TS16949—测量系统分析控制程序

XX公司程序文件版本：ACP-28测量系统分析控制程序修订:第0次Page1of3Version版次Update修订Page页码Update/ModifyReason制订/修订原因Author修订者Date日期Compile编制Dept.部门：Check审核Dept.部门：Approve批准Dept.部门：Name姓名：Name姓名：Name姓名：Date日期：Date日期：Date日期：Co-Signature会签Dept.部门：Name姓名：Date日期：XX公司程序文件版本：ACP-28测量系统分析控制程序修订:第0次Page2of31.目的为分析出现在各种测量和试验设备系统测量结果的变差，确定测量系统变差预期范围及变差产生的原因，进行纠正并改进的研究，提高产品质量，满足顾客的期望和要求。2.适用范围适用于本组织产品所使用的测量和试验设备系统变差控制。3.职责3.1生产部门负责提供熟练的测量人员测量数据；3.2质量部负责测量数据的收集并负责编制测量系统分析报告。3.3当测量系统达不到规定要求时，质量部组织研发部、生产部相关人员做PDCA改善分析。4.定义无5.工作程序5.1测量特殊特性的量具、用于统计过程控制的量具、控制计划中提及的量量检具以及根据其它测量的需要，进行测量系统分析。5.2确定需要进行测量系统变差分析的方法和日程，具体测量方法参见《统计技术指导书》。5.3根据《测量系统分析（MSA）》和实际情况进行测量系统变差分析：偏移、重复性、再现性、稳定性、线性。目前，一般情况下应保证重复性和再现性分析（GRR）。如顾客有特殊要求,再做其它特性分析。具体分析方法和操作步骤见《测量系统分析(MSA)》一书。5.4测量系统重复性与再现性分析的接收准则：5.4.1当GRR低于10%的误差—测量系统可接受；5.4.2当GRR10%到30%的误差—根据应用的重要性、量具成本、维修的费用等可能是可XX公司程序文件版本：ACP-28测量系统分析控制程序修订:第0次Page3of3接受的；5.4.3当GRR大于30%的误差—测量系统需要改进，进行各种方法努力发现问题并改正。5.5量具经过了修理后，应重新对量具做GRR的测量分析。6.引用相关文件6.1《统计技术控制程序》6.2《测量系统分析(MSA)手册》7.质量记录7.1《GRR表》