射频微波器件测试解决方案

整理文档很辛苦,赏杯茶钱您下走!

免费阅读已结束,点击下载阅读编辑剩下 ...

阅读已结束,您可以下载文档离线阅读编辑

资源描述

Agilent射频与微波器件测试解决方案AgilentMeasurementForum议程射频微波器件及测试技术发展Agilent网络仪产品:PNA-X,E5061B频率源测试技术微波器件的系统级参数测试热点技术问题的解决方案有源电路非线性参数测试和建模分析脉冲器件测试混频器测试噪声系数测试太赫兹测试AgilentMeasurementForum电子系统对微波电路的要求雷达系统卫星系统军用通信系统•宽频段•高功率•低噪声•线性好•高效率•低成本AgilentMeasurementForum微波半导体器件技术的发展AgilentMeasurementForum射频多芯片封装技术SIPAgilentMeasurementForum系统中的射频微波器件MixerTestSingleConnection:Gaincompression,IMD,noisefigure,harmonics,truedifferential,PAE,hotS22AmplifierTestT/RModuleTestPulsedRFandDCOnwaferOSC&PLLAgilentMeasurementForum射频微波器件测试要求器件线性特性测试S参数,增益,反射,相位非线性,群时延,隔离度等器件非线性特性测试增益压缩,交调,谐波,杂散变频器件和通道测试变频增益,相位,群时延,模块一致性测试幅度一致性,相位一致性噪声特性测试相位噪声,噪声系数器件功率特性测试峰值功率,脉内功率,平均功率,功率下降复杂激励下器件和通道特性测试线性调制线性度,干扰测试,临道功率比测试脉冲特性测试脉冲边沿,过冲AgilentMeasurementForum微波电路测试的挑战测试应用对测试仪表的要求功率放大器测试•仪表提供满足要求的大功率激励信号。•仪表对大功率的承载能力,大功率状态仪表的校准问题和被测件参数测试。•热状态下S22参数测试。•非线性参数的建模和非线性参数的测试低噪声放大器•完整的性能参数测试,包含传输反射参数,非线性参数,噪声系数。•小功率激励状态下仪表的测试精度•小噪声系数的精确测试,噪声参数的建模混频器测试•混频器完整传输反射参数测试,混频器传输相位参数测试•混频器各种工作模式下参数的测试(固定中频,固定本振等)•混频器本振信号的提供T/R组件测试•脉冲的测试应用,脉冲状态下扫频合时域参数的测试。仪表满足各种脉冲宽度的测试要求。•脉冲状态下仪表的测试精度,特别是相位参数测试精度。•T/R组件增益参数大动态范围可控,需要仪表在具备相应的测试动态范围。•仪表的测试速度。平衡器件测试•完整的差分和共模混合S参数测试•真实的差分激励状态的参数测试•功率扫描模式下参数测试AgilentMeasurementForum器件测试新思路–单次连接多参数测量SCMMGain,match,isolationPulsed-RFIMD,harmonics,spurs不仅仅是VNA,还是可内部和路的双源矢量噪声系数分析脉冲调制器和发生器频谱仪非线性分析•节省时间,资金,尺寸,维修成本•改善精度,速度,指标AgilentMeasurementForumPage10WelcometothePNA-XJanuary2009关键模块微波特性测试系统N8241A1GHzE8267DVectorPSGSourceNPR/复杂信号激励80MHzor1GHzBWOptions校准标准N5242/4APNA-X单音或双音CW测试,脉冲测试噪声测试,NVNAN9030APXA频谱分析&NPR测试解调分析Scopes/Digitizers/VSASoftware外部源和信号分析仪连接网络仪后背板连接点,所有测试使用同一个测试通路PowerSensor,E-Cal,NoiseSourceE5052B信号源分析仪AgilentMeasurementForumAgilent网络仪覆盖广阔的测试应用:Gaincompression,IMD,noisefigure,harmonics,truedifferential,PAE,hotS22MixerTestAmplifierTestPulsedRFandDCScanningMicroscopeMaterialsMeasurementsSignalIntegrityNVNAComponentcharacterizationX-parameterextractionPulseenvelopedomainPNA-X13.5GHz43.5GHz50GHz26.5GHzAgilentMeasurementForumAgilentPNA-X微波高性能网络分析仪•Agilent新的微波网络仪平台。•针对射频微波器件测试的应用。满足对放大器,混频器,多通道器件,脉冲器件,差分器件等微波射频器件测试要求。•完整的激励源配置方式:双源配置,单音激励,双音激励,扫频双音激励,连续波形式或脉冲调制形式•测试功能完整(线性参数,非线性参数和噪声参数)。•频率范围:N5241/2/4/5A:10MHz~13.5G/26.5G/43.5G/50GHz•端口数量:2端口或4端口配置•先进的接收机处理技术,仪表大测试动态范围,高测试精度。•灵活的配置方式。•大屏幕显示,方便简单的操作使用。内置双激励信号源AgilentMeasurementForumPNA-X完整的测试能力AgilentMeasurementForum扫频状态下增益,驻波性能测试扫功率状态下1dB压缩性能测试内置双源激励状态下交调性能测试扫频状态噪声系数测试脉冲状态时域测试单次连接实现完整的参数测试AgilentMeasurementForum噪声源用于噪声测试校准RFjumpersReceiversMechanicalswitchCR3Testport1R1Testport4R4ADrearpanelPulsegenerators1234Source1OUT1OUT2PulsemodulatorSource2OUT1OUT2PulsemodulatorTestport2R2BNoisereceivers10MHz-3GHz3-26.5GHzToreceiversLO+28VTestport3Signalcombiner+-电子校准件用于噪声测试中的阻抗调谐J9J10J11J8J7J2J1J4J3•激励和接收机的闭环测试系统,同频和频率偏置工作模式•为被测件提供单音,双音,噪声等激励信号•激励信号时域连续和脉冲调制信号形式•激励源和接收机功率参数控制PNA-X网络仪的完整配置AgilentMeasurementForumPNA-X网络仪技术特点可配置为双激励源结构灵活的测试装置配置方式•内部包含信号开关和合路等电路•通过机械开关配置测试信号•开放的激励源合接收机接口,•可通过外置放大器或衰减器扩展测试功率范围。源的技术性能•高功率输出(~+13dBm)•频谱纯度高(谐波抑制-55dBc)•大功率扫描范围(50dB)脉冲调制能力•内置脉冲调制器和脉冲发生器接收机技术•大动态范围,内置接收机衰减器,0.1dB压缩点12dBm•宽接收带宽,IFBW最大5MHz•接收机和激励源的灵活频率关系配置Source2OUT1OUT2Source1OUT1OUT2AgilentMeasurementForumPNA-X网络仪的激励源功率性能PNA-X提供大功率激励信号•满足有源电路测试要求•提高仪表测试动态范围支持外置推动放大器扩展激励功率•提供外置推动放大器接入通道•支持功率校准消除外置放大器误差,保证激励信号功率精度测试频率:20GHz,输出功率13dBm最大输出功率最小输出功率:-95dBmAgilentMeasurementForumPNA-X网络仪的激励源频谱性能激励信号频谱纯度高,杂波和谐波抑制性能高•保证网络仪测试精度•保证对混频器件测试结果的准确•保证放大器交调性能测试的正确测试频率:10GHz,谐波抑制65dB测试频率:10GHz,双源激励带外抑制85dBAgilentMeasurementForumPNA-X网络仪的接收机性能•接收机灵敏度性能保证测试仪表的动态范围和测试精度。•接收机动态范围保证仪表测试动态范围和大功率器件测试能力。接收机功率压缩点接收机灵敏度AgilentMeasurementForum基于PNA-X的器件测试平台Testport3CR3Testport1R1Testport4R4Testport2R2ADBToreceiversLOPulsegeneratorsrearpanel1234Source1OUT1OUT2PulsemodulatorSource2(standard)OUT1OUT2PulsemodulatorJ9J10J11J8J7J2J1J4J3被测件AgilentMeasurementForumPage21E5061B-3L5LF-RF网络分析仪ENA系列“5Hz到3GHz网络分析仪”新产品3GHz5Hz20GHz300kHz9kHzE5061/62AE5071CE5061B-3L5E5061B-3L5,5Hz到3GHzE5071C,9/100kHz到4.5/6.5/8.5GHz,300kHz到14/20GHzE5061A/62A300kHz到1.5/3GHz新产品从2009年10月开始安捷伦科技推向市场的新的ENA系列产品2端口和4端口两种配置混频器测量夹具仿真、嵌入/去嵌入放大器测量,等等2端口配置,外加增益-相位测试端口(1兆欧/50欧姆)内置直流偏置源2端口配置(TR和S参数测试)50欧姆和75欧姆测试低成本AgilentMeasurementForumPage22MPUMCUDC-DC(POL/VRM)S参数测试从几兆赫兹到数千兆赫兹环路增益测试毫欧级阻抗值和S21测试从接近直流频率到数千兆赫兹频率响应和阻抗测试从100kHz到MHz范围DC-DC变换器无线通信接口(Zigbee,蓝牙,HF/UHFRFID等)低速/中速数据总线(CAN,FlexRay等)T收发信机振荡器电路频率响应测试CMRR,和PSRR从接近直流频率到100MHzPDNs(电路板供电网络)低频放大器频率响应(环路增益)数MHz测试范围收发信机传感器信号广泛的应用范围(汽车电子,医疗设备,航空航天和防务电子)在低频频段具有高的动态范围需要提供直流偏置的测试环境极为出色的RF测试性能测试频率从5Hz到3GHz使用E5061B可以方便地对频率范围从接近直流到数千兆的各种器件和电路进行测试精确的测试精度有效地提高电子设备的可靠性!在数兆赫兹范围内都有很高的动态范围滤波器天线在电子设备中,从低频到射频需要进行测试的器件、电路A/D在低频范围内也有很高的动态范围一次扫描就可以覆盖5Hz到3GHz的范围AgilentMeasurementForum频率源器件的发展状态表面贴装的恒温晶振和温补晶振良好的相位噪声频率覆盖至射频集成的锁相环及VCO电路采用小数分频的单片锁相环芯片双锁相环单片芯片可工作到6G频段的集成VCO单片PLL覆盖到6GHz频率范围14BitDAC,400MHz采样时钟10BitDAC,1GHz采样时钟多片DDS的时间同步控制内置的高速DAC输出信号杂波抑制80dBc压控振荡器AgilentMeasurementForumE5052B主要性能DC至7GHz、26.5GHz频率覆盖,可扩展至微波频段完整的测试分析能力功率参数,频率参数相位噪声频谱杂散频率/相位跳变过程调幅噪声测试基带信号分析最高的相位噪声测试性能和灵活性自相关相位噪声测试技术系统噪底:-178dBc/Hz测试速度快:,10nsec采样间隔高性能本振信号源

1 / 69
下载文档,编辑使用

©2015-2020 m.777doc.com 三七文档.

备案号:鲁ICP备2024069028号-1 客服联系 QQ:2149211541

×
保存成功