第一章常用半导体器件内容提要:本章主要讲述了半导体基础知识,PN结的特性,二极管、晶体三极管、场效应管的构成及特性曲线和主要参数等,同时介绍了单结管、晶闸管、集成电路中的元件等基础知识。重点:二极管和稳压管的伏安特性及主要参数,晶体管的共射输入特性、输出特性和主要参数,以及场效应管的转移特性、输出特性和主要参数;即常用半导体器件的外特性及主要参数。了解它们内部载流子的运动情况是为了更好地理解它们的工作原理。难点:常用半导体器件的内部载流子的运动情况分析及工作原理。讲授方法:采用多媒体课件配合,以课件演示半导体器件内部载流子的运动情况,同时采用启发式教学,激发学生学习的积极性。第一节:半导体基础知识1.半导体材料根据物体导电能力(电阻率)的不同,来划分导体、绝缘体和半导体。导体:ρ10-4Ω·cm绝缘体:ρ109Ω·cm半导体:导电性能介于导体和绝缘体之间。2.半导体的晶体结构典型的元素半导体有硅Si和锗Ge,此外,还有化合物半导体砷化镓GaAs等。半导体的导电性能是由其原子结构决定的,就元素半导体硅和锗而言,其原子序数分别为14和32,但它们有一个共同的特点:即原子最外层的电子(价电子)数均为4,其原子结构和晶体结构如图1.1.1所示。图1.1.1本征半导体结构示意图图1.1.2本征半导体中的自由电子和空穴3.本征半导体本征半导体:化学成分纯净、结构完整的半导体。它在物理结构上呈单晶体形态。本征激发(热激发):受温度、光照等环境因素的影响,半导体共价键中的价电子获得足够的能量而挣脱共价键的束缚,成为自由电子的现象,称之为本征激发(热激发)。空穴:共价键中的空位。电子空穴对:由本征激发(热激发)而产生的自由电子和空穴总是成对出现的,称为电子空穴对。所以,在本征半导体中:ni=pi(ni-自由电子的浓度;pi-空穴的浓度)。(1)两种载流子的产生与复合,在一定温度下达到动态平衡,则ni=pi的值一定;(2)ni与pi的值与温度有关,对于硅材料,大约温度每升高8oC,ni或pi增加一倍;对于锗材料,大约温度每升高12oC,ni或pi增加一倍。载流子:能够参与导电的带电粒子。半导体中载流子的移动:如图1.1.3所示。从图中可以看出,空穴可以看成是一个带正电的粒子,和自由电子一样,可以在晶体中自由移动,在外加电场下,形成定向运动,从而产生电流。所以,在半导体中具有两种载流子:自由电子和空穴。图1.1.3半导体中载流子的运动4.杂质半导体杂质半导体:在本征半导体中参入微量的杂质形成的半导体。根据参杂元素的性质,杂质半导体分为P型(空穴型)半导体和N型)1.1.1()2/(2/31kTEiiGOeTKpn(电子型)半导体。由于参杂的影响,会使半导体的导电性能发生显著的改变。P型半导体:在本征半导体中参入微量三价元素的杂质形成的半导体,其共价键结构如图1.1.4所示。常用的三价元素的杂质有硼、铟等。图1.1.4P型半导体的共价键结构受主杂质:因为三价元素的杂质在半导体中能够接受电子,故称之为受主杂质或P型杂质。多子与少子:P型半导体在产生空穴的同时,并不产生新的自由电子,所以控制参杂的浓度,便可控制空穴的数量。在P型半导体中,空穴的浓度远大于自由电子的浓度,称之为多数载流子,简称多子;而自由电子为少数载流子,简称少子。N型半导体:在本征半导体中参入微量五价元素的杂质形成的半导体,其共价键结构如图1.1.5所示。常用的五价元素的杂质有磷、砷和锑等。图1.1.5N型半导体的共价键结构施主杂质:因为五价元素的杂质在半导体中能够产生多余的电子,故称之为施主杂质或N型杂质。在N型半导体中,自由电子为多数载流子,而空穴为少数载流子。综上所述,在杂质半导体中,因为参杂,载流子的数量比本征半导体有相当程度的增加,尽管参杂的含量很小,但对半导体的导电能力影响却很大,使之成为提高半导体导电性能最有效的方法。5.PN结(1)PN结的形成在一块本征半导体在两侧通过扩散不同的杂质,分别形成P型半导体和N型半导体。此时将在P型半导体和N型半导体的结合面上形成PN结。物理过程示意图见课件图1.1.6所示。PN结的单向导电性(2)正偏与反偏:当外加电压使PN结中P区的电位高于N区的电位,称为加正向电压,简称正偏;反之称为加反向电压,简称反偏。PN结加正向电压:PN结加正向电压时,呈现低电阻,具有较大的正向扩散电流,PN结导通。其示意图见课件图1.1.7所示。PN结加反向电压:PN结加反向电压时,呈现高电阻,具有很小的反向漂移电流,PN结截止。其示意图见课件图1.1.8所示。PN结的单向导电性PN结加正向电压(正偏)时导通;加反向电压(反偏)时截止的特性,称为PN结的单向导电性。(3)PN结的特性曲线PN结的V-I特性表达式:式中,IS—反向饱和电流;n—发射系数,与PN结的的尺寸、材料等有关,其值为1~2;VT—温度的电压当量,且在常温下(T=300K):VT=kT/q=0.026V=26mVPN结的正向特性:死区电压Vth:硅材料为0.5V左右;锗材料为0.1V左右。导通电压Von:硅材料为0.6~0.7V左右;锗材料为0.2~0.3V左右。PN结的反向特性:反向电流:在一定温度下,少子的浓度一定,当反向电压达到一定值后,反向电流IR即为反向饱和电流IS,基本保持不变。反向电流受温度的影响大。)2.1.1()1(/SDDTnVveIiPN结的反向击穿特性:反向击穿:当反向电压达到一定数值时,反向电流急剧增加的现象称为反向击穿(电击穿)。若不加限流措施,PN结将过热而损坏,此称为热击穿。电击穿是可逆的,而热击穿是不可逆的,应该避免反向击穿分为雪崩击穿和齐纳击穿两种类型:雪崩击穿:当反向电压增加时,空间电荷区的电场随之增强,使通过空间电荷区的电子和空穴获得的能量增大,当它们与晶体中的原子发生碰撞时,足够大的能量将导致碰撞电离。而新产生的电子-空穴对在电场的作用下,同样会与晶体中的原子发生碰撞电离,再产生新的电子-空穴对,形成载流子的倍增效应。当反向电压增加到一定数值时,这种情况就象发生雪崩一样,载流子增加得多而快,使反向电流急剧增加,于是导致了PN结的雪崩击穿。齐纳击穿:齐纳击穿的机理与雪崩击穿不同。在较高的反向电压作用下,空间电荷区的电场变成强电场,有足够的能力破坏共价键,使束缚在共价键中的电子挣脱束缚而形成电子-空穴对,造成载流子数目的急剧增加,从而导致了PN结的齐纳击穿。(4)PN结的电容效应:势垒电容Cb:PN结外加电压变化,空间电荷区的宽度将随之变化,即耗尽层的电荷量随外加电压增加或减少,呈现出电容充放电的性质,其等效的电容称之为势垒电容Cb。当PN结加反向电压时,Cb明显随外加电压变化,利用该特性可以制成各种变容二极管。扩散电容Cd:PN结外加正向电压变化,扩散区的非平衡少子的数量将随之变化,扩散区内电荷的积累与释放过程,呈现出电容充放电的性质,其等效的电容称之为扩散电容Cd。结电容Cj=Cb+Cd。反偏时,势垒电容Cb为主;正偏时,扩散电容Cd为主。低频时忽略,只有频率较高时才考虑结电容的作用。1.2半导体二极管1.半导体二极管的结构在PN结上加上引线和封装,就成为一个二极管。二极管按结构分有点接触型、面接触型和平面型三大类。(b)面接触型图1.2.1二极管的结构示意图(1)点接触型二极管:PN结面积小,结电容小,用于检波和变频等高频电路。(2)面接触型二极管:PN结面积大,用于工频大电流整流电路。(3)平面型二极管:往往用于集成电路制造艺中。PN结面积可大可小,用于高频整流和开关电路中。(4)二极管的图形符号:2.半导体二极管的V-I特性:二极管的特性与PN结的特性基本相同,也分正向特性、反向特性和击穿特性。其差别在于二极管存在体电阻和引线电阻,在电流相同的情况下,其压降大于PN结的压降。在此不再赘述。3.半导体二极管的参数(1)最大整流电流IF(2)反向击穿电压VBR和最大反向工作电压VR(3)反向电流IR(4)正向压降VF(5)最高工作频率fM(6)结电容Cj4.二极管的等效模型电路(1)理想模型:正偏时:uD=0,RD=0;反偏时:iD=0,RD=。相当于一理想电子开关。(2)恒压降模型:正偏时:uD=Uon,RD=0;反偏时:iD=0,RD=。相当于一理想电子开关和恒压源的串联。(3)折线型模型:正偏时:uD=iDrD+UTH;反偏时:iD=0,RD=。相当于一理想电子开关、恒压源和电阻的串联。(4)小信号模型:二极管工作在正向特性的某一小范围内时,其正图1.2.2二极管的符号k阴极阳极a向特性可以等效成一个微变电阻。则DdDvri根据D/DS(1)TvViIe得Q点处的微变电导DdDQdigdvD/STvVQTIeVdd1rgDTVI常温下(T=300K)dDD26(mV)(mA)TVrII5.二极管基本电路及模型分析法(1)二极管的静态工作情况分析例1.2.1求图1.2.9(a)所示电路的硅二极管电流ID和电压VD。解:理想模型,VD=0,则200210DDDDVVImARK恒压降模型,VD=0.7V,则200.71.9310DDDDVVImARK(2)二极管限幅电路(3)二极管开关电路6.稳压二极管(1)稳压二极管的伏安特性:利用二极管反向击穿特性实现稳压。稳压二极管稳压时工作在反向电击穿状态。其伏安特性如图1.2.12所示。(2)稳压二极管的主要参数:稳定电压VZ稳定电流IZ(IZmin、IZmin)额定功耗PZM动态电阻rZ温度系数(3)稳压二极管构成的稳压电路例1.2.4设计如图1.2.13所示稳压管稳压电路,已知VO=6V,输入电压VI波动10%,RL=1k。解:选择DZ:查手册,选择DZ为2CW13,VZ=(5~6.5V),IZmax=38mA,IZmin=5mA选择限流电阻R:maxmax0min6(2~3)(2~3)6(2~3)1000(12~18)ZOZLLVVVIIVRAmAmaxmin3maxminmax3min(12~18),1515(110%)6241()38106/100015(110%)6682()5106/100047010,11,12,13,15,16,18,20,22,24,27,30,33,36,39,43,47,5IOIIOZOIOZOVVVVVVVRIIVVRIIR取可取标称值。(标称系列值:1,56,62,68,75,82,91)7.其它类型的二极管(1)发光二极管:工作电压一般在1.5~2.5V之间,工作电流在5~30mA之间,电流越大,发光越强。(2)光电二极管:外加反向电压,无光照时的反向电流称之为暗电流;有光照时的反向电流称之为光电流,光照越强,光电流越大。(3)变容二极管(4)激光二极管(5)隧道二极管和肖特基二极管1.3双极性晶体管1.双极性晶体管的结构及类型:双极性晶体管的结构如图1.3.1所示。它有两种类型:NPN型和PNP型。结构特点:基区很薄,且掺杂浓度很低;发射区的掺杂浓度远大于基区和集电区的掺杂浓度;集电结的结面积很大。上述结构特点构成了晶体管具有放大作用的内部条件。2.晶体管的电流放大作用(1)晶体管具有放大作用的外部条件:发射结正偏,集电结反偏。对于NPN管,VCVBVE;对于PNP管,VEVBVC。(2)晶体管内部载流子的运动(如课件图1.3.3所示)发射区:发射载流子;集电区:收集载流子;基区:传送和控制载流子以上看出,三极管内有两种载流子(自由电子和空穴)参与导电,故称为双极型三极管。或BJT(BipolarJunctionTransistor)。(3)晶体管的电流分配关系根据传输过程可知:IE=IB+ICIC=InC+ICBOIB=IB’-ICBO传输到集电极的电流设发射极注入电流nCEII通常ICICBOCEII则有为共基直流电流放大系数,它只与管子的结构尺寸和掺杂浓度有关,与外加电压无关