MS9710C光谱分析仪使用培训

光谱分析仪使用培训毛赢2017-6-6主要内容1，中心波长的测试2，边模抑制比3，最大-20db谱宽4，最大均方根谱宽5，WDM模式测试6，光放模式测试7，插损测试8，隔离度测试光谱仪原理•光谱仪器是进行光谱研究和物质结构分析，利用光学色散原理及现代先进电子技术设计的光电仪器。它的基本作用是测量被研究光（所研究物质反射、吸收、散射或受激发的荧光等）的光谱特性，包括波长、强度等谱线特征•一般光谱仪器都可分成四部分组成:光源和照明系统，分光系统，探测接收系统和传输存储显示系统光谱仪结构框图光谱仪结构框图安立MS9710介绍安立MS9710介绍安立MS9710介绍旋钮ON/OFF显示屏CopyFeedF1F2F3F4F5F6F7F8f1f2f3f4f5f6f7Prior软驱输入数字键MarkerSelectSingleStopRepeatAutoMeasureZoneMarkerPeakSearchTMKrCenterCenterSpanCenterRefLvlLog(div)RefResVBWMemoryABAnritsuMS9710BWavelengthLevelpeakMarkerSweepPrinterOutput常用设置•AutoMeasure”或者“Single”、“Repeat”可以把光源扫入光谱分析仪中。用“AutoMeasure”扫入光源时，光谱分析仪自动根据输入光谱的波长和功率调整调节横坐标比例Span等选项，并把光谱主纵模放置在屏幕中间；Single、Repeat只是把光谱扫入仪器，不改变设置，Single是单步扫描，Repeat是重复扫描方式。扫描的时候都可以按“STOP”键停止。设置MS9710•横坐标：波长（nm）&频率（THz）•WavelegthMkrvalueW1/Freq•纵坐标：光功率（dB）&(uw)•LevelScaleLog（/Div）/LevelScaleLinearLevel；•仪器分辨率：Res/VBW/AvgRes•视频分辨率：Res/VBW/AvgVBW•内置衰减：LevelScaleAttOff/On•(Attoff时为10db,为ON时是20DB)测试范围：波长600nm～1750nm，光功率20dB安立MS9710介绍20dBmREF10dB/div-80dBm1525nm1550nm1575nmAnritsuWave-lengthLevelScaleRes/VBW/AvgPeak/DipSearchAnalysisTraceSave/RecallCenterSpanStartStopValueinAir/VacF1F2F3F4F5F6F7F8f1f2f3f4f5f6f7Prior安立MS9710介绍20dBmREF10dB/div-80dBm1525nm1550nm1575nmAnritsuF1F2F3F4F5F6F7F8f1f2f3f4f5f6f7PriorGraphAppli-cationMeasureModeTittleCalCondi-tionOthersNormalOverlapMaxHoldNorma-lize3DClear仪表校准（功率&波长）功率校准：w可调光源输出1.3um或1.55um光源，衰减到-23dBmwCalAutoAlign进行光坐标自动校准wRepeat重复扫描，显示峰值功率。wCalLevelOffset”校准峰值功率为－23dBm。波长校准：（内部校准）wCalAutoAlign进行光坐标自动对准w面板上OUTPUT打开参考光源wCalW1Cal（Ref），按“execute”进行校准波长校准：（外部校准）w可调光源输出1.3um或1.55um标准波长光源wCalAutoAlign进行光坐标自动对准wRepeat重复扫描wCalW1Offset进行校准中心波长的测试中心波长的测试工作波长的测试方法工作波长指的是主纵模最大功率跌落3dB处的中心波长。测试步骤：1，打开仪表，接上光纤，按下“AutoMeasure”按钮，让仪表自动扫入光谱。（在测试工作波长之前，最好对光谱分析仪进行波长校准）。2，调节Wavelength下面的Span以及LevelScale下面的Log（/Div），在屏幕上清晰显示被测光谱。3，选择波长的单位：WavelegthMkrvalueW1/Freq是以nm为波长的单位；WavelegthMkrvalueW1/Freq是以THZ为波长的单位。4，选择“Analysis”选项（如果没有，可以不断地按下界面上返回图标对应的按钮F8进行翻页，直至它出现为止。如果您按“Analysis”对应的按键，仪表发出“咚”的提示声，并不能进入Analysis界面时，不要奇怪，MSC9710C光谱分析仪处在“Application”界面时，不能同时进入“Analysis”，此时您只要返回“Application”界面，按一下仪表右下角“off”，关闭Application窗口即可。），进入“Analysis”界面后，按下“Threshold”对应的按钮，选择3dB，屏幕上显示的对应的值是工作波长。边模抑制比（SMSR）的测试边模抑制比（SMSR）的测量定义：SMSR定义为主纵模（M1）的平均光功率与最显著的边模（M2）的光功率之比的最小值，用公式表示为第一种方法：1，打开仪表，接上光纤，按下“AutoMeasure”按钮，让仪表自动扫入光谱。2，调节Wavelength下面的Span以及LevelScale下面的Log（/Div），在屏幕上清晰显示被测光谱。3，选择“Analysis”选项，进入“Analysis”界面后，选择“SMSR”对应的按键，进入SMSR测试界面，然后选择屏幕右边选项“2nd”对应的按键f1。屏幕上显示的对应的值就是最小边模抑制比（SMSR）。第二种方法：选择“Application”选项，按下界面下的DFB-LDTest对应的按钮，此时可以直接从屏幕上读出SMSR。SMSR10Log10M1M2最大－20dB谱宽最大－20dB谱宽的测量定义：主纵模中心波长的最大峰值功率跌落-20dB时的光谱最大全宽测试步骤：1，打开仪表，接上光纤，按下“AutoMeasure”按钮，让仪表自动扫入光谱。2，调节Wavelength下面的Span以及LevelScale下面的Log（/Div），在屏幕上清晰显示被测光谱。3，选择“Application”选项，按下界面下的DFB-LDTest对应的按钮，然后按下nBWidth，用数值键或Knob输入20，-20dBWidth后面对应的数值就是-20dB谱宽，如图所示。最大均方根谱宽最大均方根谱宽定义：最大均方根谱宽是度量光脉冲能量的集中程度，对于多纵模激光器和发光二极管这样光能量比较分散的光源的，采用最大均方根谱宽来表征其光谱宽度。（有时会用FWHM来表征此指标，FWHM=2.35б）测试步骤：1，打开仪表，接上光纤，按下“AutoMeasure”按钮，让仪表自动扫入光谱。2，选择波长的单位：WavelegthMkrvalueW1/Freq是以nm为波长的单位；頦avelegthMkrvalueW1/Freq是以THZ为波长的单位。3，选择“Analysis”选项，这时出现测量参数的界面，按下界面上的“RMS”对应的按钮，按界面上的“=1.00б”对应的按钮，界面上会出现“k〥：”的文字，它后面跟着的就是光源的最大方均根谱宽。WDM模式测试WDM模式测试在DWDM方式下需测试的项目有：波长、功率、平坦度和信噪比，测试步骤：1，调整光谱分析仪的显示波长范围和纵坐标比例，将需要测试的波长显示在屏幕中间2，选择ApplicationWDMSingle，把被测光谱扫入光谱分析仪3，DisplayModeSNR选择信噪比显示方式（在屏幕上显示峰值波长、功率和信噪比），每一波长的波长、功率和信噪比SNR分别显示在屏幕上。4，平坦度是指每通道最大功率与最小功率的差值。光放模式测试光放模式测试光放需用光谱分析仪的测试项目有：增益Gain、噪声系数NF、增益平坦度。测试步骤：1，按下Application---pt.AmpTest进入光放测试程序，2，接着把未经光放的光源插入光谱分析仪的测试孔，选择MemoryPin/Pout，按下Single把光源扫入光谱分析仪中；3，然后把经光放放大后的光源插入测试孔，选择MemoryPin/Pout，按下Single扫入光谱，调整光谱分析仪的显示波长范围和纵坐标比例，将需要测试的波长显示在屏幕的中间，4，此时屏幕上就会显示测试数据，NF（S-ASE）后面跟随的数据是噪声系数（NoiseFigure)，Gain后面跟随的数据是增益（Gain)（如图所示）。当输入光放有多个波长时，所有波长中增益最大值与最小值的差就是增益平坦度。插损测试插损测试插损的测试测试插损一般用到Traces和Marker功能。测试步骤：1,把未经器件的光源输入光谱分析仪的测试孔，选择TracesActiveASignle，把光源扫入光谱分析仪，调整光谱分析仪的显示波长范围和纵坐标比例，将需要测试的波长显示在屏幕中间，并按MemoryA对应的键把光谱保存在MemoryA中。2，把经过无源光器件输出的光输入光谱分析仪的测试孔，选择MemoryB3，选择TraceA﹠B，按Signle扫入光谱，此时屏幕上就会二条光谱（如图所示），一是光源，二是经无源光器件后的输出光谱。4，选择Marker，然后移动LMkr_C和LMkr_D，使LMkr_C和LMkr_D分别对齐两光谱的顶点，如图所示，屏幕上显示的C-D的值是插损。隔离度测试隔离度测试测试隔离度（串扰）一般用到Trace、Overlap和Marker功能。这里以测试分波器的相邻两通道的隔离度为例，介绍一下隔离度的测试方法。测试步骤1，选择GraphOverlap，使光谱分析仪工作在Overlap（重叠）方式下。2，把宽谱光源输入分波器的IN口。3，把分波器一通道的输出光谱输入光谱分析仪的测试孔，选择Signal，把光源扫入光谱分析仪。4，把分波器另一个相邻通道的输出光谱输入光谱分析仪的测试孔，选择Signal，把光源扫入光谱分析仪。5，调节Wavelength下面的Span以及LevelScale下面的Log（/Div），在屏幕上清晰显示被测光谱。6，选择Marker，移动Mkr_A和Mkr_B，使其对准两波长峰值的中心，如图所示。7，移动LMkr_C到第一个峰值处与Mkr_A相交，LMkr_D移到第一通道串入第二通道处，并与Mkr_B相交，如图所示的位置，屏幕上显示的C-D的值就是分波器一通道到另一通道的后向隔离度（即一通道串入相邻通道的串抗）。结果保存THANKYOU!