SPC--统计过程分析

统计过程控制——SPC统计过程控制——SPC讲师郝启波统计过程控制——SPC1-111讲师简介82年1月毕业于合肥工业大学精密计量仪器专业IRCA注册ISO9000主任审核员CNAT注册ISO14001咨询师CNAT注册ISO9001咨询师ISO/TS16949:2002咨询师中国机械计量分会理事卓润企业管理咨询公司高级咨询顾问高级工程师统计过程控制——SPC2-111内容提要一、持续改进及统计过程控制概述二、计量型数据控制图、均值和极差图三、均值和标准差图四、中位数图五、单值和移动极差图六、计数型数据控制图统计过程控制——SPC3-111SPC定义SPC就是依据统计的逻辑来判断制程是否正常，是否应采取改善对策的一套管理系统。统计过程控制——SPC4-1112SPC31.过程2.分析3.控制1统计过程控制——SPC5-111一、持续改进及统计过程控制概述统计过程控制——SPC6-111习惯的误差分类方式•随机误差•系统误差•粗大误差统计过程控制——SPC7-1118.控制图统计过程控制——SPC8-111控制图的分类•分析型控制图利用所采集的数据对过程进行分析,包括计算控制限,分析过程是否受控,计算过程能力指数等•控制型控制图利用分析型控制图得出的控制限,均值等.对过程进行监控,发现异常统计过程控制——SPC9-111二、计量型数据控制图计量型数据，即能说明合格与否又能说明其程度的连续型数据。统计过程控制——SPC10-111统计过程控制——SPC11-111常数表XRn2345678910D43.272.572.282.112.001.921.861.821.78D30.080.140.180.22A21.881.020.730.580.480.420.370.340.31统计过程控制——SPC12-111常数表XRn2345678910d21.131.692.062.332.532.702.852.973.08统计过程控制——SPC13-111异常判别超出控制限的点非随机图形—有规律变化(连续14点交替上下变化)连续7点位于平均值一侧连续6点上升或下降(变化)90%或40%的点落在1/3区域连续15点在1/3区域内连续8点在1/3区域外4/5的全落在1/3区域外2/3的全落在2/3区域外统计过程控制——SPC14-111过程能力计算（一）设备能力指数过程能力指数或中较小值其中Ca为偏离系数一般Ca25%可接受22//66pRdRdTUCLLCLC2/3pkRdUSLXC2/3RdXLSL(1)pkapCCC统计过程控制——SPC15-111偏离系数式中为偏离值，T为规范公差即过程中心偏离规范（公差）中心的程度当Ca=0时，Cp=Cpk2aCT统计过程控制——SPC16-111控制图应用步骤（分析）1.确定控制参数2.确定子组容量n和抽样频率3.抽样,检测,记录4.计算子组内均值X和极差R5.计算总均值X和平均极差R6.确定刻度并绘制控制图7.计算并绘制控制限统计过程控制——SPC17-1118.描点,连线9.分析控制图有无异常10.无异常时计算平均偏差11.计算制程能力CPK12有异常时计算标准差(X-S图)13计算制程能力PPK统计过程控制——SPC18-111控制图应用步骤（控制）1.按控制计划要求确定参数，频率子组容量；2.根据分析结果确定刻度、控制限；3.画出控制图初表；4.抽样、检测、记录、描点；5.分析有无异常；6.针对异常采取措施。统计过程控制——SPC19-111三、均值和标准差图统计过程控制——SPC20-111A.收集数据如果原始数据量大，常将他们记录在单独的数据表上，只有每组的X和S出现在图上；利用下列公式之一计算每个子组的标准差：式中：Xi、X和n分别代表子组的单值，均值和样本容量。注：如果按一般计算写法不要对X值进行圆整。__S2（Xi-X）n-12222121nXXXnXSn22iX-nX……n-1统计过程控制——SPC21-111常数表XSn2345678910B43.272.572.272.091.971.881.821.761.72B30.030.120.190.240.28A32.661.951.631.431.291.181.101.030.98统计过程控制——SPC22-111控制图控制限为X3XAS统计过程控制——SPC23-111S控制图上限下限4SUCLBS3SLCLBS统计过程控制——SPC24-111常数表XSn2345678910C40.7980.8860.9210.9400.9520.9590.9650.9690.973统计过程控制——SPC25-111标准偏差计算s4/sSC统计过程控制——SPC26-111过程能力指数计算（二）设备能力指数过程能力指数或中较小值式中Pa与Ca相似66pssTUCLLCLP3pksUCLXP3sXLCL(1)pkapPPP统计过程控制——SPC27-111Cpk和Ppk的使用选择Cpk仅用于统计稳定的过程统计过程控制——SPC28-111四、中位数图统计过程控制——SPC29-111中位数图用可代替图用于测量的数据过程控制，尽管中位数在统计意义上不如均值那样理想，但中位数可产生相同的结论并具有如下优点：中位数易于使用，并不要求很多计算。这样可以使车间工人易于接受控制图方法。由于描的是单值的点（以及中位数），中位数图可显示过程输出的分布宽度并且给出过程变差的趋势。由于一张图上可显示位数及分布宽度，所以它可用来对几个过程的输出或同一过程的不同阶段的输出进行比较。XR统计过程控制——SPC30-111中位数图（图）易于计算，车间工人可接受小组容量一般为奇数小组容量为偶数时，计算中间两数平均值小组容量一般≤10一般用做控制，较少用于分析XR统计过程控制——SPC31-111使用步骤选定控制参数确定抽样频率确定小组容量（一般奇数）抽样、检测、描图计算控制线控制过程分析（异常发现）过程能力分析统计过程控制——SPC32-111五、单值和移动极差图统计过程控制——SPC33-111单值控制在检查过程变化时不如X-R图敏感；如果过程的分布不是对称的，则在解释单值控制图时要非常小心；单值控制图不能区分过程的零件间重复性，因此，在很多情况下，最好还是使用常规的子组样本容量较小（2到4）的X-R控制图，尽管在子组间都要求较长的时间；由于每一子组仅有一个单值，X和值会有较大的变异性，（即使过程是稳定的）直到子组数达到100以上为止。统计过程控制——SPC34-111单值和移动极差图（X-MR图）一般用于流程性材料子组数一般100结果才可靠可按子组取样时，尽量少用统计过程控制——SPC35-111使用步骤选择控制参数及取样点确定频率，最好为100点以上确定移动组容量，一般为2；少量用3，4……取样、检测、描图计算和分析注意：极差数比单位读数少统计过程控制——SPC36-111计算控制限均值极差过程能力平均偏差d2与均值极差图相同2XER43UCLDRLCLDR2/Rd统计过程控制——SPC37-111n23456D43.272.572.282.112.00D300000E22.661.771.461.291.18统计过程控制——SPC38-111图示XMR统计过程控制——SPC39-111六、计数型数据控制图统计过程控制——SPC40-111计数型数据控制图不合格品率的P图不合格品数的nP图不合格数的C图（相同容量）单位不合格数的u图统计过程控制——SPC41-111不合格品率的P图小组容量u50~250能出现几个不合格品频率小组数25适用于关心不合格品率的过程统计过程控制——SPC42-111时间5.15.25.3样本500500500不合格品数121513率2.43.02.6统计过程控制——SPC43-111计算控制限(1)/3PPnPiiiiinpnpPnn统计过程控制——SPC44-111注意：n变化≤25%以均值计算当n变化25%时单独计算，控制限变为阶梯线分析同前控制限统计过程控制——SPC45-111不合格品数的np图样本容量相等与p图相似适用于关心不合格品数的过程统计过程控制——SPC46-111计算控制限3(1)inPnPKnPnPP注：np是一个整体符号统计过程控制——SPC47-111不合格数C图样本恒定每个产品可以有几个不合格统计过程控制——SPC48-111控制限计算3CiCKCC统计过程控制——SPC49-111单位不合格数的u图与C图相似样本可以不相同统计过程控制——SPC50-111控制限计算3iiCUnUUn统计过程控制——SPC