实验一----γ能谱测量

实验一γ能谱测量一．实验目的1．了解闪烁探测器的结构、原理。2．掌握NaI(Tl)单晶γ闪烁谱仪的几个性能指标和测试方法。3．了解核电子学仪器的数据采集、记录方法和数据处理原理。二．实验内容1．学会NaI(Tl)单晶γ闪烁谱仪整套装置的操作、调整和使用，调试一台谱仪至正常工作状态。2．测量137Cs、60Co的γ能谱，求出能量分辨率、峰康比、线性等各项指标，并分析谱形。3．数据处理（包括对谱形进行光滑、寻峰，曲线拟合等）。三．原理1．NaI(Tl)闪烁探测器①概述核辐射与某些物质相互作用会使其电离、激发而发射荧光，闪烁探测器就是利用这一特性来工作的。下图是闪烁探测器组成的示意图。首先简要介绍一下闪烁探测器的基本组成部分和工作过程。闪烁探测器有闪烁体、光电倍增管和相应的电子仪器三个主要部分组成。上图中探测器最前端是一个对射线灵敏并能产生闪烁光的闪烁体，当射线(如γ、)进入闪烁体时，在某一地点产生次级电子，它使闪烁体分子电离和激发，退激时发出大量光子(一般光谱范围从可见光到紫外光，并且光子向四面八方发射出去)。在闪烁体周围包以反射物质，使光子集中向光电倍增管方向射出去。光电倍增管是一个电真空器件，由光阴极、若干个打拿极和阳极组成；通过高压电源和分压电阻使阳极、各打拿极和阴极间建立从高到低的电位分布。当闪烁光子入射到光阴极上，由于光电效应就会产生光电子，这些光电子受极间电场加速和聚焦，在各级打拿极上发生倍增(一个光电子最终可产生104~109个电子)，最后被阳级收集。大量电子会在阳极负载上建立起电信号，通常为电流脉冲或电压脉冲，然后通过起阻抗匹配作用的射极跟随器，由电缆将信号传输到电子学仪器中去。实用时常将闪烁体、光电倍增管、分压器及射极跟随器都安装在一个暗盒中，统称探头；探头中有时在光电倍增管周围包以起磁屏蔽作用的坡莫合金(如本实验装置)，以减弱环境中磁场的影响；电子仪器的组成单元则根据闪烁探测器的用途而异，常用的有高、低压电源，线性放大器，单道或多道脉冲分析器等。归结起来，闪烁探测器的工作可分为五个相互联系的过程：1）射线进入闪烁体，与之发生相互作用，闪烁体吸收带电粒子能量而使原子、分子电离和激发；2）受激原子、分子退激时发射荧光光子；3）利用反射物和光导将闪烁光子尽可能多地收集到光电倍增管的光阴极上，由于光电效应，光子在光阴极上击出光电子；4）光电子在光电倍增管中倍增，数量由一个增加到104~109个，电子流在阳极负载上产生电信号；5）此信号由电子仪器记录和分析。②NaI(Tl)单晶γ闪烁谱仪的主要指标：1）能量分辨率：由于单能带电粒子在闪烁体内损失能量引起的闪烁发光所放出的荧光光子数有统计涨落；一定数量的荧光光子打在光电倍增管光阴极上产生的光电子数目有统计涨落。这就使同一能量的粒子产生的脉冲幅度不是同一大小而近似为高斯分布。能量分辨率的定义是：%100（1—1）由于脉冲幅度与能量有线性关系,并且脉冲幅度与多道道数成正比，故又可以写为%100CHCH（1—2）ΔCH为记数率极大值一半处的宽度（或称半宽度），记作FWHM（FullWidthathalfmaximum）。CH为记数率极大处的脉冲幅度。显然谱仪能量分辨率的数值越小，仪器分辨不同的能量的本领就越高。而且可以证明能量分辨率和入射粒子能量有关。%1001（1—3）通常NaI(Tl)单晶γ闪烁谱仪的能量分辨率以137CS的0.661MeV单能Υ射线为标准，它的值一般是10%左右，最好可达6~7%。2）线性能量的线性就是指输出的脉冲幅度与带电粒子的能量是否有线性关系，以及线性范围的大小。NaI(Tl)单晶的荧光输出在150KevEΥ6MeV的范围内和射线能量是成正比的。但是NaI(Tl)单晶γ闪烁谱仪的线性好坏还取决于闪烁谱仪的工作状况。例如当射线能量较高时，由于光电倍增管后几个联极的空间电荷影响，会使线性变坏。又如脉冲放大器线性不好等等。为了检查谱仪的线性，必须用一组已知能量的γ射线，在相同的实验条件下，分别测出它们的光电峰位，作出能量—幅度曲线，称为能量刻度曲线（或能量校正曲线），如右图所示。用最小二乘法进行线性回归，线性度一般在0.99以上。对于未知能量的放射源，由谱仪测出脉冲幅度后，利用这种曲线就可以求出射线的能量。3）谱仪的稳定性：谱仪的能量分辨率，线性的正常与否与谱仪的稳定性有关。因此在测量过程中，要求谱仪始终能正常的工作，如高压电源，放大器的放大倍数，和单道脉冲分析器的甑别阈和道宽。如果谱仪不稳定则会使光电峰的位置变化或峰形畸变。在测量过程中经常要对137Cs的峰位，以验证测量数据的可靠性。为避免电子仪器随温度变化的影响，在测量前仪器必须预热半小时。2．单道脉冲幅度分析器和多道脉冲幅度分析器的工作原理单道脉冲幅度分析器（简称“单道”）是分析射线能谱的一种仪器。所谓射线的能谱，是指各种不同能量粒子的相对强度分布；把它画到以能量E为横坐标，单位时间内测到的射线粒子数为纵坐标的图上是一条曲线。根据这条曲线，我们可以清楚地看到此种射线中各种能量的粒子所占的百分比。这一任务可以用单道或多道脉冲幅度分析器来完成。那么，单道是如何测出能谱的？我们知道闪烁探测器知道可以将入射粒子的能量转换为电压脉冲信号，而信号幅度的大小与入射粒子的能量成正比。因此只要测到不同幅度的脉冲数目，也就相应得到了不同能量的粒子数目。由于γ射线与物质相互作用的机制有所差异，从探测器出来的脉冲幅度有大有小，单道就起到从中“数出”某一幅度脉冲幅度的作用。单道里有一个甄别电压V0（此电压可以连续调节），它就象一道屏障一样，将所有低于V0的信号都挡住了，只有大于V0的信号才能通过。但这样只解决了一半问题，因为在通过的信号中实验者只知道它们都比V0高，具体的幅度还是不能确定。因此在单道中还有一个阈（或称窗宽）V，使幅度大于V0+V的脉冲亦被挡住，只让幅度为VVV00~的信号通过（有的单道是2/~2/00VVVV）；当我们把V取得很小时，所通过的脉冲数目就可以看成是幅度为V0的脉冲数目。简单地说，单道脉冲分析器的功能是把线性脉冲放大器的输出脉冲按高度分类：若线性脉冲放大器的输出是0~10V，如果把它按脉冲高度分成500级，或称为500道，则每道宽度为0.02V，也就是输出脉冲的高度按0.02V的级差来分类。在实际测量能谱时，我们保持道宽V不变（道宽的选择必须恰当，过大会使谱畸变，分辨率变坏，能谱曲线上实验点过少；道宽过小则使每道的计数减小，统计涨落增大，或者使测量时间相应增加），逐点增加V0，这样就可以测出整个谱形。上面所描述的情况可以称之为单道工作在微分状态下；当单道工作在积分状态下时，只要脉冲高度大于阈值电压单道就输出一个脉冲，即记录大于某一高度的所有脉冲数目。单道是逐点改变甄别电压进行计数，测量不太方便而且费时，因而在本实验装置中采用了多道脉冲分析器。多道脉冲分析器的作用相当于数百个单道分析器与定标器，它主要由0~10V的A/D转换器和存储器组成，脉冲经过A/D转换器后即按高度大小转换成与脉高成正比的数字输出，因此可以同时对不同幅度的脉冲进行计数，一次测量可得到整个能谱曲线，既可靠方便又省时。3．γ全能谱图分析当核辐射的能量全部耗尽在闪烁体内时，探测器输出脉冲幅度与入射粒子能量成正比，因此可以根据对脉冲幅度谱的分析来测定核粒子的能谱。在工业、医学的应用领域及核物理实验中，NaI(Tl)单晶γ能谱仪有相当广泛的用途。NaI(Tl)单晶γ能谱仪由以下单元组成：闪烁探头(包括NaI(Tl)晶体和光电倍增管)，高压电源，线性放大器，脉冲幅度分析器(分为单道分析器和多道分析器)。①响应问题下面介绍NaI(Tl)闪烁γ射线能谱仪对137Cs的单能γ射线(Eγ=0.662MeV)的响应问题，即对测得的脉冲幅度谱的形状进行分析。γ射线与物质相互作用时可能产生三种效应：光电效应、康普顿效应和电子对效应，这三种效应产生的次级电子在NaI(Tl)晶体中产生闪烁发光（详见实验三“γ射线的吸收与物质吸收系数μ的测定”的原理部分）。由于单能γ射线所产生的这三种次级电子能量各不相同，甚至对康普顿效应是连续的，因此相应一种单能γ射线，闪烁探头输出的脉冲幅度谱也是连续的。γ射线与闪烁体发生光电效应时，γ射线产生的光电子动能为：ieBEE（1—4）其中BI为K、L、M等壳层中电子的结合能。在γ射线能区，光电效应主要发生在K壳层，此时K壳层留下的空穴将为外层电子所填补，跃迁时将放出X光子，其能量为Ex。这种X光子在闪烁晶体内很容易再产生一次新的光电效应，将能量又转移给光电子。因此闪烁体得到的能量将是两次光电效应产生的光电子能量和：EEBEExi)(（1—5）所以，由光电效应形成的脉冲幅度就直接代表了γ射线的能量。在康普顿效应中，γ光子把部分能量传递给次级电子，而自身则被散射。反冲电子动能为：)cos1(211EEEe（1—6）散射光子能量可近似写成：)cos1(21EEE（1—7）当=180时，即光子向后散射，称为反散射光子；此时EEEe411max（1—8）；EEE41)180(（1—9）②一个典型的NaI(Tl)谱仪测得的137Cs的γ能谱如图所示，测得的γ能谱有三个峰和一个平台。最右边的峰A称为全能峰，这一脉冲幅度直接反映γ射线的能量即0.662MeV；上面已经分析过，这个峰中包含光电效应及多次效应的贡献，本实验装置的闪烁探测器对0.662MeV的γ射线能量分辨率为7.5%。平台状曲线B是康普顿效应的贡献，其特征是散射光子逃逸后留下一个能量从0到)4/11/(EE的连续的电子谱。峰C是反散射峰。当γ射线射向闪烁体时，总有一部分γ射线没有被闪烁体吸收而逸出，当它与闪烁体周围的物质发生康普顿效应时，反散射光子返回闪烁体，通过光电效应被记录，这就构成反散射峰。可以根据式(3—6)算出MeVEEE184.0)662.041/(662.0)41/()180(。峰D是X射线峰，它是由137Ba的K层特征X射线贡献的。137Cs的衰变体137Ba的0.662MeV激发态在放出内转换电子后造成K空位，外层电子跃迁后产生此X光子。四．实验装置实验器材包括：①γ放射源137Cs和60Co(强度≈1.5微居里)；②200mAl窗NaI(Tl)闪烁探头；③高压电源、放大器、多道脉冲幅度分析器。五．实验步骤1．连接好实验仪器线路，经教师检查同意后接通电源。2．开机预热后，选择合适的工作电压使探头的分辨率和线性都较好。3．把γ放射源137Cs或60Co放在探测器前，调节高压和放大倍数，使60Co能谱的最大脉冲幅度尽量大而又不超过多道脉冲分析器的分析范围。4．分别测137Cs和60Co的全能谱并分析谱形，指明光电峰、康普顿平台和反散射峰。5．利用多道数据处理软件对所测得的谱形进行数据处理，分别进行光滑化、寻峰、半宽度记录、峰面积计算、能量刻度、感兴趣区处理等工作并求出各光电峰的能量分辨率。6．根据实验测的相对于0.661MeV、1.17MeV、1.33MeV的光电峰位置，作E—CH能量刻度曲线（0.184MeV的137Cs反散射峰也可记录在内）。7．对上一步骤所得结果进行最小二乘拟合，求出回归系数，并判断闪烁探测器的线性。8．选取137Cs的0.661MeV光电峰的一段谱形，试根据光滑化和寻峰的基本原理编制程序进行数据处理，对该段谱形光滑若干次后计算峰位。（选做）六．数据处理1．求定标曲线方程EabCH根据最小二乘原理用线性拟合的方法可以得出：])([12iiiiiiiiiECHCHECHa])([1iiiiiiiECHECHnbnCHCHiiii22()详细的推导过程见后面的附录。2．可以采用二次五点法的光滑公式对谱形进行光滑处理，采用逐道比较法求峰位，详细的推导过程亦见后面的附录。七．思考题1．简单描述NaI(Tl)闪烁探测器的工作原