossed)...3Gage名称,日期等信息输入Gage名称,日期等信息输入261Minitab上的分析方法有ANOVA法和XbarandR法,ANOVA法更为优越一些。因为ANOVA法考虑到了测量者与部件间的交互作用。Minitab上的分析方法有ANOVA法和XbarandR法,ANOVA法更为优越一些。因为ANOVA法考虑到了测量者与部件间的交互作用。4如果知道ProcessTolerance,请输入如果知道ProcessTolerance,请输入5ProprietarytoSamsungElectronicsCompanyRev7.0测量系统分析-20MinitabSession解析GageR&R%ContributionSourceVarComp(ofVarComp)TotalGageR&R0.004437510.67Repeatability0.00129173.10Reproducibility0.00314587.56작업자0.00091202.19작업자*부품0.00223385.37Part-To-Part0.037164389.33TotalVariation0.0416018100.00Processtolerance=1.5StudyVar%StudyVar%ToleranceSourceStdDev(SD)(5.15*SD)(%SV)(SV/Toler)TotalGageR&R0.0666150.3430632.6622.87Repeatability0.0359400.1850917.6212.34Reproducibility0.0560880.2888527.5019.26작업자0.0302000.1555314.8110.37작업자*부품0.0472630.2434023.1716.23Part-To-Part0.1927810.9928294.5266.19TotalVariation0.2039651.05042100.0070.03NumberofDistinctCategories=4规格对比测量