Cmk、Ppk、Cpk三者区别

CmkPpk设备能力过程性能指数连续加工零件组成的样组给定周期内抽取样组设备稳定生产后约一个小时内抽样10组50个数据对于输出满足规范要求且可预测的波形的长期不稳定过程，应使用Ppk，当不能够得到足够数据，可以小于100件时间代表设备能力（某一小段时间内的设备能力，连续的数据）Ppk代表长期工序能力（一个长时间，如一年或所有的全部的可以是间断的数据）,也可用于大批量生产前小批量试制过程性能的测算。只包含设备的变差整个过程的波动数据连续数据不连续数据应为正态数据可非正态用于新（模具）设备、大修后、新产品试制、维修后对产品有影响、设备搬迁、公差缩紧、长期（一年）停产以后、生产过程更改过程较长使劲内所表现出的过程输出波动的大小，过程不仅受随机因素影响，而且受到其他因素影响标准差S/σ的计算Rbar/d2估算或者评价参数≥1.67≥1.67Cmk=（1-k）Cm（双边公差）Cmk=min(Cmu,Cml)(单边公差)Ppk=min(Ppu,Ppl)Cmk、Ppk、Cpk的区别项目取样计算公式特点1)(12nxxsnii1)(12nxxsniiCm=（USL—LSL）/6SmPp=（USL—LSL）/6SpK=2│X-M│/TM=（USL+LSL）/2Sm=SQRT（∑（xi-x）2/n-1）Ppu=【USL(公差上限)-X（样本均值）】/3SpPpl=【X（样本均值）-USL(公差上限)】/3Sp备注计算公式公式中的X均指样本的均值，即Xbarbar根据美国工业界的经验，长期的过程变差的75%来自设备变差，设备能力指数Cmk表示仅由设备普通原因变差决定的能力，与公差和生产设备的加工变差有关，设备能力指数只考虑短期的变差，尽可能地排除对过程有影响而与设备无关的因素。Cpk过程能力指数给定周期内抽取样组过程稳定受控适当频率抽25组至少100个样本Cpk代表短期工序能力（某一小段时间内工序的能力，连续的数据）样本内的各过程的波动数据有固定间隔数据应为正态仅受随机因素影响时，过程输出的特性波动的大小，是固有能力Rbar/d2估算≥1.33Cpk=（1-k）CpCmk、Ppk、Cpk的区别1)(12nxxsniiCp=（USL—LSL）/6ScK=2│X-M│/TM=（USL+LSL）/2Sc=SQRT（∑（xi-x）2/n-1）公式中的X均指样本的均值，即Xbarbar根据美国工业界的经验，长期的过程变差的75%来自设备变差，设备能力指数Cmk表示仅由设备普通原因变差决定的能力，与公差和生产设备的加工变差有关，设备能力指数只考虑短期的变差，尽可能地排除对过程有影响而与设备无关的因素。