示波器不可不知的使用技巧

示波器不可不知的使用技巧目录示波器AC耦合和偏置的不同示波器不同取样方式的选择示波器的无人值守测试示波器的数学运算功能示波器在EMI整改上的使用分析—附加在主信号上的微弱信号测试问题：如何测量输出端5V的DC电压在负载变化时的0.1V的电压变化以及下降时间测量？如何测量上电前的微弱震荡的幅度及时间？又或者我们在进行电池电压跌落测试时，跌落电压如何测量？分析—附加在主信号上的微弱信号测试测试难点：幅度档位较大（一般为1V或者2V），无法精确分辨信号，甚至难以观察分析—附加在主信号上的微弱信号测试测试难点：交流耦合导致信号无法测量分析—附加在主信号上的微弱信号测试正确测量：通过可调的直流偏置，将信号下拉到电压零点，同时不会影响信号的完整性分析—附加在主信号上的微弱信号测试可调直流偏置和良好的前端抗饱和特性同样可以用于分析叠加在主信号上的微弱信号，如下图所示：目录示波器AC耦合和偏置的不同示波器不同取样方式的选择示波器的无人值守测试示波器的数学运算功能示波器在EMI整改上的使用取样模式：保留每个采集间隔中的第一个取样点。取样模式为默认模式。峰值检测模式：使用了两个连续捕获间隔中包含的所有取样的最高和最低点。该模式仅可用于实时、非内插的取样，并且在捕获高频率的毛刺方面非常有用。9数字示波器基本原理—采样模式高分辨率模式：计算每个采集间隔所有取样值的平均值。该模式也只能用于实时、非内插取样。高分辨率模式提供了较高分辨率、较低带宽的波形。包络模式：在所有采集中查找最高和最低记录点。包络模式对每个单独的采集使用峰值检测平均模式：计算用户指定的采集数的每个记录点的平均值。平均模式对每个单独的采集都使用取样模式。使用平均模式可以减少随机噪声。10数字示波器基本原理—采样模式670V峰峰值突发波形80V/div,50ms/div,1MS/s采样模式垂直分辨率•垂直标度是80V/格。◦10格为800V满垂直刻度。•垂直分度对8位模数转换器是25个模数转换电平/格。◦10格为250模数电平满垂直刻度。•1个模数电平是3.2V分辨率。在这种设置下各点间只能区分3.2V带宽限于20MHz查找小事件….采用HiRes模式噪声没有HiRes和有HiRes比较振铃放大到5V/div没有HiRes模式查找小事件….采用Hires噪声下降小振铃!打开HiRes模式采用HiRes模式标准8位示波器在这种设置下各点间只能区分3.2V现在这种设置下各点间可以区分61mV!采用HiRes模式•1MS/s采样率•14位=16,384个电平•800V满刻度/16,384个电平=61mV分辨率•在1MS/s时，HiRes模式下的采集分辨率要比采样模式采集分辨率高出64倍使用HiRes垂直分辨率调节缩放把垂直缩放调节到1V/div振铃信号是4.016VPk-Pk振铃是~4.8Vpp目录示波器AC耦合和偏置的不同示波器不同取样方式的选择示波器的无人值守测试示波器的数学运算功能示波器在EMI整改上的使用分析—对某一个产品进行稳定性的自动测试问题：我们在测试中经常会碰到要对开发的产品进行一个长时间的监控，比如一天、两天等，并希望能记录这个过程中出现的异常信号。而传统的做法就是利用编程的方法来进行无人值守的监测。但是编程意味着需要专业的技能和时间来处理。无人值守事件操作触发停止采集将波形保存到文件保存屏幕图像硬拷贝AUXOUT屏幕通知/电邮通知采集同上目录示波器AC耦合和偏置的不同示波器不同取样方式的选择示波器的无人值守测试示波器的数学运算功能示波器在EMI整改上的使用MATH分析—高级运算包含：积分、微分、Log、Exp、Sqrt、Sin、Cos、趋势、等等问题•如何用数学运算将正弦波变化成MATH分析—趋势绘图用于FM的解调包含：通过对频率进行趋势运算就可以得到FM的调制波形。优点：1、调制波形可以被解调出来2、自动测量载波频率的最大值和最小值以及调制波的频率3、可以通过光标测量任意位置的频率值MATH分析—趋势绘图用于PWM的解调包含：通过对正脉宽进行趋势运算就可以得到PWM的调制波形。优点：1、调制波形可以被解调2、自动测量载波的正脉宽的最大值和最小值以及调制波的频率3、可以通过光标测量任意位置的正脉冲宽度目录示波器AC耦合和偏置的不同示波器不同取样方式的选择示波器的无人值守测试示波器的数学运算功能示波器在EMI整改上的使用验证嵌入式射频系统的工作情况–EMI33EMCEMI传导干扰CE辐射干扰REEMS传导抗干扰CS辐射抗干扰RSEMI是指加电工作的设备对外发出的电磁干扰信号EMS是指加电工作的设备能否在有电磁干扰的环境下正常工作测试流程EMC认证推测问题所在整改341、超标频点在哪？2、是什么原因导致了这个频点超标？1、整改的地对不对？2、整改之后和整改之前改善了多少？测试流程35EMC认证推测问题所在整改MDO4000C确定整改效果MDO400C定位问题MDO跨域分析的其他应用–EMI36测试方法：待测产品于正常使用状态下，使用近场探头接近待测物辐射出来的信号，再转送至接收机频谱仪，取得不同频率杂讯的功率值。MDO4000C—帮您确定辐射的源头37MDO4000C—帮您确定辐射的源头38MDO4000C—帮您确定辐射的源头39MDO4000C—帮您确定辐射的源头4041MDO4000C—帮您确定辐射的源头42高速控制信号辐射信号的AvsT辐射信号整改效果判断43整改效果判断44直接点测N-BNCCT1CT2CT6P6158TCPA300TCPA400N-SMAP6150TPA-N-VPITAP1500TAP2500TAP3500TDP0500TDP1500TDP3500TPA-N-VPITPA-BNCP6205P6243P6245P6246P6247P624845谢谢！