测定system分析(MSA)

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测定System分析(MSA)ProprietarytoSamsungElectronicsCompanyMeasure–测定System分析-2Rev2.0MeasureDefineAnalyzeImproveControl方法论Measure概要ProjectY基础统计测定System分析SixSigma测度工程能力分析ProcessMap&特性要因图FDMProprietarytoSamsungElectronicsCompanyMeasure–测定System分析-3Rev2.0测定System分析学习目标1.理解与测定System评价相关的用语2.理解测定System评价基准及方法-评价指标-评价步骤-标本选定-利用Minitab的分析ProprietarytoSamsungElectronicsCompanyMeasure–测定System分析-4Rev2.0MSA概要测定为了显示某物体的特性,给物体赋与数值。-Eisenhart,C.(1963)测定System被赋与的数值叫测定值(MeasurementValue),为得到测定值的设备叫仪器或Gage,并步骤、仪器及其它设备、Software、测定者等为得到测定值而使用的全部叫测定System.测定System分析MSA(MeasurementSystemAnalysis)为了确保DATA的信赖性,评价或检定测定System.为了确认改善对象Process当前能力的DATA收集前,先确认DATA是否可信。ProprietarytoSamsungElectronicsCompanyMeasure–测定System分析-5Rev2.0测定System误差或变动的类型位置(Location)或平均-偏离(Bias)-直线性(Linearity)-稳定性(Stability)宽度或散布-再现性(Repeatability)-反复性(Reproducibility)测定System误差ProprietarytoSamsungElectronicsCompanyMeasure–测定System分析-6Rev2.0意味着观测测定平均和基准值间的偏差。偏离又叫正确性。基准值Referencevalue观测平均ObservedAverage偏离偏离(Bais)测定System误差真值测定值的平均值ProprietarytoSamsungElectronicsCompanyMeasure–测定System分析-7Rev2.0仪器的全体测定可能范围内的倾斜差异。真值1观测值1倾斜小倾斜大真值2测定的下限范围测定的上限范围真值观测值倾斜无倾斜观测值2••••••直线性测定System误差ProprietarytoSamsungElectronicsCompanyMeasure–测定System分析-8Rev2.0起点1起点2稳定性把同样的特性在不同的起点用同样的Gage测定的结果平均值差异。测定System误差稳定性ProprietarytoSamsungElectronicsCompanyMeasure–测定System分析-9Rev2.0同样人使用同样部品、同样特性、同样机器反复测定得到的测定值之间散布。基准值平均平均好的反复性不好的反复性基准值测定System误差反复性ProprietarytoSamsungElectronicsCompanyMeasure–测定System分析-10Rev2.0测定同一特性时,互相不同的人使用同样机器得到的测定值之间的平均差。好的再现性不好的再现性再现性测定System误差评价者A评价者B评价者C评价者C评价者A评价者B基准值ABC基准值ABCProprietarytoSamsungElectronicsCompanyMeasure–测定System分析-11Rev2.0测定System误差不倾斜但不精密精密但倾斜既不精密又倾斜既不倾斜又很精密ProprietarytoSamsungElectronicsCompanyMeasure–测定System分析-12Rev2.0测定误差的评价正确性MSproducttotalMSproducttotal222精密度散布平均散布倾斜校正分析(CalibrationStudy)R&RStudy测定System评价ProprietarytoSamsungElectronicsCompanyMeasure–测定System分析-13Rev2.0观测值(测定值)的变动要素+=真值(实际工程的变动)误差(测定变动)测定值(被观测的变动)GageR&RStudy在测定过程中得到的测定值里一般包含着实际工程的变动和根据测定System的变动。被观测的变动(2total)=工程的变动(2p)+测定变动(2MS)测定变动再区分为反复性和再现性。测定变动(2MS)=反复性(2Repeatability)+再现性(2Reproducibility)反复性和再现性两种变动的合。即,测定System的变动叫GageR&R.对测定System变动的分析也可以认为是精密度的分析,称为GageR&Rstudy.ProprietarytoSamsungElectronicsCompanyMeasure–测定System分析-14Rev2.0观测值(测定值)的变动要素GageR&RStudy被观测的变动(2total)实际工程的变动(2p)测定System变动(2MS)再现性(2Reproducibility)反复性(2Repeatability)ProprietarytoSamsungElectronicsCompanyMeasure–测定System分析-15Rev2.0一般事项–一般对2~3名作业者(平时检查的作业者)实施–一般用10个部品为对象测定–一般2~3回反复测定步骤1.选定代表工程长期变动的10个标本2.测定器的校正3.让第一个作业者对所有标本任意顺序各做一次测定(BlindMeasurement)4.让第二个作业者按同样地方法实施(所有作业者相同)5.以同样的方法按必要的次数反复测定6.得到的DATA输入Minitab并进行分析GageR&R步骤ProprietarytoSamsungElectronicsCompanyMeasure–测定System分析-16Rev2.01.%Contribution=×100%2.%StudyVariation=×100%3.%Tolerance=×100%4.Numberofdistinctcategories=Round{×1.41}(范畴区别)区别范畴意味着测定System能区别的制品散布。即,区别工程散布区间的数。•区别范畴为3时例部品散布(σp)测定散布(σMS)GageR&R评价指标评价指标σ2MSσ2TotalσMSσTotal5.15×σMSTolerance*Tolerance=USL-LSLProprietarytoSamsungElectronicsCompanyMeasure–测定System分析-17Rev2.0评价基准%StudyVar或%Tolerance为10%以上时,首先区分评价反复性和再现性后,查明各个受影响的原因,并采取措施。根据用途的优先参照评价指标-在制品管理的测面,在制品符合判定更重要时优先确认%Tolerance-工程管理用或工程显示用时优先确认%StudyVarGageR&R评价指标区分%Contribution%StudyVariation或%Tolerance辨别范周良好1%10%10费用/考虑重要性1~10%10~30%4~9不可使用10%30%4ProprietarytoSamsungElectronicsCompanyMeasure–测定System分析-18Rev2.0标本的选定标本一般为10个,能代表工程的散布。假如标本只选定接近工程平均的时,测定能力评价指标将会比实际不好。假如标本的选定在比工程散布宽范围内时,测定能力评价指标将会比实际好。标本反映制品的实际散布(工程变动)时才有意义。计量型GageR&RProprietarytoSamsungElectronicsCompanyMeasure–测定System分析-19Rev2.0Minitab输入DATA计量型GageR&R部品作业者1作业者2作业者3测定1测定2测定3测定1测定2测定3测定1测定2测定31234567891024.0324.0324.0224.0224.0224.0324.0324.0424.03ProprietarytoSamsungElectronicsCompanyMeasure–测定System分析-20Rev2.0利用Minitab的分析例)3名测定者对10个标本做反复3回测定时StatQualityToolsGageR&RStudy(Crossed…)计量型GageR&RMinitab提供ANOVA法和XbarandR两个分析方法。部品和测定者之间有交互作用时,ANOVA法可以把交互作用分离显示,所以是更正确的分析方法。ProprietarytoSamsungElectronicsCompanyMeasure–测定System分析-21Rev2.0计量型GageR&RMinitab分析结果Graph解释“选定的标本是否如实反映工程的散布?”如果这个值均匀,意味标本没能如实反映工程的散布。“作业者之间是否有差异?”作业者之间最好没有差异。“每名作业者对标本是否做不同的测定?”每名作业者对标本的测定值一致为好。ProprietarytoSamsungElectronicsCompanyMeasure–测定System分析-22Rev2.0计量型GageR&RMinitab分析结果Graph解释“在全体散布中R&R所占的比重是否充分小?”GageR&R,Repeat,Reprod.的高度越接近0越好。“作业者别反复测定值是否稳定?”注目!!!要是超过RChart的界限,就得调查其原因,并重新测定。“辨别相互不同部品的能力是否充分?”与RChart相反,尽量多超过管理界限为好。ProprietarytoSamsungElectronicsCompanyMeasure–测定System分析-23Rev2.0ANOVA解释良好的测定System为时,在ANOVAtable中应要部品影响大(P值〈0.05),作业者及作业者与部品的交互作用不影响(P值0.05).在这里作业者*部品有影响,不能说测定System是良好。SourceDFSSMSFP部品90.2410270.0267807132.4320.00000作业者20.0006490.00032441.6040.22846作业者*部品180.0036400.00020223.3700.00021Repeatability600.0036000.0000600Total890.248916计量型GageR&RProprietarytoSamsungElectronicsCompanyMeasure–测定System分析-24Rev2.0%ContributionSourceVarComp(ofVarComp)TotalGageR&R1.11E-043.64Repeatability6.00E-051.96Reproducibility5.15E-051.68作业者4.07E-060.13作业者*部品4.74E-051.55Part-To-Part2.95E-0396.36TotalVariation3.06E-03100.00StdDevStudyVar%StudyVarSource(SD)(5.15*SD)(%SV)TotalGageR&R1.06E-020.05437619.07Repeatability7.75E-030.0398

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