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实验一集成逻辑门电路（TTL和CMOS）的参数测试一、实验目的1、掌握TTL和CMOS与非门主要参数的意义及测试方法。2、熟悉数字逻辑实验箱的基本功能和使用方法。二、实验仪器及设备1、数字逻辑实验台2、万用表2只3、元器件：74LS20（T063）、CC4012各一块，2CK114只4、电阻及导线若干三、实验内容（简单实验步骤、实验数据及波形）图1-1图1-21、TTL与非门74LS20静态参数测试导通电源电流ICCL和截止电源电流ICCH。测试电路如图1-1。74LS20为双与非门，两个门的输入端作相同处理。测得ICCL=12mA，ICCH=1.6mA低电平输入电流IiL和高电平输入电流IiH。每一门和每一输入端都测试一次。测试电路如图2-2。2、电压传输特性。调节电位器RW，使Vi从0V向5V变化，逐点测试Vi和VO值，将结果记录入下表中。测试电路如图1-3。参数1A1B1C1D2A2B2C2DIiL(mA)1.11.21.11.01.01.11.11.0IiH(uA)999910998图1-3Vi0.30.511.21.31.351.41.451.51.61.72.43.6Vo3.63.632.72.42.11.61.31.00.70.30.30.33、CMOS双四输入与非门CC4012静态参数测试将CC4012正确插入面包板，测电压传输特性。测试电路和方法同上，输出端为空载测量。将结果记录入下表中。Vi00.5122.32.42.452.52.552.62.734.55Vo55555555000000实验结果分析（回答问题）1、测量TTL与非门输出低电平时要加负载，因为要求集成块有一定带负载的能力，而TTL与非门输出低电平时会有较大负载电流。图2-3中R选用360Ω是根据最大允许负载电流为：扇出系数（8）×低电平输入电流IiL（1.6mA）得到的。若R很小会使负载电流过大，无法得到正常的输出低电平。2、与非门输入端悬空可以当作输入为“1”，因为悬空相当于Ri=∞，由输入端负载特性可得此结论。3、TTL或非门闲置输入端的处置方法：与其它输入端并联；接地。4、实验中所得ICCL和ICCH为整个器件值，单个门电路的ICCL和ICCH为所测值的一半。5、CC4012的VDD=15V，则其VOH=14.95V、VOL=0.05V、VTH=7.5V。重点讲解组合逻辑电路的实验分析的方法与步骤及在实验设备中如何去实现。