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1建立定量分析方法工作曲线的操作说明软件版本：SpectraEDXV2.12007年11月28日21、双击SpectraEDXLauncher。2、如果没有登录过，会弹出如图的窗口。3、点击OK。31、输入用户名和密码：不同的用户级别有不同的用户名和密码。最高级别的用户是“管理员Administrators”。用户名：admin密码：pass2、点击Tools中的S2Browser可以搜索仪器，建立计算机与仪器的连接。41、点击Browse搜索仪器。2、选中仪器，将仪器内部的硬盘映射为外部计算机的盘，如Y盘。映射时要求输入：用户名：s2密码：s23、点击Connect连接。5下面介绍建立定量分析方法，即建立工作曲线的操作步骤。点击Launcher上的Application，建立工作曲线。1、屏幕的左边是建立工作曲线的向导；右边是具体的要求。2、建立工作曲线，主要有4个步骤：A、定义分析方法；包括分析方法的名称，要分析的成分，已有的标准样品的名称及含量。B、定义制样方法C、测量；包括三个部分：定义测量方法（定义测量的Regions，及每个Region的测量条件和测量时间。）；根据已定义的测量条件和测量时间测量每个标准样品，将信号强度采集下来。选择每条谱线的条件（信号范围）；D、绘制工作曲线6定义分析方法1、定义材料组（Materialgroups）的名称，相当于定义一个目录。2、定义材料（Materials）的名称，即分析方法的名称。注意：新建的分析方法，不能建在下列材料组内：Addiitve，Contamination，Foils。定义显示的栏目新建删除7ElementsOriented1、定义要分析的成分，所定义的成分以元素或氧化物存在。注意：1、X射线荧光光谱只能分析元素的含量，不能确定是以元素还是以氧化物存在。2、定义元素或氧化物，是以元素或氧化物来计。其目的有2个：A、输出格式的需要；B、将样品中主量成分定义清楚，有助于在绘制工作曲线时采用理论α系数校正元素间的影响。8CompoundOriented1、定义以其它形式存在的特殊化合物。可以对成分排序9StandardMaterials定义标准样品1、定义标准样品的名称。2、输入标准样品中各成分的含量。3、定义所输入含量的单位、小数位数。4、有些不测的成分可以定义为余量。如钢铁样品中的Fe，铝合金中的Al，水溶液中的H2O。注意：输入含量时，请用Tab键。1、输入标准样品的名称2、输入标准样品中各成分的含量3、打右键，定义所输入含量的单位、小数位数，或定义为余量10痕量，对于含量不知道的并且含量很小的，可以单定义为痕量标记为不准确的含量，如某些成分的含量已知但结果不确定。定义单位定义小数位数定义为余量11Preparation定义制样方法1、选择已有的制样方法名称，或定义新的制样方法名称。（每个分析方法都必须有与之相对应的制样方法名称）。2、选择制样方法。注意：如果选择已有的制样方法名称，不能对该制样方法的参数进行修改。1、选择已有的制样方法名称，或定义新的制样方法名称2、选择制样方法：1、Solid：固体原样。2、FusedBead：熔融制样。3、PressedPellet：压片制样。4、LoosePowder：粉末。5、Liquid：液体（原液）。6、Solution：溶液121、选择添加物（Addition）。如：压片制样时的粘结剂；熔融制样的熔剂；溶液的溶剂，如水。注意：定义添加物的目的是将样片中的成分定义清楚，不光样品中的成分，也包括加入的添加物，因为添加物的成分也会影响测量元素的结果。2、定义制样时样品和添加物的量。注：几种常用的添加物：Lithiumtetraborate：四硼酸锂Lithiummetaborate：偏硼酸锂StearicAcid：硬脂酸2、定义制样时样品和添加物的量。1、选择添加物（Addition）131、点击“Next”，会弹出一个窗口要求保存制样方法。2、保存完毕，会弹出另外一个警告窗口。当前的制样方法已被修改，采用这个制样方法的标准样片也可以被自动更新。警告：更新后，标准样片的一些特定参数会被破坏。你是否决定更新标准样片？14Size样片尺寸1、定义样片的尺寸，目的是定义样片的厚度，如果样片是足够厚的，可以随意定义。如果样片的厚度没达到无限厚，要仔细定义样片的厚度。定义样片的直径和重量。软件会自动计算样片的厚度，校正样片不够厚所带来的影响。15Contamination污染1、定义样品在制样过程中带入的污染。注意：在绝大多数情况下，可以跳过这项。16Foil膜1、定义液体杯的膜的材质、厚度、密度。仅在使用液体杯（如粉末样品、液体样品分析时）时需要定义。注：1、Mylar膜的厚度通常有2种：6um和2.5um。密度为1.4g/cm3。2、Prolene膜的厚度一般为4um，密度为0.9g/cm3。材质为聚丙烯（Polypropylene）。1、选择膜的材质：Mylar：麦拉膜，聚酯膜。Polycarbonate：聚碳酸酯Polypropylene：聚丙稀17StandardSamples标准样片在SpectraEDX软件中，将“标准样品（standardmaterial）＋制样方法”，定义为标准样片（StandardSamples）,即经过制样的标准样品。1、点击“AutomaticallycreateallStandardSamples”，产生所有的标准样片。2、可以对每个标准样片的制样参数进行修改，如样品和熔剂的重量。1、点击“AutomaticallycreateallStandardSamples”，产生所有的标准样片2、可以对每个标准样片的制样参数进行修改，如样品和熔剂的重量18Measurement测量MeasurementMethod测量方法1、首先产生测量方法，点击“Createnewmethod”，软件会自动去调用“MeasurementMethods”程序，产生一个后缀为（*.s2m）的测量方法文件。2、点击“Createnewmethod”后会出现“Editexistingmethod”，点击可以编辑测量方法。点击“Createnewmethod”，软件会自动去调用“MeasurementMethods”程序，产生一个后缀为（*.s2m）的测量方法文件。19MeasurementMethod，测量方法Parameters，光谱仪参数1、选择气氛条件（Atmosphericconditions）。注意：测量液体样品或粉末样品时，一定要选择基本氦气模式（BasicHelium）或辅助氦气模式（AssistedHelium）。“BasicHelium”模式适合分析挥发较慢的样品，如水溶液，“AssistedHelium”模式适合挥发较快的样品。“BasicHelium”模式的氦气消耗量小。固体样品选择真空气氛（Vacuum）20到“MeasurementRegions”，选择Region（范围）进行编辑，如改变测量时间。21回到建立工作曲线的界面。点击“Next”，点击“Launch”进入“MeasurementStandards”（测量标准样品）界面。先测量铜片校正仪器，然后测量所有的标准样片。22回到建立工作曲线的界面。点击“Next”，点击“Launch”进入“LineParameters”（谱线参数）界面1、选择分析谱线2、定义分析谱线的能量范围，即在“Peakevaluation”中选择谱线信号的采集方式：A、Maximumheight：采集最高峰的信号。B、FixedRangeIntergration:选择能量范围进行积分。通常选用这种方式来采集信号。3、对所有分析谱线进行定义。23回到建立工作权限界面，点击“Next”，进入到“EvaluationModel”（评估模式）。点击“Create”，产生一个默认的评估模式文件。1、点击“Create”2、软件提示，将产生一个默认的评估模式文件，点击“OK”24点击“Next”，进入到“ResultsFormatting”（结果输出格式）。点击“Create”后会产生一个默认的结果输出格式，这个格式和前面输入标准样品成分的含量时的格式一致。25点击“Next”，进入“Calibration”（绘制工作曲线，较科学的叫法应为建立校准曲线）在“Calibration”中有3项，第一项“CalibrationMethod”（校准方法），一般不需要做修改，只需检查一下分析方法和制样方法的名称是否对。第二项“StandardSamples”的左边列出了标准样品。列出了准备参与建立工作曲线的标准样品。可以去掉左边的√，让其不参与建立工作曲线。表示标准样品的状态，“Exist”表示已经存在。如果为“Missing”，表示标准样品的测量结果文件不存在。列出了所有的标准样品。如工作曲线建立后，如果又加入了新的标准样品，这个标准样品会列在这个表格中。将下面表中的标准样品引入到上面的表中。26点击“Next”，进入到“ComputeCoefficients”（计算系数），计算工作曲线的斜率、截距、元素间的校正系数、谱线重叠系数等。这步是真正的画工作曲线。CalibrationToolbos，校准工具箱以图形格式显示工作曲线。以表格形式显示工作曲线工作曲线的小结271、点击“CalibrationToolbox”（校准工具箱）中“C”，将“E”改为“C”“E”代表以标准样片中某个元素的含量来表示，不是真正标准样品中的含量。“C”代表以标准样品中某个化合物的含量来表示。2、点击“Offset”（截距）下面的“Active”（激活）按钮，计算这条工作曲线的截距。1、点击“CalibrationToolbox”（校准工具箱）中“C”，将“E”改为“C”。2、点击“Offset”（截距）下面的“Active”（激活），计算这条工作曲线的截距。28以图形格式显示工作曲线。找出明显偏离工作曲线的点，找到偏离的原因，左键双击将该点变成红色，不参与工作曲线的回归。注意：不能随意去掉点，去掉某一点，必须要有理由。点击“FittoCurrentPoints”，可以让工作曲线图形适合这个画面。29以表格形式显示工作曲线点击“AbsoluteDeviation”（绝对偏差），按偏差大小排序，观察绝对偏差有无超过允许的分析误差，如有，找出原因。测量的强度值化学浓度值（标称值）XRF拟合出来的值化学值和XRF值的绝对偏差化学值和XRF值的相对偏差检出下限点击“Disable”，可以“DisableallstandardswithTrace”，让所有含量为“Trace”的点不参与回归。30ShowOverlaps谱线重叠注：如何判断谱线重叠？A、软件会提示可能的重叠谱线，如左图，列出了Fe的可能重叠谱线。通常我们根据在做分析谱线的条件优化试验时看到的谱线重叠为准，可以将没观察到的重叠谱线去掉。B、可以设置谱线重叠的判断依据，根据判断依据，软件提供可能的重叠谱线。注：如何进行谱线重叠校正？A、谱线重叠校正的公式β：谱线重叠系数Ik：参与谱线重叠校正的项B、首先选择重叠的谱线，然后选择参与谱线重叠校正的项，这个项有3种选项：1、Meas.，因为重叠的谱线不一定是去掉重叠谱线。谱线重叠的判断依据。31测量的谱线，但重叠的谱线与测量的谱线会有一定的关系，因此可以选用测量的谱线参与谱线重叠校正。2、Calc.，计算的重叠谱线的理论强度，如果样品中95%以上的含量都知道，可以计算出重叠谱线的理论强度。3、Conc.，重叠元素的含量。C、选择了参与谱线重叠校正的项后，软件会自动计算谱线重叠系数注意：计算谱线重叠系数是采用数学回归方法，因此计算一个谱线重叠系数，需要有3个以上的标样做支撑。1、选择重叠的谱线。2、选择参与谱线重叠校正的项。1、选择重叠的谱线。2、选择参与谱线重叠校正的项。谱线重叠系数32通常情况下，我们不用内标（InternalStandard）方法校正基体效应。因此跳过内标校正。下面进入到α系