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SM8022B芯片12-18WLED方案测试报告V1.2第1页共9页业务咨询：400-033-6518技术服务：13802567304明微电子研发中心SM8022B芯片12-18WLED方案测试报告V1.2文件变更履历版本号修订日期变更内容简述修订者审核V1.02012-08-31新订吕倩V1.12012-08-31修改表格格式吕倩胡志刚V1.22012-09-04将测试结论中1uF/50V电解电容更改为1uF/100V范东亚胡志刚SM8022B芯片12-18WLED方案测试报告V1.2第2页共9页业务咨询：400-033-6518技术服务：13802567304明微电子研发中心SM8022B方案应用器件输入范围输出功率拓扑结构LED电源SM8022B180-250VAC12-18W反激SM8022B芯片12-18WLED方案测试报告V1.2第3页共9页业务咨询：400-033-6518技术服务：13802567304明微电子研发中心电气参数性能测试数据记录1.测试对象1)交流电源：ACPOWERSOURCEAPS-95012)电子负载：PRODIGIT3310F3)示波器：TDS3012C4)功率计：WT210DIGITALPOWERMETER2.测试参数及数据（如无特殊说明，以下测试温度均为室温）2.1基本参数测试(单位：mA)150Vac180Vac220Vac265VacVO=33V354.3356.8356.9355.9VO=36V354.5356.6356.7355.7VO=39V354.7356.6356.5355.5VO=42V354.8356.5356.1355.4VO=45V354.8356.2355.9355.3VO=48V354.3354.6354.8354.8VO=51V208.9205.6204.3194.2表2-1基本参数测试数据2.2效率测试150Vac180Vac220Vac265VacVO=36V85.96%85.91%85.74%85.15%VO=39V85.98%86.27%86.09%85.63%VO=42V86.38%86.54%86.34%86.13%VO=45V86.62%86.72%86.59%86.36%平均效率86.23%86.36%86.19%85.81%表2-2效率测试数据小结：在150Vac-265Vac输入范围内，系统效率＞85%。2.3空载电压测试（单位：V）输入电压150Vac180Vac220Vac265Vac空载电压53.8853.9253.7553.95表2-3空载电压测试数据SM8022B芯片12-18WLED方案测试报告V1.2第4页共9页业务咨询：400-033-6518技术服务：13802567304明微电子研发中心2.4空载功耗测试（单位：mW）输入电压150Vac180Vac220Vac265Vac空载功耗746760780821表2-4空载功耗测试数据备注：测试时输出端悬空，读取功率计的输入功率。2.5短路保护测试输入电压150Vac180Vac220Vac265Vac短路保护OKOKOKOK表2-5短路保护测试结果小结：在全电压输入范围内，短路保护功能正常。2.6关键点波形测试图2-1220Vac，输出端直接短路时，VDD及DRAIN脚电压波形SM8022B芯片12-18WLED方案测试报告V1.2第5页共9页业务咨询：400-033-6518技术服务：13802567304明微电子研发中心图2-2265Vac，带载13个LED灯时，开机瞬间VDD及DRAIN脚电压波形（输出电流为361mA）图2-3220Vac，带载13个LED灯，正常工作时VDD及DRAIN脚电压波形（输出电流361mA）SM8022B芯片12-18WLED方案测试报告V1.2第6页共9页业务咨询：400-033-6518技术服务：13802567304明微电子研发中心图2-4220Vac，CV=40V时，VDD及DRAIN脚电压波形图2-5220Vac，CV=45V时，VDD及DRAIN脚电压波形备注：图2-4和图2-5属于工作异常波形，在220Vac输入条件下，DRAIN脚的最SM8022B芯片12-18WLED方案测试报告V1.2第7页共9页业务咨询：400-033-6518技术服务：13802567304明微电子研发中心高电压已达到540V，而芯片DRAIN脚的设计耐压值为600V。整改措施：在输出端稳压管两端并接1uF/100V的电解电容，然后在同样条件下测试波形如下图，此时系统工作波形正常：图2-6220Vac，CV=40V时，VDD及DRAIN脚电压波形（整改后）SM8022B芯片12-18WLED方案测试报告V1.2第8页共9页业务咨询：400-033-6518技术服务：13802567304明微电子研发中心图2-7220Vac，CV=45V时，VDD及DRAIN脚电压波形（整改后）2.7可靠性测试2.71满载冲击试验采用客户反馈的方案，在室温环境、250Vac条件下，带12个LED灯珠（40V/0.356A）,采用继电器每隔3S开关机一次，老化24小时后，系统正常工作。2.72高压短路老化试验采用客户反馈的方案，在室温环境、250Vac条件下，直接将输出端短路，老化24小时后，系统正常工作。2.73高压短路冲击试验采用客户反馈的方案，在室温环境、250Vac条件下，直接将输出端短路，采用继电器每隔3S开关机一次，老化24小时后，系统正常工作。3.测试结果汇总SM8022B基本电气参数正常平均转换效率86.19%@220Vac短路保护正常SM8022B芯片12-18WLED方案测试报告V1.2第9页共9页业务咨询：400-033-6518技术服务：13802567304明微电子研发中心可靠性实验长期高压短路老化测试合格长期高压短路冲击测试合格长期高压满载冲击测试合格系统优化措施将系统输出端稳压管由两个串联使用换成一个使用（1W功率），同时在稳压管两端并联1uF/100V电解电容。