SPC训练课程

DatechElectronicCorp.LtdStatisticalProcessControlIntroduction我們必須實施統計製程管制檢驗–容許浪費預防–避免浪費DatechElectronicCorp.LtdDatechElectronicCorp.LtdStatisticalProcessControlIntroductionDatechElectronicCorp.LtdStatisticalProcessControlIntroduction一般機遇原因:特殊原因:由於機器(清潔度、磨損等)、工具(強度、損壞率等)、材料(硬度、尺寸等)、人員的不同，而導致產品間的差異由於機器調整錯誤、作業員疏失及不合格的原料半成品，導致不合格品成不規則的方式出現DatechElectronicCorp.LtdStatisticalProcessControlIntroduction局部矯正措施(製程管制):系統矯正措施(製程能力分析):通常用於消除特殊原因所造成的變異。通常由製程現場人員實施。使用管制圖、柏拉圖、魚骨圖等工具。通常可解決15%的製程問題。通常用於減少一般原因所造成的變異。通常由管理者進行系統面的改善。使用實驗設計、田口方法、迴歸分析等工具。通常可解決85%的製程問題。DatechElectronicCorp.LtdStatisticalProcessControlIntroduction製程能力:消除所有特殊原因變異後，系統穩定的程度製程管制製程能力管制中非管制中可接受CASE1CASE3不可接受CASE2CASE4CASE1：製程目前維持管制中，且其製程能力可被管理者及顧客接受。CASE2：製程目前雖在管制中，但一般機遇原因所造成的變異必須減低。CASE3：製程能力可為管理者及顧客所接受，但必須尋找特殊原因所造成的變異並消除。CASE4：一般機遇原因及特殊原因所造成的變異都太大。DatechElectronicCorp.LtdStatisticalProcessControlIntroduction製程改善循環:1.分析製程製程將完成哪些事？哪些因素會使製程失效？製程現在的狀態為何？2.製程維護製程狀態監控。偵測特殊原因變異並消除。3.改善製程深入瞭解製程的一般原因變異。減少一般原因的變異。DatechElectronicCorp.LtdStatisticalProcessControlIntroduction管制圖使用流程:1.蒐集資料蒐集製程或品質特性的數據，並繪製於管制圖上。2.管制依照蒐集的數據計算管制圖的上下限，如果有數據超出管制界限，則必須尋找該點異常的原因，待異常原因消除後再重新計算管制上下限。3.分析及改善待管制圖內的所有點都在管制上下限內後，管制圖便形成一管理的工具，新的資料在蒐集計算後將之與上下限比較，以判定目前製程的狀態，同時製程能力指數也可以開始計算，以評估目前一般機遇原因所造成變異的情形。DatechElectronicCorp.LtdStatisticalProcessControlIntroductionX及R-Chart:1.建立使用的環境：管理者必須指派特定的人員負責，並支持改善的動作。2.定義製程：必須瞭解製程的上下關係(前後製程)，並熟悉製程內的各項投入(5M)，因果圖及流程圖可幫助對製程的瞭解。3.決定製程(品質)特性：4.定義量測系統：必須定義製程(品質)特性是在何處，使用什麼工具，在什麼環境下進行量測，量測的結果必須具有可重覆性與再現性。5.減少不需要的變異：儘量減少不必要的干擾源，如人員、工具的更換、材料的變更等。考慮客戶(含下製程)的需求。考慮目前或潛在性的問題所在，此提供一個改善品質的機會。製程(品質)特性間的共同點。DatechElectronicCorp.LtdStatisticalProcessControlIntroductionX及R-Chart:1.樣本大小：通常為2至5，樣本大小必須能反映出目前製程的狀態。2.抽樣頻率：管制的目的是要偵測出製程的變化，因此抽樣頻率的選擇必須能反映出製程可能變化的時機，如換機種時、作業員精神較差時。3.抽樣數：抽樣數愈多愈能反映出製程實際的情形，一般而言25以上才足夠。R=X(最大)—X(最小)nXXXn...21X=KXXXK...21X=KRRRK...21R=樣本點:中心線:上界限:RDUCLR4RDLCLR3RAXUCLX2RAXUALX2下界限:DatechElectronicCorp.LtdStatisticalProcessControlIntroductionR–Chart之解釋:如果樣本點落在管制界限的上方，或連續7點都在中心線的上方，或連續7點增加，代表生產的變異程度增加了。量測系統的改變(不同的檢驗員及量具或量具偏移)。計算錯誤或標圖錯誤。如果樣本點落在管制界限的下方，或連續7點都在中心線的下方，或連續7點遞減，代表生產的變異程度降低了。(變好了)量測系統的改變(不同的檢驗員及量具或量具偏移)。計算錯誤或標圖錯誤。X–Chart之解釋:樣本點超出了上下管制界限或連續7點都在中心線的同一側，或連續7點遞增(減)，則代表製程的中心值或平均值偏移了。量測系統的改變(不同的檢驗員及量具或量具偏移)。計算錯誤或標圖錯誤。DatechElectronicCorp.LtdStatisticalProcessControlIntroductionRequiredRulesfromDell:Rules1through8applytoAverageandIndividualscharts.Rules1through4applytoP,NP,C,andUcharts.Rule1OnepointbeyondtheControlLimitsRule2NinepointsinarowinZoneCorbeyondRule3SixpointsinarowsteadilyincreasingordecreasingRule4FourteenpointsinarowalternatingupanddownRule5TwooutofthreepointsinarowinZoneAorbeyondRule6FouroutoffivepointsinZoneBorbeyondRule7FifteenpointsinarowinZoneC,aboveandbelowthecenterlineRule8EightpointsinarowonbothsidesofthecenterlinewithnoneinZoneCDatechElectronicCorp.LtdStatisticalProcessControlIntroduction製程能力的解釋:抽樣點落在規格內的機率雙邊規格製程能力指數則定義為Z的1/3也就是Z=最小值ˆ,ˆLSLXXUSL單邊規格ˆXUSLZ或ˆLSLXZˆ3,ˆ3min3LSLXXUSLZCpkCpk=1,製程良率=99.865%Cpk=1.33,製程良率=99.9967%2/dRˆ=DatechElectronicCorp.LtdStatisticalProcessControlIntroduction製程精密度的解釋:公差與製程變異的比值雙邊規格單邊規格ˆ6ˆ6TLSLUSLCpˆ3ˆ3LSLXCpXUSLCp或DatechElectronicCorp.LtdStatisticalProcessControlIntroduction製程精密度的解釋:第一級Cp1.67：產品變異如大一些也不要緊，考慮管理的簡單化或成本降低方法。第二級1.67＞Cp1.33：理想的狀態故維持現狀。第三級1.33＞Cp1.00：確實進行製程管理，使其能保持在管制狀態，當Cp值近於1時，恐怕會產生不良品，儘可能改善為第二級。第四級1.00＞Cp0.67：產生不良品，產品須全數選別，並管理改善製程。第五級0.67＞Cp：品質無法在滿足的狀態，須進行品質改善、探求原因、採取緊急對策，並重新檢討規格。DatechElectronicCorp.LtdStatisticalProcessControlIntroduction製程能力的解釋:第一級Cpk1.67：量測值落在規格內的機率接近100%。第二級1.67＞Cpk1.33：量測值落在規格內的機率為99.997%至100%。第三級1.33＞Cpk1.00：量測值落在規格內的機率為99.865%至99.997%。第四級1.00＞Cpk0.67：量測值落在規格內的機率為97.725%至99.865%。第五級0.67＞Cpk：量測值落在規格內的機率小於97.725%。DatechElectronicCorp.LtdStatisticalProcessControlIntroduction確立製造流程決定管制項目製程處於管制狀態時製程處於非管制狀態時製程能力調查原因不明且無法採取技術性的措施蒐集資料找出特殊原因先掌握機械能力並追究原因管制圖的運用實施改善及標準化製程能力足夠製程能力不足改變流程並標準化調節製程管制檢付規格公差修正檢驗DatechElectronicCorp.LtdStatisticalProcessControlIntroductionp-Chart:1.樣本大小：計數型管制圖需要較大的樣本(通常為50到200或者更多)來偵測結果是否偏移，一般而言，樣本需要大到群体中含有數個不良，樣本的大小並不是一定要固定的，但最好其變動的程度不會超過25%。2.抽樣頻率：抽樣的時機最好選擇在可表現製程意義的時候，例如「某張工單內抽樣」或者「某日的抽樣」。3.抽樣數：抽樣數愈多愈能反映出製程實際的情形，一般而言25以上才足夠。pKKCLnnnddddp......21321ndpnpppUCLp13npppLCLp13樣本點:中心線:上界限:下界限:DatechElectronicCorp.LtdStatisticalProcessControlIntroductionp-Chart之解釋:如果樣本點落在管制界限的上方(下方)，或連續7點都在中心線的上方(下方)，或連續7點遞增(遞減)，代表生產的變異程度增加了(降低了)。量測系統的改變(不同的檢驗員及量具或量具偏移)。計算錯誤或標圖錯誤。製程精密度的解釋:以p-Chart而言，製程精密度是以製程結果落在規格內的機率(Cp)來解釋，如果製程是在穩定的狀態下(沒有特殊原因造成的異變)，製程的平均不良率為p，該製程的能力便可計算為(1-p)。DatechElectronicCorp.LtdStatisticalProcessControlIntroductionu-Chart:樣本：在u-Chart中樣本大小可以是變動或固定的，並以單位的不良數u=c/n，作為圖上的標示點。中心線:上界限:下界限:某些情況下不良點的存在是可以被容許的，如SMT製程中，通過迴焊爐的PC板平均每片可容許1.2個不良點。KKnnncccuCLu......2121nuuUCLu3nuuLCLc3其中代表每次的樣本大小，如果其差距皆在25%以內，則n*則使用平均的樣本大小，否則必須使用變動的上下界限。nnnnnK/...21DatechElectronicCorp.LtdStatisticalProcessControlIntroduction量測系統分析:測量的變異通常來自其環境、測量工具及測量員。在我們可以接受的品質系統必須具有以下幾點要求：測量系統必須是在統計的穩定之中，也就是其變異僅來自一般機遇原因的變異而沒有特殊原因的變異。測量系統的變異必須小於所測量製