高低温检验测试报告

深圳市晶沛电子有限公司JINPATElectronicsco.,Ltd报告编号:版本：第1页共3页产品高低测试检验报告产品名称：JP01-029-47GJB型号规格：LPT096-0403-1202A检验日期：2013-11-5依据标准：Q/JP-J002A0-2010检验结论：□合格□不合格编制罗敏贤审核批准深圳市晶沛电子有限公司JINPATElectronicsco.,Ltd报告编号:版本：第2页共3页样品信息样品名称：样品编号：样品型号：样品尺寸：样品重量：样品状况：样品图测试信息测试项目：高低温测试测试标准：-55°—+85°测试日期：2013-11-5测试环境：验实室恒温恒湿箱测试设备设备名称设备编号校准有效期1、2、3、测试要求：1、测试总时间24.5H，高温时间12H，低温时间122、测试期间图像清晰、连续；3、动态电阻波动值≤70m欧姆（50RPM）;4、绝缘电阻≥500M欧姆@500VDC；5、耐压强度≥500VDC@50HZ深圳市晶沛电子有限公司JINPATElectronicsco.,Ltd报告编号:版本：第3页共3页测试说明：1、把测试样品置于恒温恒湿箱内，连接好测试仪器。2、运转恒温恒湿箱，测试条件为：温度湿度动态波动值绝缘电阻值耐压强度记录时间记录员-55°0°+45°+85°测试结论：试验中实时监控样品功能测试，符合测试规范要求，判定合格。附录：测试图片参考测试文案：Q/JP-J002AA0-2010