AOI高级理论培训即使用技巧

文件密级：内部公开AOI高级理论培训即使用技巧一：AOI原理二：AOI测试过程中的常见问题及处理方法文件密级：内部公开2一：AOI原理1：AOI原理简介2：AOI检测流程解析文件密级：内部公开31：AOI原理简介AOI（AutomaticOpticalInspection）自动光学检测设备在各个行业中都得到了较为广泛的使用，在PCB加工过程中，作为重要的检测设备，其原理是：利用各种光源通过光学镜片过滤后照射在待检PCB板上，然后反射光（激发光）通过各种过滤镜片，反射到接收器上，接收器根据光信号强弱产生相应电信号，经过一系列的信号转换后，设备区分出PCB板面图形状况，再与AOI本身寄存的PCB板面图形数据进行比对，有差异的位置就报出缺陷，最后通过检验员进行确认处理，以完成整个检测过程,按光源分类：激光机，普光机，红外线机等文件密级：内部公开42：AOI检测流程解析1：AOI检测流程AOI检测流程基本分五步完成：资料处理、母板资料学习、板件扫描、影像处理、逻辑比对、缺陷处理，其各个步骤的目的如下1、资料处理2、母板学习3、板件扫描4、影像处理5、逻辑比对6、缺陷处理AOI检测基本流程图文件密级：内部公开51、资料处理1）、资料处理：在AOI的检测过程中，为了保证加工出的板面图形与设计图行的一致性，避免批量性问题漏检，常采用CAM/CAD作参考对比图形进行检测。文件密级：内部公开62、母板学习2）、母板学习：采用CAM/CAD作参考对比图形时，AOI图形处理卡把处理过的CAM/CAD资料转换为AOI能够识别的图形数据，并存储下来，备AOI检测时进行图形比对文件密级：内部公开73、板件扫描3）、板件扫描：所示，AOI的CCD（或能量采集设置）从板面扫过，并采集反射光（或激发光），并根据能量强弱形成相应的电子信号，待AOI的影像处理卡进行图像处理类比数位化BinaryCCD类比EIC类比转数位资料线路数位化(Graylevel)影像处理卡数位转换二进位资料线路二进位影像(0或1)图2）AOI扫描、检测示意图文件密级：内部公开83、板件扫描AOI机在扫描PCB板时所用的光源结构及所起的作用：1：散射光：①对微短及小铜点具备较高的敏感度②对凹陷及刮伤等缺陷具备较低敏感度2:直射光:①对导体上的开短路，针孔，凹痕及刮痕具备较高的敏感度②对导体边及孔具备较低敏感度散射光PCB直射光射文件密级：内部公开94、影像处理AOI通过自身的影像处理卡，把从PCB板面扫描得到的电子（模拟）信号转换为数位信号，进而转换为二进制信号，便于图形比对1:象素的大小决定影像的质量2:铜为白色，在二进制中用1表示，基材为黑色，在二进制中用0表示象素（Pixels）文件密级：内部公开10扫瞄线类比信号光较强光较弱AOI文件密级：内部公开11类比信号数位信号0255AOI文件密级：内部公开12单一扫瞄线的二进位图象门槛(低限)金属基材0255AOI文件密级：内部公开13铜箔基材当前的扫瞄线AOI文件密级：内部公开14二进位图象逻辑总成条状的二进位图象被重组后,再由逻辑总成处理PCB板二进位图象AOI文件密级：内部公开15四、外检工艺控制内容1、解析度：（分辨率）高解析度低解析度解析度大小設定:•影响对细微缺點的侦测能力•影响对线宽及线距的测量精准度•影响产出量AOI文件密级：内部公开16Pixel:0.5milsPixel:0.4milsPixel:0.3mils解析度与检测缺点能力的比较:1.产出量2.假点率AOI文件密级：内部公开171mil0.2mil缺点检测率产能线宽/间距测量精确度较差较好高低较不精确较精确AOI文件密级：内部公开18Pixels大小﹣线宽/间距测量8milLine8个Pixels8milLine7to9个Pixels0.75MilPixelSize线宽/间距测量容差﹣大约+/-0.75个PixelAOI文件密级：内部公开19Pixels大小﹣小缺点检测=1MilShort0.75MilPixelSize三种可能的二进位图象短路无法被检测缺点大小必须大于图象单元(Pixel)AOI文件密级：内部公开20Pixel设定原则实际线宽至少必须有10个象素(Pixel).象素(Pixel)的大小必须两倍小于最小检测缺点的大小.生产量必须是被考虑的要素之一.建议使用手动方式输入象素(Pixel)大小.AOI文件密级：内部公开212、板厚设定：板厚设置的正确与否会影响焦距的精确度.良好的焦距不良的焦距AOI文件密级：内部公开223、临界值：区分铜与基材的临界点。临界值选择的影响低临界值将导致线宽变宽高临界值将导致间距变宽理想的临界值使得图象更精确而且假缺点减少!AOI文件密级：内部公开235、逻辑对比逻辑比对：AOI把经扫描及影像处理后的图形数据与存储的图形数据进行比对，不符合的地方报出缺陷，待检验员判定文件密级：内部公开24氧化脏点303030303030303030303030303030303030303030303030303030303030303030303030303030303030303030303030303030751451701952001801507030303030303030303030303040140195200200200200200200195140403030303030303030304515520020020020020020020020020020015040303030303030303015020020020020020020020020020020020020013530303030303030551902002002002002002002002002002002002001959030303030303016520020020020020020020020020020020020020020014030303030303018020020020020020020020020020020020020020020018030303030303019520020020020020020020020020020020020020020019030303030303020020020020020020020020020020020020020020020019030303030303016520020020020020020020020020020020020020020018030303030303015020020020020020020020020020020020020020020014030303030303070195200200200200200200200200200200200200190553030303030303013520020020020020020020020020020020020017030303030303030305015520020020020020020020020020020017545303030303030303030501451952002002002002002002001954530303030303030303030303060195200200200200855030303030303030303030303030303013520020020020077303030303030303030303030303030301352002002002007730303030303030303030303030303030135200200902007730303030303030303030303030303030135200200200200773030303030303030303030303030303013520020020020077303030303030303030303030803030301352002002002007730303030303030303030303030303030135200200200200773030303030303030303030303030303013520020020020077303030303030303030303030303030301352002002002007730303030303030307514517019518015070401401951951404045155150401501355519019590165140180180195190200190165180150140701951905513517050155175455014519519545601958550135771357713590771357713577801357713577135771357775145170195180150704014019519514040451551504015013555190195901651401801801951902001901651801501407019519055135170501551754550145195195456019585501357713577135907713577135778013577135771357713577典型的灰阶图AOI文件密级：内部公开2575145170195180150704014019519514040451551504015013555190195901651401801801951902001901651801501407019519055135170501551754550145195195456019585501357713577135907713577135778013577135771357713577低临界值40200255300低临界值将导致白色象素变多,因此线宽变宽!AOI文件密级：内部公开2675145170195180150704014019519514040451551504015013555190195901651401801801951902001901651801501407019519055135170501551754550145195195456019585501357713577135907713577135778013577135771357713577160200255300高临界值将导致白色象素变少,因此间距变宽!高临界值AOI文件密级：内部公开277514517019518015070401401951951404045155150401501355519019590165140180180195190200190165180150140701951905513517050155175455014519519545601958550135771357713590771357713577801357713577135771357785200255300理想的临界值使得图象更精确而且假缺点减少!理想的临界值AOI文件密级：内部公开286、缺陷处理缺陷处理：AOI通过监视器按顺序把每个比对数据不同的位置显现出来，供检验员判定缺陷是否符合检验标准，并对不合的缺陷进行相应处理。文件密级：内部公开29二：AOI测试过程中的常见问题及处理方法1板面氧化造成缺点较多(1):板面氧化后，铜箔的反光能力就会降低，导致缺点数增多，影响检验时的效率。(2):我们可以调结DRC中的最后1个数值，使其降低，但不能超过40（3）：由于调节灰白值所带来的漏失风险不好评估，一般不建议采用此方法。建议对板面氧化进行酸洗来达到较好的板面状况。文件密级：内部公开30二：导体边缘处较小缺口或导体之间因腐蚀不净造成间距减少的漏失1：由于AOI在设计时，对于导体上的缺失或导体间距的减少方面的设定允许范围为设计的80%，对于较小的凹陷或间距的减少存在一定的漏失风险，可以通过