SPC使用讲解

REV:02SPC使用講解---SPCTeam目錄統計品管之基本概論–數據–基本統計的量數–各種分配統計制程管制SPC–管制圖的分類–X-RControlChart–PControlChart–制程能力分析總結數據數據的意義數據的分類（按特性分）–計數值數據﹕以個數計算的數據或數據是間斷的﹑不連續的﹐如不良數。–計量值數據﹕可以連續量測的數據或數據呈連續性的﹐如強度﹑壓力等等。數據的差異可靠度﹑精密度﹑准確度基本統計的量數(一)集中趨勢(分配位置)的測定–平均數()–中位數()–眾數(M0)nXnXXnXiXni211X~X基本統計的量數(二)離散趨勢（分配差異的測定）–全距（R）•數據中最大值與最小值的差–偏差平方和(S)–不偏變異（V）21)(niXXiS1nSV基本統計量數(四)標准差–母標准差（σ)–樣本標准差（s）2NS1)(1122nXXisnSsni計數值的分配計數值的分配–超几何分配–二項分配–卜瓦松分配NndNxndxcccp.xnxnxppcP)1(!.XePx計量值的分配•常態分配常態分配的性質X=Me=Mo曲線下的面積等于1典線的兩端無限接近于橫軸﹐但不于橫軸相交統計制程管制SPC檢測是容忍浪費預防才是避免浪費制程管制系統製程中對策績效報告成品改善製程中對策人員設備物料方法環境成品制程管制系統(續)製程：製程乃指人員、設備、材料、方法及環境的輸入，經由一定的整理程序而得到輸出的結果，一般稱之成品。成品經觀察、量測或測試可衡量其績效。SPC所管制的製程必須符合連續性原則。績效報告：從衡量成品得到有關製程績效的資料，由此提供製程的管制對策或改善成品。製程中對策：是防患於未然的一種措施，用以預防製造出不合規格的成品。成品改善：對已經製造出來的不良品加以選別，進行全數檢查並修理或報廢。管制界限的構成制程變異之原因共同原因﹕制程中變異的因素在統計狀態下﹐則分配位置﹑分配散布及分配形狀三種變異。–占制程問題的85%,可以由制程能力分析發現﹐由管理者負責改善。特殊原因﹕制程中變異因素不在統計管制狀態下的非機遇性原因﹐其產品的分配亦沒有固定之分配。–占制程問題的15%,可以通過管制圖分析發現﹐由制程的人員負責改善。製程中只有共同原因的變異製程中有特殊原因的變異四種管制狀態滿足要求受控不受控可接受1類3類不可接受2類4類SPC導入流程建立可解決問題之系統確認關鍵製程及特性導入ＳＰＣ進行關鍵製程及特性之管制檢討製程能力符合規格程序持續進行製程改善計劃提報及執行製程改善計劃不足足夠SPC工具------管制圖計量值管制圖–X-RChart:平均值與全距管制圖–X-RChart:中位數與全距管制圖–X-sChart:平均值與標准差管制圖–X-RmChart:個別值與移動全距管制圖計數值管制圖–PChart:不良率管制圖–nPChart:不良數管制圖–CChart:缺點數管制圖–UChart:單位缺點數管制圖管制圖的應用決定管制項目決定管制標準決定抽樣方法選用管制圖的格式記入管制界限繪點、實施重新檢討管制圖管制圖判讀改善措施OKOKNG管制圖的選用程序管制圖之選定數據性質樣本大小n數據是不良數或缺點數計量值計數值中心線CL之性質n=2n是否較大XX-SChartX-RChartn=9n=2~5X-RChart~X~X-RmChartn=1n是否恆定不良數缺點數n是否恆定PnChartPChartCChartUChart恆定不恆定恆定不恆定恆定恆定管制圖的繪制流程收集數據繪制解析用管制圖穩定狀態?繪制直方圖滿足規格?管制用管制圖追求﹑去除異常原因以達安定狀態檢討機械﹑設備等等提升制程能力NOYesNOYesX-RControlChart數據收集﹕–數據應至少25組且100個數據以上﹐才能夠判定制程是否穩定及其分配狀態。–每組大約2~5組數據連續數據定期取得。–數據取得要能發現制程潛在變異（如生產者變異﹑環境變更﹑訓練期間及不同材料批等）計算管制線計算平均值X與全距RK為組數﹐R1和X1為第一組的全距與平均數KRRRRKXXXXkk2121計算管制線（續）X管制圖R管制圖注﹕當每組樣本容量小于7的時﹐LCLR可能為負值﹐這種情況沒有管制下限RAXLCLXCLRAXUCLXXX22RDLCLRCLRDUCLRRR34n23456D43.272.572.282.112.00D3*****A21.881.020.730.580.48管制圖編號:X圖R圖樣X1ΣX=本X2ΣR=測X3定X4CP=值X5CPK=Ｘ=R=對特殊原因的說明﹕1.任何超出管制線的點2.連續七點全在中心線以上或以下3.連續七點上升或下降4.連續十四點一升一降5.其它任何非隨機的圖形n23456789d21.11.72.12.32.52.72.92.97D43.32.62.32.1###1.91.91.82D3*****0.10.10.18A21.910.70.60.50.40.40.34日期及時間對特殊原因採取措施的說明確認人頻　　率均值制程能力指數TotalΣxXR檢查人公司名稱:裕明科技日　　期時　　間測量單位製品名稱規　　格X-R管制圖機種名稱品質特性線　　別製　　程工作人員規格上限規格中心規格下限管制上限管制中心管制下限管制圖製造部門標準X圖R圖測定人員期　　限抽樣方法XCLRCLRDLCL3RDUCL4RAXUCL2RAXLCL22/6dRLSLUSLCP)3,3(22//dRdRKLSLXXUSLMinCPPChart數據收集﹕–數據收集要能體現制程的變化–樣本數可以不同–樣本數的變化最不超過25%計算不合格品率的均值Pkkknnnpnpnpnp212211計算上﹑下管制線注﹕LCL為負值時﹐沒有管制下限nPPPLCLpCLnPPPUCLPpP)1(3)1(3管制圖編號﹕數率(PPM)檢查人確認人2.連續七點全在中心線之上或之下4.其它任何非隨機的圖形記錄人員、材料、設備、方法、環境或測量系統中的任何變化，這些記錄將在管制圖上出信號進而幫助你採取糾正或改進過程的措施。日期及時間對特殊原因的說明1.任何超出管制線的點3.連續七點上升或下升對特殊原因采取措施的說明不良公司名稱:裕明科技樣　　本日　　期時　　間抽樣方法測定人員管制上限管制中心管制下限工作人員測量單位P管制圖機種名稱品質特性線　　別製　　程期　　限管制圖的八項檢定規則AABBCCCCBBAA1.任何一點超出管制界限UCL﹑LCL2.邊續七點持續地上升或下降AABBCCCCBBAA3.連續的七點全部在中心線(CL)之上或之下4.邊續的十四點交互著一升一降UCLCLLCLUCLCLLCLUCLCLLCLUCLCLLCL管制圖的八項檢定規則(續)AABBCCCCBBAA5.邊續的十五點在中心線(CL)上下兩側之C區者6.連續的三點有兩點在A區或A區以外者AABBCCCCBBAA7.連續的五點有四點在B區或B區以外者8.連續的八點在中心線兩側﹐但C區并無子點UCLCLLCLUCLCLLCLUCLCLLCLUCLCLLCL制程能力解析計算制程的標准偏差﹕計算制程能力﹕–單邊容差或選擇合適的一個2dR2dRXUSLZ2dRLSLXZ制程能力解析(續)–對于兩邊容差–Zmin=ZUSL或ZLSL的最小值–計算超過上﹑下規格界限的百分比–Pz=PZUSL+PZLSL22dRUSLdRUSLLSLXZXUSLZCa&CP&CpkCPCaCpkLSLUSLCPTSLXCa)1(621X﹕是制程平均值T﹕規格公差σ﹕制程標准差SL﹕規格中心Ca(准確度)CP(精密度)Cpk(能力指數)能力指數CPK制程上限能力指數CPU及下限能力指數CPL3),(333322MinKLSLdRUSLdRZCPLCPUMinCPZLSLXCPLZXUSLCPU制程能力評價等級CPK說明A1.67≦CPK制程能力极优B1.33≦CPK≦1.67制程能力优良，還可改進C1≦CPK≦1.33制程能力平等，須進行制程改善D0.67≦CPK≦1制程能力不佳，應全面檢討，全面改進，有必要，可停產E0≦CPK≦0.67制程能力拙劣，應立即停止生產，作全面改善6σ概念何謂六個σ製程?–製程精密度(Cp)=2.0–製程能力指數(Cpk)≧1.5。以六個σ訂為品質缺點的基準理由。–在無製程變異情況下(Cp=Cpk=2)，產生之缺點率僅為0.002ppm。–在製程無法消除變異情況下，Cp=2，Cpk=1.5，缺點率為3.4ppm。六個σ概念（續）六個σ無制程變異±kσ百分比（%）百萬分缺點數±1σ68.26317400±2σ95.4545500±3σ99.732700±4σ99.993763±5σ99.9999430.057±6σ99.99999980.002六個σ有制程變異±kσ百分比（%）百萬分缺點數±1σ30.23697700±2σ69.13308700±3σ93.3266810±4σ99.37906210±5σ99.97670233±6σ99.9996603.4REV:02課程總結TheEnd!