如何制作标准的ICT测试程序

如何制作标准的ICT测试程序来源：作者：赐鸿科技热度：836日期:11-08-05,07:17PM注意事項:一.一般情况下不允許修改R的標准值（电阻并联电阻除外）二.修改程式的上下范圍必須按以下的標准执行.ü跳線﹑Connecter﹑Fuse﹑電感﹑排感﹕以J測試﹐Exp-V用1表示﹐+-10%﹐MODE為0﹐無Guarding，无Offset。跳線﹕當Pin-Pin間有跳帽時﹐Exp-V用1表示﹐否則Pin-Pin間測試Exp-V采用4表示。開關探針﹕以J測試﹐Exp-V用1表示+-10%﹐MODE為0ü電阻﹑排阻﹕1﹑0Ω﹕按3Ω為標准﹐+10%﹐-1%﹔或按J測試﹐MODE為1﹐無Offset﹐+-10%2﹑2.2Ω:+60%﹐-30%﹐一般不采用MODE3﹐無Guarding3﹑4.7Ω:+40%﹐-20%﹐一般不采用MODE3,無Guarding4﹑10.0Ω﹕+15%﹐-10%﹐一般不采用MODE3﹐可根據各機台稍加Offset5﹑10.0Ω以上﹕+-10%﹐一般不采用MODE3﹐不加Offset6﹑熱敏電阻﹕可適當放寬范圍,一般不采用MODE3﹔7﹑電阻并聯﹐可按并聯值(R1*R2)/(R1+R2)作標准值﹔+-10%一般不采用MODE38﹑NC元件﹕一般50KΩ為標准值﹐+Lim:-1%﹐-Lim﹕10%﹐有并聯除外9﹑并聯IC時﹐100K以上電阻+Lim﹕+10%﹔-Lim﹕可稍放寬10﹑NoPin的電阻可適當考慮用串聯的方式進行測試﹐小電阻并聯大電阻相差20倍時﹐大電阻不予測試﹔11﹑蜂鳴器﹕做電阻測試﹐Exp-V采用44ohm（据实际情况）﹐+-10%﹐無Guarding﹐一般不采用MODE312﹑FET管作電阻測試﹕Mode一定為5﹐+20%﹐-10%﹔也可直接選用Type:QF,Mode:22或2313﹑對測試極不穩定的電阻﹐可按PCA上實際電阻量測值作為Exp-V或根據線路圖分析﹔14﹑BOM-V一律根據BOM進行填寫。15﹑可調電阻﹐以最大值測試﹐+-10%；或取中间值测试，+-50%。ü電容、排容﹕1.10PF或10PF以下電容﹐測試會極不穩定﹐Exp-V可加大到30PF或50PF﹐+50%,-40%,也可依實際情況定Exp-V﹐offset定好后不允許隨意更改﹔具體依DEBUG原則﹔2.10PF以上﹐1nF以下﹐+45%,-35%,offset定好后不允許隨意更改﹔Mode參見Debug原則﹔3.Exp-V﹕1nF~99nF﹐+45%,-35%,Mode參見Debug原則﹔4.Exp-V﹕100nF﹕+70%,-30%﹐無Offset,Mode參見Debug原則﹔5.Exp-V﹕1uF﹕+40%,-30%﹐無Offset,Mode參見Debug原則﹔6.Exp-V﹕10uF以上﹐470uF以下﹐+-30%﹐Mode參見Debug原則﹔7.Exp-V﹕470uF以上﹐+-20%﹐8.并聯電容Exp-V=C1+C2+……+Cn﹐9.NC元件﹕可以不進行測試﹔10.FET管作電容測試﹕Exp-V約2~10nF﹐+20%﹐-15%﹐Exp-V定下后不能隨意更改﹔11.BOM-V一律根據BOM進行填寫﹔NC元件BOM-V為0u﹔12.小電容并大電容﹐相差20倍以上﹐小電容可以不予測試(C1/(C1+C2+…Cn))=5%)。13.微法級電容的電容值小於1000uF，Mode4的測試會比Mode8來得好且速度也較快;14.較大微法級電容值測試不穩時﹐可以加放電﹔15.當規定的Limit與BOM上規定的小時﹐一律依據BOM作為標准。16.电容极性测试：必加三端测试针，MODE8、18。EXP-V：0.2V,G以第三脚为G。17.實際值以5V～10V量測時，標準值之漏電流值約0.2mA～0.5mA，若反插時,其反向漏電流值會遠大於正向漏電流值。高點之腳號即是電容＋端之測試針號碼,而低點之腳號即是電容－端之測試針號碼，通常須加較大的延遲時間，漏電流才會穩定。ü電感﹕除了作J測試外﹐電感主要以L測試﹐+-30%ü二極體﹕1.發光二極管用D作Type﹐Mode用1或24﹐當用24Mode時﹐Exp-V為1.5V不允許交換高低點﹐偏差+-30%（把管子点亮）2.每個二極管分作兩步測試﹕高﹑低點互調測試﹐不允許交換高低點和修改Exp-V,范圍依(1)規定。ü三極管﹕1.以Q測試﹕+-30%﹐具體參考Debug原則﹐不允許交換高低點2.以QH為Type的三端測試﹐+-30%﹐具體參考Debug原則﹐不允許交換高低點3.以上3種方法測試必須同時使用﹔選用Mode時必須參考其實際為PNP還是NPN4.NC時﹐采用Type:QN測試﹐BOM-V﹕0.7V﹐Exp-V為0.7V左右﹐+-30%üFET管﹕1.以QF為Type﹐量測漏電流Ids﹐Bom-V依線路圖提供的電壓供給﹐+-30%﹐不允許交換高低點﹐其GuardingPin為G。2.以QF為Type﹐量測漏電流Vds﹐Bom-V依線路圖提供的電壓供給﹐+30%﹐-1%﹐Exp-V:0.2V,不允許交換高低點﹐其GuardingPin為G。3.還必須同時采用電阻或電容測試﹔不允許交換高低點üClampingDiode1.對GND量測﹐+-30%﹐Mode為2﹐GuardingPin以它本身學到的為准﹐不允許交換高低點﹔2.對VCC量測﹐+-30%﹐Mode為2﹐GuardingPin以它本身學到的為准﹐不允許交換高低點﹔3.測試不穩定時﹐可加放電或4ms以內的延遲或重測。4.當標准樣板測試值小于0.1V時﹐可以0.1V為Exp-V﹐+30%,-1%﹔5.對于較脆弱的ClampingDiode,可根據實際情況決定其是否測試6.如有几種料導致無法測試時﹐可舍測其中一種。üICOpen﹕學習好的ICOPEN接受值﹐其Limit為+80%﹐-40%﹐之中不能加放電﹐單片測試值如與整體統計值偏差較大時﹐應找其他原因﹐不能改動設定值。ü其他﹕A:78L05做三极管测试1#﹔B:加測網卡12﹑13腳對地阻抗﹔C﹕加測PWM測試阻抗﹔üNOTES﹕電阻﹑Connector上的排針﹑感﹑二極管可電測率應盡量保持在100%。