搜索
磁力显微镜（MFM）原理磁相互作用是长程的磁偶极相互作用，因而如果原子显微镜（AFM）的探针是磁性的，而且磁针尖在磁性材料表面上方以恒定的高度的扫描，就能感受到磁性材料表面的杂散磁场的磁作用力。因而探测磁力梯度的分布就能得到产生杂散磁场的表面磁畴结构，表面词体，写入的磁斑等表面磁结构的信息，这就是磁力显微镜（MFM）的原理。纳米尺度的磁针尖加上纳米尺度的扫描高度使磁性材料的表面磁结构的探测精细到纳米尺度，这是磁力显微镜（MFM）的特点和意义。磁力显微镜（MFM）检测时对被检测物体表面的每一行都进行两次扫描。第一次扫描采用轻敲模式第，得到样品在这一行的高低起伏并记录下来；然后采用抬起模式，让磁性探针抬起一定的高度(通常为10～200nm)，并按样品表面起伏轨迹进行第二次扫描，由于探针被抬起且按样品表面起伏轨迹扫描，故第二次扫描过程中针尖不接触样品表面（不存在针尖与样品间原子的短程斥力）且与其保持恒定距离（消除了样品表面形貌的影响），磁性探针因受到的长程磁力的作用而引起的振幅和相位变化，因此，将第二次扫描中探针的振幅和相位变化记录下来，就能得到样品表面漏磁场的精细梯度，从而得到样品的磁畴结构。一般而言，相对于磁性探针的振幅，其振动相位对样品表面磁场变化更敏感，因此，相移成像技术是磁力显微镜的重要方法，其结果的分辨率更高、细节也更丰富。