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统计过程控制SPCStatisticalProcessControl培训讲义TrainingMaterial)SPC-正态分布图的制作与分析1.制作直方图1.1.抽样编号1.2.样品计量1.3.计算极差R=Xmax-Xmin1.4.数据分组K1.5.确定组距d1.6.确定各组区间的端点ak1.7.计算每组中值Yi)SPC-正态分布图的制作与分析1.8.统计样本落在每个区间的频数1.9.建立直方图1.9.1.建立直角坐标1.9.2.标出每一组的端点1.9.3.画出长方形)SPC-正态分布图的制作与分析2.制作正态分布图2.1.找出每个长方形的中点2.2.用光滑曲线使中点相连示例——灯片重量)SPC-正态分布图的制作与分析3.控制图——过程控制的有力工具3.1.控制图的构成3.2.均值和极差图（X-R）的建立3.2.1.收集数据选择子组大小原则“应使得一个子组内在该单元中的各样本之间出现变差的机会小”)SPC-正态分布图的制作与分析选择子组频率选择子组组数3.2.2.建立控制图，记录原始数据3.2.3.计算均值X和极差RX=(1/n)∑XiR=Xmax-Xmin3.2.4.确定控制图纵坐标的刻度X图（最大刻度值-最小刻度值）＞2(Xmax-Xmin)R图最大刻度值＞Rmax)SPC-正态分布图的制作与分析3.2.5.描点画线3.2.6.计算控制限计算过程平均值X和平均极差RX=(1/n)∑XjR=(1/n)Rk计算控制限UCLx=X+A2RLCLx=X-A2RUCLR=D4RLCLR=D3R3.2.7.在控制图中画控制限)SPC-正态分布图的制作与分析3.3.过程能力解释3.3.1.极差图分析点线（链）区——图形的趋势1.非随机图形的表现2.子组内数据点总体分布准则特殊原因的标注、对策和改善纠正改善后重新计算极差图控制限)SPC-正态分布图的制作与分析3.3.2.均值图分析点线（链）区)SPC-正态分布图的制作与分析3.4.如何更快地检测到大的过程变化？3.4.1.方法3.4.2.重新计算R，UCL/LCL计算估计标准偏差σR/d2=R/d2计算其它值R新=σR/d2·d2新UCLR新=D4·R新LCLR新=D3·R新UCLX新=X+A2·R新LCLX新=X-A2·R新)SPC-正态分布图的制作与分析3.5.控制图的益处3.5.1.判断过程稳定3.5.2.预测3.5.3.改进、降本3.5.4.便于交流3.5.5.明确职责)SPC-正态分布图的制作与分析3.6.使用控制图的准备3.6.1.建立适用于实施的环境3.6.2.定义过程3.6.3.确定控制的特性3.6.4.确定测量系统3.6.5.使不必要的变差最小)SPC-正态分布图的制作与分析3.7.其它控制图的介绍3.7.1.用于计量型数据的其它型控制图X-S（均值-标准差图）Xi-MR（单值-移动极差图）3.7.2.用于计数型数据的控制图不合格品率的P图不合格品的np图不合格品的c图单位产品的不合格数的n图