无损检测作业

无损检测作业1、已知钢中CL=5900m／s，CS=3230m／s，有机玻璃中CL=2730m／s，求以有机玻璃为斜楔的K1横波探头的入射角αL?答:K=1则K=tanS=1,S=45°,12sinsinSLLSCC,136.7L°2、已知超声波探伤仪示波屏上有A、B、C三个波，其中A波高为满刻度的80％，B波为50％，C波为20％。①设A波为基准(0dB)．那么B、C波高各为多少dB?○2设B波为基准(10dB)．那么A、C波高各为多少dB?○3设C波为基准(-8dB)，那么A、B波高各为多少dB?答：①50202070BBAAHBBlglgH％H％H得BB=—4dB同理CB=—12dB②AB=14dB，CB=2dB③AB=4dB，BB=0dB3、用2.5MHz、Ф20mm的探头测定500mm厚的饼形锻件的衰减系效，现测得完好区域的B1=80％，B2=35％，求此锻件的介质衰减系数α为多少？（不计反射损失）答：31280206()6351.18*10/22*500HlgdBBBdBHdBmm％％4、什么是超声场的近场区和近场区长度？近场区长度与哪些因素有关？为什么要尽量避免在近场区探伤定量？答：①波源附近由于波的干涉而出现一系列声压极大值和极小值的区域称为近场区。②波源轴线上最后一个声压极大值至波源的距离称为近场区长度。③因素：波源直径D，波长。④在近场区内如果有缺陷存在，其反射波极不规则，对缺陷判断十分困难，应该避免。5、什么是超声场的远场区？远场区内波源轴线上的声压变化有何持点？答：①在声场中，XN即在近场区以外的区域称为远场区②在远场区，声压随距离增加而减小，远场区轴线上的声压随距离单调减小，当x＞3N时，声压与距离成反比，声波可视为球面波。6、什么是半扩散角？半扩散角与哪些因素有关？为什么半扩散角以外的缺陷都难以发现？答：①圆盘源辐射的纵波声场的第一零值发散角称为半扩散角。②因素：波长和波源直径D。③由于声波的强度主要集中在半扩散角内，对于在0以外的缺陷，不会反映到示波屏上。7、已知钢中CL=5900m／s，水中CL=1480m／s。求2.5MHz、Ф20mm纵波直探头在钢和水中辐射的纵波声场的近场区长度N、半扩散角θ0，和未扩散区长度b各为多少？答：由C=f可知钢=2.36mm,水=0.592mm,2DN=N=42.37mm4钢则,N=168.92mm水,0=70D,钢=8.26°,水=2.07°b≈1.64N得到b=69.49mmb=277.03mm钢水，8、用2.5MHz、Ф20mm的直探头探测厚为l50mm的饼形锻件．已知示波屏上同时出现三次底波。其中B2=50％，衰减器读数为20dB．若不考虑散失损失．求B2、B3达50％高时衰减器的读数各为多少Db？（α=1.18×10-3dB/mm）答：12B-B-dB=2（）6则12B-B=2+6dB=6.53dBABB-B=6.35得AB=26.35dBBCB-B=6.35得CB=13.65dB9、已知x≥3N，200mm处Ф2平底孔回波高为24dB，求400mm处Ф4平底孔和800mm处Ф2平底孔回波高各为多少dB？答：X＞3N时，两平底孔的回波声差1221X=40lgX12=1221X40lgX=2*40040lg4*200dB=012B=B=24dB13131331X2*800=40lg=40lg=24dBB-B=24dBX2*200，31B=B-24dB=010、什么是正压电效应？什么是负压电效应？探头接收和发射超声波时各产生何种压电效应？答：某些晶体材料在交变载荷应力的作用下，产生交变电场的效应称为正压电效应。当某些材料在交变电场的作用下，产生伸缩变形的效应称为负压电效应。探头发射超声波产生负压电效应。探头接收超声波产生正压电效应。11、什么是试块？试块的主要作用是什么?答：①按一定的用途设计制造的具有简单形状的人工反射体的试件称为试块②作用：⑴测试仪器和探头的使用性能；⑵调解仪器的扫描速度；⑶调解仪器的灵敏度；⑷评定缺陷大小。12、试块共有哪几种分类方法？我国常用试块有哪几种?答：分类：校验标准试块、对比标准试块我国常用：CSK-ⅠA，CSK-ⅡA，CSK-ⅢA，CSK-ⅣA13．测得某探头和仪器的始脉冲宽T=2μs(微秒)，工件中的CL=5900m／s，求此探头和仪器的盲区至少为多少mm？答：S=T*LC=11.8mm（双行程）单行程：12S=5.9mm盲区14、横波探伤时调节扫描速度的方法有哪三种？各适用于什么情况？答：三种方法：声程调节法，水平调节法，深度调节法在用K值探头探伤焊缝时，最常用的是后两种。当板厚小于20mm时，常用水平法。当板厚大于20mm时，常用深度法。声程法多用于非K值探头。15、试说明利用CSK-IA试块调节纵波扫描速度1：1和1：2的方法．答：1:1调节：使1B底波对到100，2B对到200；1:2调节：使1B底波对到50，2B对到100；16、试说明利用CSK-IA试块按声程1：1和1：2调节横波扫描速度的方法．答：1:1调节：将探头对准R50和R100圆弧面，使回波1B（R50）对到50，2B（R100）对到100于是横波速度1:1和“0”点同时调好校准；1:2调节：将探头对准R50和R100圆弧面，使回波1B（R50）对到25，2B（R100）对到50于是横波速度1:2和“0”点同时调好校准；17、调节探伤灵敏度的常用方法有哪几种？各适用于什么情况？并举例说明具体调节方法。答:常用的灵敏度调节方法有：1.试块调节法：主要用于无底波和厚度尺寸x≤3N的工件；2.工件底波调节法:只适合于厚度尺寸x≥3N的工件，同时要求工件具有平行表面。18、仪器按水平1：n调节横波扫描速度，缺陷波所对的读数为τf，．试分别导出用一、二次波探伤时缺陷定位的计算公式(K值探头)。答：一次波检测，缺陷在工件上的水平距离fl和深度fdffl=n，ffflnd==KK二次波检测，缺陷在工件上的水平距离fl和深度fdffl=n，ffflnd=2T-=2T-KK19、什么是缺陷的当量尺寸和指示长度？缺陷的当量尺寸和指示长度和缺陷的实际尺寸有何关系？答：如果缺陷回波幅度与规则形状的人工反射回波幅度，埋深相同，反射波高相等，则称该人工反射体的反射面尺寸为缺陷当量尺寸。按规定方法测控的缺陷长度称为缺陷指示长度；实际尺寸大于当量尺寸。20、在厚度为200mm的试件上调节纵波扫描速度，若B2对准50、B4对准100，问这时的扫描速度为多少？这时B1、B3分别对准的水平刻度值为多少？答：2=50，2X=400则：x=1:811B=*200=25831B=*200*3=75821、用2.5P20Z探头探伤500mm的工件．CL=5900m／s．探伤中在200mm处发现一缺陷，其波高比Bl低l2dB．求此缺陷的当量大小为多少？答：LC5800/==2.36f2.5msmmMHz将缺陷尺寸换算成当量平底孔尺寸：1212BBdB2211222122*2.36*20020lg20lg=20lg=12dBX500*3.14*PXP当量平底孔直径=5.48mm22、采用固定式X射线机透照一铸件，焦距为700mm、管电流为8mA时曝光时间为3min，现改用1000mm的焦距，管电流为12mA，这时所需的曝光时间。23、用192Irγ射线源，透照直径1.8m的环焊缝，曝光时间为30min，若透照直径为2.4m的相同的环焊缝，问曝光时间应是多少?24、辐照场中距源2m处允许的剂量率是90×10-6Sv/h，若工作人员每周工作25h，按照标准规定的周剂量当量限值为HW=1mSv，问工作人员与源的最小距离应不小于多少？（1mSv=10-3Sv）答：工件人员吸收剂量率3621*10D=/40*10/25SvhSvh由于212221DRDR则12123DRRmD