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机型M758K机型阶段试产测试数量10测试日期序号外观结构电气性能结果备注序号外观结构电气性能结果备注1#OKOKOK1#OKOKOK2#OKOKOK2#OKOKOK3#OKOKOK3#OKOKOK4#OKOKOK4#OKOKOK5#OKOKOK5#OKOKOK□高温运转测试：样品不含包装，工作在在温度40℃，湿度50℃，持续时间4小时，主机工作状态(关闭可造成自动关机或节能的选项）、所有选项置于最不利状态（如有背光产品将背光置于常开，有输出信号产品将输出置于最大）。□低温运转测试：样品不含包装，工作在在温度-5℃，湿度50℃，持续时间4小时，主机工作状态(关闭可造成自动关机或节能的选项）、所有选项置于最不利状态（如有背光产品将背光置于常开，有输出信号产品将输出置于最大）。验证产品在高温/低温环境下进行工作，外观及电气性能是否符合规定要求四.测试设备:高低温实验箱□高温运转测试开始时间：2012年9月14日9时分结束时间：2012年9月14日14时分□低温运转测试开始时间：2012年9月15日14时分结束时间：2012年9月15日19时分深圳市瑞福联科电子有限公司高低温运转测试报告2012.9.15一.测试机型描述：二.测试目的：三.测试条件:六.备注：五.测试数据：测试：陈兰兰审核：张伟钦□OK,□NG七.结果判定：