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TRICONFIDENTIAL1TestResearch,Inc.TestResearch,Inc.TRITRI德律科技德律科技TR518FETR518FE在线测试仪在线测试仪TRICONFIDENTIAL2关于关于ICTICT在线测试仪在线测试仪为什么要用ICT?什么是ICT?ICT能测些什么?关于德律TR518FEICTTRICONFIDENTIAL3什么是什么是ICT?ICT?‧ICT即是InCircuitTester的简称，主要用于组装电路板的测试。ICT可以视为一部自动化的高级电表，并且因它具有隔离组件的功能，能准确测量每一组件在电路内的实际值。TRICONFIDENTIAL4TR518FEICTTR518FEICT能测些什么能测些什么??¾开短路测试¾R,L,C测试¾二极管,稳压二极管测试¾IC保护二极管测试¾三极管,FET,光耦测试¾晶振频率测试(Option)¾IC引脚开路测试¾连接器脚开路测试(SMD型)¾继电器,开关,线圈测试¾小电阻4线量测信号TRICONFIDENTIAL5为什么要用为什么要用ICT?ICT?¾非常全面的板子故障检出率开短路，缺件，错件，值偏移，IC脚Open…¾快速的测试速度，大幅提高效能，提升产能一般功能测试速度相对较低，多拼板测试不便，甚至许多故障无法检测出来.¾ICT提供完善的各种报表数据利用报表数据反馈信息,便于发现并改善前段生产制程问题.TRICONFIDENTIAL6TR518FETR518FE系列测试范围系列测试范围¾电阻:0.1Ω~40MΩ¾电感:1.0µH~60H¾电容:1.0pF~40mF¾稳压二极管:0.1V~9.99V(标准);0.1V~50.00V(Option)¾二极管:0.1V~9.99V¾三极管:10VforPNP&NPNtest¾晶振量测:0~80MHz(Option)¾TestJet功能:标准64通道/MuxCard，最大到960通道¾1MHzAC信号精确测试小电阻、小电容TRICONFIDENTIAL7TR518FE硬体介绍--机台架构彩色监视器压床蜂巢板键盘旋转臂打印机测试桌TR518FE测试主机PCTRICONFIDENTIAL8TR518FE硬体介绍--放电开关板¾¾开关板有开关板有128/256Pin128/256Pin三种选择三种选择¾¾四层电路板，加保护电路设计四层电路板，加保护电路设计¾¾最大测试点数可达最大测试点数可达35843584点点¾¾具备自动放电功能具备自动放电功能¾¾每一通道采用继电器与每一通道采用继电器与CMOSCMOS覆合设覆合设计计,,使用寿命长使用寿命长,,待测物安全性高待测物安全性高.(.(唯唯德律采用此方式德律采用此方式))TRICONFIDENTIAL9TR518FE量测原理--电阻电阻量测:利用Vx=IsRx（欧姆定律），则Rx=Vx/Is.信号源Is取恒流(0.1uA—5mA),量回Vx.即可算出Rx值.+-Vx=?IsRxTR518FE小电阻四线量测:小电阻(50欧姆以内)四线量测：小电阻两端各下两支探针，1-4号探针的接触阻抗分别为R1-R4,Ra,Rb,Rc,Rd分别为四次测试之量测值Ra=R1+R2Rb=R3+R4Rc=R1+Rx+R4Rd=R2+Rx+R3Rx=(Rc+Rd-Ra-Rb)/2TRICONFIDENTIAL10TR518FETR518FE量测原理量测原理----电容极性测试电容极性测试TRICONFIDENTIAL11TR518FE量测原理--PN结测试VccTPIC保护二极管大部分IC在I/OPIN中,会加上保护DIODE.故可通过测其DIODE来判定插反,空焊,漏件,开/短路以及IC保护DIODE不良等情形,但对IC内部的电性不良则必须依赖功能测试..*IC并联之保护二极管无法测试(二极管同向并联无法测试).TRICONFIDENTIAL12TR518FE量测原理--PN结测试FET以N型沟道增强型绝缘栅场效应管(MOSFET)为例.(1)由于栅极(g)处于不导电(绝缘)状态,通常,源极(s)与衬底连在一起,故在漏极(d),源极(s)存在一PN结,可将其当作D来测.(2)三点测试,类似三极体的三点测试方式.在FET的g-s脚及d-s脚各施加一可程序电压源(最高为5V),使之导通,再测量漏极电流Id.TRICONFIDENTIAL13TR518FE量测原理--PN结测试PHOTOCOUPLER(光偶器件)测量PC3,4脚的饱和电压,即在1,2脚加一电压使PC导通,再量回3,4脚的压降约在0.2V左右.高低点及隔离点设置如右图所示：一般再增加一步1-2脚间的PN结测试V1-2=1VTRICONFIDENTIAL14TR518FE量测原理--PN结测试SCR(1)k,g之间有一PN结,可作D来测;(2)三点测试,类似三极体的三点测试方式.在FET的g-k脚及a-k脚各施加一可程序电压源(最高为5V),使之导通,再测量阳极电流Iak.晶闸管的导通条件为:除在阳-阴极间加上一定大小的正向电压外,还要在控制极-阴极间加正向触发电压.TRICONFIDENTIAL15TR518FE量测原理--IC引脚开路侦测AgilentTestJetTechnology+-A+-放大器CxGNDTestpinFixture300mV,10KHz放大器CxCyTestpinopenFixture300mV,10KHzDIELeadFrameSolderJoint(ICLead)BondWire说明:1.IC脚没有开路或空焊时,所测试到的等效电容为Cx..Cx为自动学习到的标准值.2.IC脚开路或空焊时,所测试到的等效电容为Cx+Cy.(Cy为ICPin与PCB焊盘间的等效电容.).这时Cx+Cy的电容值比标准值Cx差异较大,可认为该待测Pin为焊接不良.TRICONFIDENTIAL16TR518FE测试不良记录的阅读******OpenFail******（48）（4548）表示48点与短路组（4548）断开，可能是探针未接触到PCB焊盘，或板上有断路。******ShortFail*******（20）（23）表示20点与23点短路（R5Ω），可能是板上有锡渣造成Short，装错零件造成Short，零件脚过长造成Short等。*****ComponentFail****R3M-V：52.06K，Dev：+10.7%，Act-V=47K，Std-V=47K，Loc:A1，Hi-P=21，L0-P=101，+LM：+10%，-LM：-10%.表示：R3偏差+10.7%，可能为零件变值，或接触不良。若偏差+999.9%或很大，可能为缺件、错件超出标准值所在量程上限，（47K在30K—300K量程内）；若偏差0.00%或很小，可能为短路，错件超出其标准值所在量程下限。TRICONFIDENTIAL17TR518FE软体环境---Windows版测试界面测试及程式编辑界面TRICONFIDENTIAL18TR518FE软体环境---Windows版测试界面全面的机器自检功能全面的机器自检功能•系统各档信号源输出诊断•电压输出侦测•开关板自检•维修盒诊断•远端遥控诊断TRICONFIDENTIAL19TR518FE软体环境---Shopfloor系统TR518FEICT支持网络连线、连网监控，无纸化电路板维修等功能.ICT4ICT3ICT2ICT1RepairRepairRepairMonitorHUBTRICONFIDENTIAL20TR518FE软体环境---AOI(光学检测设备)与ICTAutoLinkAOI(TR7000Series)ICT(TR518FE)AlarmAOI(RepairStation)AutoLinkTRICONFIDENTIAL21TR518FE软体环境---Windows版测试界面BoardView功能:可即时显示不良元件,针点的位置，方便维修.TRICONFIDENTIAL22TR518FE软体环境---丰富的报表功能日报表日报表月报表月报表柱状图显示柱状图显示测试覆盖率统计测试覆盖率统计不良零件排行不良零件排行不良探针排行不良探针排行TRICONFIDENTIAL23ICT简易的程式制作、发展过程Open/ShortLearningOpen/ShortLearningR,C,LTestDataFineTuneR,C,LTestDataFineTuneFunctionTestDataEdit(518系列不用)FunctionTestDataEdit(518系列不用)ICLearningICLearningEndEndOKOKClampingDiode,AgilentTestJet,ClampingDiode,AgilentTestJet,Frequency,Current…Frequency,Current…TestPinSetupTestPinSetupICPinInformationSetupICPinInformationSetup.DATFileInput.DATFileInputDataAnalysisAndInputDataAnalysisAndInputTRICONFIDENTIAL24TRIProductsTRIProductsBoardTesterIn-CircuitSystemICTwithFunc.TestICT3DSPIAOI3DX-rayD/TAOITRICONFIDENTIAL25TRITotalSolutionProviderTRITotalSolutionProviderTRICONFIDENTIAL26TheEndTheEndTHANKYOU!THANKYOU!FormoreinformationaboutFormoreinformationaboutTestResearch,Inc.TestResearch,Inc.Pleasevisit:Pleasevisit: